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• 發布了文章 2025-04-01 18:01

  燈具防塵試驗：保障燈具性能與安全的關鍵

  

  在燈具的使用過程中，灰塵接觸是不可避免的現象。灰塵不僅會附著在燈具表面，還可能進入燈具內部，對其正常運行造成潛在威脅。因此，對燈具進行防塵試驗至關重要。防塵試驗能夠有效評估燈具在灰塵環境中的防護能力，從而確保其在實際使用中的安全性和可靠性。燈具防塵試驗的目的燈具防塵試驗的主要目的是確定照明和光信號裝置（封閉式燈除外）的防塵性能。通過模擬實際使用中可能遇到的灰

  燈具 試驗

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• 發布了文章 2025-04-01 18:00

  聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM）的應用領域

  

  聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM）作為一種前沿的微觀分析與加工工具，將聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術深度融合，兼具高分辨率成像和精密微加工能力，廣泛應用于材料科學、電子工業、生命科學及納米技術等領域，成為現代科研與工業不可或缺的重要設備。FIB-SEM其獨特的雙束系統設計，使SEM能夠實時監控FIB操作，實現了高分辨率電子束成像與精細離子

  fib SEM 顯微鏡

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• 發布了文章 2025-03-31 13:56

  最新！歐盟 RoHS 與 REACH 法規解讀

  

  RoHS指令：電子電氣產品的綠色標尺RoHS指令，全稱為《關于限制在電子電器設備中使用某些有害成分的指令》，是歐盟為規范電子電氣產品而設立的重要環保法規。自2006年7月1日起，歐盟市場上的新電子電氣設備被明確禁止使用鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）等六種有害物質。這些物質在電子設備的生產過程中曾被廣泛使用，例如鉛用于鍍鉻、鉻酸

  REACH RoHS 電氣設備

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• 發布了文章 2025-03-31 13:53

  UL阻燃標準常見誤區

  

  UL阻燃標準的復雜性與誤解根源UL阻燃標準作為國際上廣泛使用的材料阻燃性能評估體系，其重要性不言而喻。然而，由于該標準源自美國，其專業術語和復雜的技術細節在翻譯和傳播過程中，容易引發理解上的偏差，每個廠家對“V0”級等關鍵指標有著不同的定義和判定標準。這種混亂的局面，不僅給上游原材料供應商和下游產品制造商帶來了極大的溝通成本和質量把控難題，也使得整個產業鏈在

  UL 阻燃

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• 發布了文章 2025-03-28 12:19

  焊接質量檢測方法

  

  焊接作為一種關鍵的金屬連接工藝，其質量直接決定了產品的整體性能和使用壽命。因此，準確檢測焊接質量對于保障產品安全性和可靠性至關重要。目視檢查目視檢查是焊接質量檢測的第一步，也是最為直觀和簡便的方法。通過肉眼觀察焊縫的外觀特征，可以初步判斷焊接工藝是否符合要求。拉伸試驗拉伸試驗是檢測焊接接頭力學性能的重要方法之一。通過將焊接試樣置于拉伸試驗機中，對其施加拉力，

  焊接 質量檢測

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• 發布了文章 2025-03-28 12:14

  FIB-SEM雙束系統：多領域應用的前沿技術

  

  系統構成與工作原理FIB-SEM雙束系統是一種集微區成像、加工、分析、操縱于一體的綜合型分析與表征設備。其基本構成是將單束聚焦離子束系統與掃描電子顯微鏡（SEM）耦合而成。在常見的雙束設備中，電子束垂直安裝，離子束與電子束成一定夾角安裝，兩者的焦平面交點被稱為共心高度位置。當樣品處于共心高度時，可同時實現電子束成像和離子束加工，并可通過樣品臺的傾轉使樣品表面

  fib SEM 電子束

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• 發布了文章 2025-03-27 10:29

  一文了解材料耐候老化測試

  

  高分子材料老化現象高分子材料在其整個生命周期，包括合成、貯存、加工以及最終應用階段，都面臨著變質的風險，這種變質表現為材料性能的惡化。具體而言，可能出現泛黃、相對分子質量降低、制品表面龜裂、光澤喪失等問題，更為嚴重的是力學性能的大幅下降，如沖擊強度、撓曲強度、拉伸強度和伸長率等，從而影響制品的正常使用，這種現象被稱為塑料的化學老化，簡稱老化。從化學角度來看，

  材料 老化測試

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• 發布了文章 2025-03-27 10:26

  LM-80測試：評估LED燈具的壽命與性能

  

  LM80測試簡介LM80測試是由北美照明工程協會（IESNA）與美國國家標準學會（ANSI）聯合發布的權威標準，主要用于評估LED器件的流明維持率和顏色維持性能。這一標準為LED產品的壽命和性能評估提供了科學且統一的方法，被行業內公認為“黃金標準”。對于LED制造商而言，LM80測試是產品性能的重要證明，也是申請能效認證（如能源之星、中國能效標識）的關鍵環節

  LED燈具 LM80 測試

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• 發布了文章 2025-03-27 10:24

  聚焦離子束技術：原理、特性與應用

  

  聚焦離子束（Focused-Ion-Beam,FIB）技術是一種先進的微納加工與分析手段。其基本原理是通過電場和磁場的作用，將離子束聚焦到亞微米甚至納米級別，并利用偏轉和加速系統控制離子束的掃描運動，實現微納圖形的監測分析以及微納結構的無掩模加工。FIB系統基本組成FIB系統由多個關鍵部分組成，如圖1所示。離子源是系統的核心，通常采用液態金屬離子源，如鎵離子

  fib 離子束

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• 發布了文章 2025-03-26 15:34

  紫外線對產品的影響及紫外老化試驗的重要性

  

  紫外線對產品的危害紫外線，作為電磁波譜中紫光之外的不可見光，其對產品的破壞性不容忽視。在眾多外界因素中，紫外線是導致材料性能劣變的關鍵因素之一。材料或產品在加工、貯存或使用過程中，會受到熱、光、氧、機械應力、臭氧、有害金屬離子、輻射等多種外界因素的影響，從而發生物理或化學變化，逐漸失去使用價值。而紫外線造成的損傷類型多種多樣，包括褪色、光澤消失、粉化、龜裂、

  UV 紫外 紫外線

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