開(kāi)關(guān)電源可靠性測(cè)試是檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源質(zhì)量、穩(wěn)定性和質(zhì)量的重要手段。可靠性測(cè)試也是開(kāi)關(guān)電源測(cè)試的關(guān)鍵環(huán)節(jié),以此評(píng)估開(kāi)關(guān)電源的性能和使用壽命。
2024-03-21 15:50:2783 周 品牌:PICO產(chǎn)品詳情介紹70565是一款高可靠性的Pico音頻變壓器。音頻變壓器是音頻范圍內(nèi)使用的變壓器,它可以提供電流隔離、信號(hào)增益
2024-03-20 20:05:32
服務(wù)范圍橫向科研技術(shù)?持和服務(wù)、軌道交通、核電、裝備領(lǐng)域板卡失效分析、可靠性壽命試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開(kāi)發(fā)與執(zhí)行。檢測(cè)項(xiàng)目基于壽命特征分析的板卡壽命及剩余壽命研究:l 板卡X-ray
2024-03-15 17:27:02
服務(wù)內(nèi)容橫向科研技術(shù)支持和服務(wù)、高鐵裝備、零部件失效分析、可靠性試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開(kāi)發(fā)與執(zhí)行、裝備及系統(tǒng)健康管理技術(shù)方案開(kāi)發(fā)及軟硬件平臺(tái)搭建。服務(wù)范圍● 車(chē)體部件:側(cè)窗、底部大部件、連接件等
2024-03-15 16:46:27
服務(wù)范圍大規(guī)模集成電路芯片檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)●JESD22-A103/ A104/ A105/ A108/ A110●J-STD-020●JS-001/002●JESD78檢測(cè)項(xiàng)目(1)芯片級(jí)可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)
2024-03-14 16:28:30
許多可靠性“磨損”測(cè)試監(jiān)測(cè)的是一個(gè)性能參數(shù),該參數(shù)隨著對(duì)數(shù)變化的時(shí)間長(zhǎng)度而穩(wěn)步下降。
2024-03-13 14:28:37317 評(píng)估晶振在極端溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。模擬晶振在實(shí)際使用中可能會(huì)遇到的溫度變化情況,確保它能夠在不同的溫度極端條件下保持其性能。可參考標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD- 883E- 1011.9B。
2024-03-08 12:39:08157 電子產(chǎn)品高加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS,都是可靠性測(cè)試的方法,用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢,跟隨本文來(lái)一起了解。
2024-01-30 10:25:44206 封裝可靠性最重要的可靠性測(cè)試,也是進(jìn)行器件壽命模型建立和壽命評(píng)估的根本。服務(wù)范圍車(chē)規(guī)級(jí)功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計(jì)產(chǎn)品。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮(Autoclave)試驗(yàn)服務(wù),設(shè)備能力完全覆蓋以SiC為第三代半導(dǎo)體器件的可靠性試驗(yàn)?zāi)芰?。服?wù)背景AEC-Q101對(duì)對(duì)各類半導(dǎo)體
2024-01-29 21:35:04
標(biāo)準(zhǔn)。安森美(onsemi)作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商,為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運(yùn)行的產(chǎn)品,且這些產(chǎn)品達(dá)到了高品質(zhì)和高可靠性。之前我們分享了如何對(duì)IGBT進(jìn)行可靠性測(cè)試,今天我們來(lái)介紹如何通過(guò)可靠性審核程序確保IGBT的產(chǎn)品可靠性。
2024-01-25 10:21:16997 用于確定漏電流的穩(wěn)定性,這與IGBT的場(chǎng)畸變有關(guān)。HTRB 通過(guò)高溫反向偏置測(cè)試來(lái)增強(qiáng)故障機(jī)制,因此是器件質(zhì)量和可靠性的良好指標(biāo),也可以驗(yàn)證過(guò)程控制的有效性。
2024-01-17 09:57:17135 在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場(chǎng),公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長(zhǎng)期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營(yíng),必須確保產(chǎn)品達(dá)到或超過(guò)基本的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和可靠性
2024-01-17 09:56:32448 的產(chǎn)品種類不同,但是可靠性要求包含的項(xiàng)目大體相同。 本文檔相當(dāng)于GR-468的閱讀筆記,梳理和記錄有源光電器件可靠性的基本要求。本標(biāo)準(zhǔn)提出了建議性的一般可靠性保證規(guī)則,這些規(guī)則適合大部分用于電信設(shè)備的光電子器件適合設(shè)備廠商和光電子器件供應(yīng)商的設(shè)計(jì),工程,制造和品保
