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• 發布了文章 2025-02-24 23:00

  聚焦離子束與掃描電鏡結合：雙束FIB-SEM切片應用

  

  聚焦離子束技術聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術作為一種前沿的納米級加工與分析手段，近年來在眾多領域嶄露頭角。它巧妙地融合了離子束技術與掃描電子顯微鏡（SEM）技術的優勢，憑借其獨特的原理、廣泛的應用場景以及顯著的優勢，成為現代科學研究與工業生產中不可或缺的重要工具。聚焦離子束系統的核心在于其獨特的離子束生成與聚焦機制。該系統以鎵離子

  SEM 掃描電鏡 離子束

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• 發布了文章 2025-02-24 22:57

  氬離子拋光：技術特點與優勢

  

  氬離子拋光技術作為一種前沿的材料表面處理手段，憑借其高效能與精細效果的結合，為眾多領域帶來了突破性的解決方案。它通過低能量離子束對材料表面進行精準加工，不僅能夠快速實現拋光效果，還能在微觀尺度上保留樣品的原始結構和特性。拋光系統核心氬離子拋光系統的核心在于其先進的離子槍設計。該系統配備了兩個低能量聚集能力的離子槍，能夠在極低的能量水平（低至100eV）下進行

  光電 拋光機 離子束

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• 發布了文章 2025-02-24 22:54

  導電陽極絲（CAF）：原理、影響與應對策略

  

  導電陽極絲（ConductiveAnodicFilament，CAF）它主要發生在印刷電路板（PCB）中，是電化學遷移現象中的一個重要類別，由于玻纖與樹脂之間存在縫隙，在濕熱環境和電勢差的作用下，銅離子會沿著這些縫隙遷移并沉積，形成導電路徑。這種現象會導致相鄰導體之間的絕緣性能下降，甚至可能引發短路，從而對電子設備的可靠性造成嚴重影響。CAF的發生條件與影響

  CAF pcb PCB 印刷電路板 導電陽極絲

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• 發布了文章 2025-02-21 14:54

  FIB聚焦離子束切片分析

  

  FIB（聚焦離子束）切片分析作為一種前沿的材料表征技術，憑借其高精度和多維度的分析能力，在材料科學、電子器件研究以及納米技術領域扮演著至關重要的角色。它通過離子束對材料表面進行刻蝕，形成極薄的切片，從而為材料的結構和成分分析提供了前所未有的細節和深度。FIB切片分析的基本原理FIB切片分析的核心在于利用高能離子束對材料表面進行精確加工。離子束由離子槍發射，經

  fib 切片 離子束

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• 發布了文章 2025-02-21 14:53

  光耦與AEC-Q102

  

  AEC-Q102認證及其在汽車電子中的重要性AEC-Q102認證是汽車行業中一項關鍵的質量與可靠性標準，專門針對分立光電器件產品。這一認證確保了汽車零部件在極端環境下的穩定性和安全性，從而提升整車的性能和可靠性。圖1：AEC-Q102-RevA標準AEC-Q102認證的背景AEC-Q102標準由汽車電子委員會（AutomotiveElectronicsCou

  AEC 光耦 汽車

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• 發布了文章 2025-02-21 14:51

  利用氬離子拋光技術還原LED支架鍍層的厚度

  

  氬離子拋光技術憑借其獨特的原理和顯著的優勢，在精密樣品制備領域占據著重要地位。該技術以氬氣為介質，在真空環境下，通過電離氬氣產生氬離子束，對樣品表面進行精準轟擊，實現物理蝕刻，從而去除表面損傷層和不平整部分，達到高度平滑的效果。氬離子拋光的優勢氬離子拋光的核心原理是利用氬氣在真空環境下的電離特性。當氬氣被引入真空腔體并施加高電壓時，氬原子被電離成氬離子，形成

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• 發布了文章 2025-02-21 14:50

  一文讀懂芯片可靠性試驗項目

  

  可靠性試驗的定義與重要性可靠性試驗是一種系統化的測試流程，通過模擬芯片在實際應用中可能遇到的各種環境條件和工作狀態，對芯片的性能、穩定性和壽命進行全面評估。在芯片研發和生產過程中，可靠性試驗不僅是驗證產品性能的重要手段，更是提高產品可靠性和市場競爭力的關鍵環節。通過對芯片進行嚴格的可靠性測試，可以提前發現潛在的故障模式和失效機制，從而為設計優化和工藝改進提供

  可靠性試驗 測試 芯片

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• 發布了文章 2025-02-21 14:48

  透光率檢測技術及其影響因素分析

  

  光透過能力，即透光率，描述的是特定條件下，物體透過的光量與其接收的入射光量之間的比例。在光的傳播過程中，部分光線會被物體吸收，而另一部分則能夠穿透物體，這種透過現象被稱作透光率。金鑒實驗室在這一領域擁有先進的技術和設備，能夠為客戶提供精準的透光率測量服務，確保測量結果的可靠性與科學性。1.透光率計法透光率計是目前實驗室中常用的透光率檢測儀器。其原理是將待測材

  檢測儀器 測量

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• 發布了文章 2025-02-20 12:05

  聚焦離子束FIB在失效分析技術中的應用-剖面制樣

  

  FIB技術：納米級加工與分析的利器在現代科技的微觀世界中，材料的精確加工和分析是推動創新的關鍵。聚焦離子束（FIB）技術正是在這樣的需求下應運而生，它提供了一種在納米尺度上對材料進行精細操作的能力，成為微電子和納米技術領域中不可或缺的工具。微米級缺陷樣品截面制備FIB技術的原理FIB技術的核心在于使用鎵（Ga）或銦（In）等材料作為離子源，通過靜電透鏡系統將

  fib 失效分析 離子束

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• 發布了文章 2025-02-20 12:05

  氬離子拋光儀技術在石油地質的應用

  

  解鎖石油勘探掃描電子顯微鏡（SEM）作為石油地質領域不可或缺的研究利器，憑借其精準的微觀觀測能力，對沉積巖中的有機質、粘土礦物、鈣質超微化石以及儲集巖等開展深入細致的研究，為石油地質學的蓬勃發展提供了堅實有力的技術支撐。SEM分析在這之前，樣品的制備是至關重要的一步。傳統的研磨和拋光方法雖然在一定程度上能夠滿足樣品表面處理的需求，但往往會對樣品表面造成不可逆

  SEM 顯微鏡

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