2024-01-15 09:32:54114 本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)。除了詳細(xì)介紹如何評(píng)估和制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以外,還將介紹針對(duì)半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性,及機(jī)械可靠性等評(píng)估方法。 什么是產(chǎn)品可靠性? 半導(dǎo)體
2024-01-13 10:24:17712 ,包括身份認(rèn)證、權(quán)限管理、數(shù)據(jù)保密等方面是否符合要求。
5、可靠性測(cè)試:測(cè)試軟件的穩(wěn)定性、容錯(cuò)性、恢復(fù)能力等方面是否符合要求。
6、用戶體驗(yàn)測(cè)試:測(cè)試軟件的用戶界面、操作流程等方面是否符合用戶需求
2024-01-08 11:11:41
良好的跨平臺(tái)性。
4、易用性是指軟件是否易于學(xué)習(xí)、使用和操作,是為了保證軟件能夠被廣泛使用。
5、可靠性是指軟件在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行、異常處理和壓力情況下的穩(wěn)定性和可靠性,是為了保證軟件的可靠性和穩(wěn)定性。
6
2024-01-02 10:15:12
杭州廣立微電子股份有限公司近日推出了一款全新的晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability WLR)測(cè)試設(shè)備,該設(shè)備具備智能并行測(cè)試功能,能夠顯著縮短測(cè)試時(shí)間,提高工作效率。
2023-12-28 15:02:23363 當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的汽車(chē)市場(chǎng)中,汽車(chē)的品質(zhì)和可靠性已成為消費(fèi)者選擇的重要標(biāo)準(zhǔn)。通過(guò)整車(chē)可靠性測(cè)試,汽車(chē)制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色,從而贏得消費(fèi)者的信任和滿意度。
此外,整車(chē)
2023-12-22 17:16:20357 在進(jìn)行船舶產(chǎn)品可靠性測(cè)試之前,需要進(jìn)行了充分的準(zhǔn)備工作。需要準(zhǔn)備各種先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備和儀器。得以模擬真實(shí)使用環(huán)境中的條件,如溫度、濕度、壓力等,以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
2023-12-22 17:14:28153 半導(dǎo)體可靠性測(cè)試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過(guò)程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測(cè)試項(xiàng)目包括多種測(cè)試方法和技術(shù),以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計(jì)規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測(cè)試的詳細(xì)
2023-12-20 17:09:04696 SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試的重要性SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試至關(guān)重要。通過(guò)檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性,確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn),可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽(yù),減少維修成本,確保
2023-12-14 14:29:34164 可靠性測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,是檢測(cè)電源模塊穩(wěn)定性、運(yùn)行狀況的重要測(cè)試方法。隨著對(duì)電源模塊的測(cè)試要求越來(lái)越高,用電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源模塊可以提高測(cè)試效率,確保測(cè)試結(jié)果可靠性,滿足測(cè)試要求。
2023-12-13 15:36:36384 近日,杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability WLR)測(cè)試設(shè)備。該產(chǎn)品支持智能并行測(cè)試,可大幅度縮短WLR的測(cè)試時(shí)間。同時(shí),可以結(jié)合廣立微提供的定制化軟件系統(tǒng)來(lái)提升用戶工作效率。
2023-12-07 11:47:37434 加速環(huán)境應(yīng)力可靠性測(cè)試:需要對(duì)芯片進(jìn)行加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試,模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測(cè)試旨在評(píng)估芯片在極端溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
2023-12-05 14:05:28566 器件可靠性與溫度的關(guān)系
2023-12-04 16:34:45244 提高PCB設(shè)備可靠性的技術(shù)措施:方案選擇、電路設(shè)計(jì)、電路板設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、元器件選用、制作工藝等多方面著手,具體措施如下:
(1)簡(jiǎn)化方案設(shè)計(jì)。
方案設(shè)計(jì)時(shí),在確保設(shè)備滿足技術(shù)、性能指標(biāo)的前提下
2023-11-22 06:29:05
除了新能源汽車(chē)需要做快速溫變?cè)囼?yàn)箱可靠性檢測(cè),還有什么產(chǎn)品需要進(jìn)行可靠性檢測(cè)呢? 我們一起來(lái)看看?
2023-11-20 17:24:29223 如何提升基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)的可靠性? 基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)可靠性是關(guān)乎設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行的重要因素。為了提高可靠性,我們可以從設(shè)計(jì)、選型、制造、測(cè)試和維護(hù)等方面進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn)。以下是一些
2023-11-17 14:35:58323 國(guó)家電網(wǎng):在就地化保護(hù)入網(wǎng)檢測(cè)中,首次引入可靠性試驗(yàn),驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)水平和壽命指標(biāo)。在關(guān)于新型一、二次設(shè)備(例如:電子式互感器)的科研項(xiàng)目中,增加了可靠性驗(yàn)證和壽命評(píng)估等相關(guān)研究課題。
2023-11-13 16:32:04452 千兆光模塊和萬(wàn)兆光模塊在現(xiàn)代通信設(shè)備中應(yīng)用廣泛,但其可靠性一直是光模塊廠家面臨的重要問(wèn)題之一。本文將深入探討光模塊可靠性的提高方法,包括材料選擇、生產(chǎn)工藝優(yōu)化、先進(jìn)測(cè)試技術(shù)和穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的應(yīng)用等。通過(guò)這些措施,光模塊廠家可以提高千兆光模塊和萬(wàn)兆光模塊的可靠性,為用戶提供更好的通信服務(wù)。
2023-11-13 11:01:24224 器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個(gè)項(xiàng)目,標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目(測(cè)試項(xiàng),試驗(yàn)條件,樣本量等)進(jìn)行了說(shuō)明。主要測(cè)試內(nèi)容分為器件性能測(cè)試、器件應(yīng)力測(cè)試和器件加速老化測(cè)試。
2023-11-10 17:47:27628 可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多,測(cè)試方法多樣,常見(jiàn)的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52748 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試? 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過(guò)程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激,并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011121 機(jī)械溫控開(kāi)關(guān)的可靠性有多少?我看溫控開(kāi)關(guān)的體積很小,價(jià)格便宜,可以用于一些溫度控制方面,不過(guò)可靠性有多少呢?
2023-10-31 06:37:26
半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試指的是評(píng)估半導(dǎo)體器件在不同工作條件下的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測(cè)試和分析方法。這些測(cè)試旨在確保半導(dǎo)體器件在其設(shè)計(jì)壽命內(nèi)能夠正常運(yùn)行,不會(huì)出現(xiàn)意外故障,從而滿足用戶和應(yīng)用的需求
2023-10-25 09:19:15635 智能鑰匙是一種新型的智能家居設(shè)備,它使你可以通過(guò)手機(jī)或者其他智能設(shè)備輕松地控制你的房門(mén)、車(chē)門(mén)、辦公室等入口。智能鑰匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作方式,但是這種設(shè)備并非完美無(wú)缺,它也面臨著一些風(fēng)險(xiǎn)和缺陷,需要經(jīng)過(guò)可靠性測(cè)試,確保它能夠可靠地運(yùn)行。
2023-10-17 14:07:57239 MIMO采用多進(jìn)多出的天線,來(lái)實(shí)現(xiàn)可靠性和有效性的提升。公網(wǎng)采用MIMO用來(lái)提升通信容量——有效性,專網(wǎng)通信用MIMO來(lái)提升系統(tǒng)的可靠性。
2023-10-15 11:48:26362 電子元器件可靠性測(cè)試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目,同時(shí)也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見(jiàn)的可靠性測(cè)試項(xiàng)目有機(jī)械沖擊測(cè)試、高溫存儲(chǔ)測(cè)試、溫度循壞測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-10-11 14:49:05350 基于可靠性試驗(yàn)所用的菊花鏈測(cè)試結(jié)構(gòu),對(duì)所設(shè)計(jì)的扇出型封裝結(jié)構(gòu)進(jìn)行了完整的菊花鏈芯片制造及后道組裝工藝制造,并對(duì)不同批次、不同工藝參數(shù)條件下的封裝樣品進(jìn)行電學(xué)測(cè)試表征、可靠性測(cè)試和失效樣品分析。
2023-10-08 10:18:15217 可靠性是另一關(guān)注的重點(diǎn)。目前,環(huán)球儀器SMT工藝實(shí)驗(yàn)室正在進(jìn)行的另一個(gè)項(xiàng)目就是堆疊裝配可靠性研究。從目前采用跌落測(cè)試的研究結(jié)果來(lái)看,失效主要發(fā)生在兩層元件之間的連接。
2023-09-27 15:09:57190 通過(guò)PLC組態(tài)軟件提高系統(tǒng)可靠性的幾項(xiàng)措施
2023-09-25 06:26:12
電流探頭是一種用于測(cè)量電路中電流的設(shè)備,通常與萬(wàn)用表或示波器一起使用。它是一個(gè)重要的測(cè)試工具,因此必須進(jìn)行驗(yàn)證以確保其可靠性。
2023-09-22 10:53:07242 服務(wù)內(nèi)容廣電計(jì)量是國(guó)內(nèi)振動(dòng)試驗(yàn)?zāi)芰^完善的權(quán)威檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)機(jī)構(gòu)之一,配備了(1~35)噸不同推力的振動(dòng)臺(tái),可滿足不同尺寸、重量的樣品的振動(dòng)測(cè)試需求。服務(wù)范圍本商品可提供針對(duì)家用電器、汽車(chē)零部件、線束
2023-09-21 16:52:00
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心,專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測(cè)、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評(píng)估,公司參考半導(dǎo)體行業(yè)可靠性試驗(yàn)條件和抽樣原則,制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行完整可靠性驗(yàn)證。
2023-09-20 16:29:21808 硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別,對(duì)產(chǎn)品可靠性與效率的影響
2023-09-20 07:53:05
標(biāo)準(zhǔn),系基于失效機(jī)理的IC電路應(yīng)力測(cè)試鑒定,是適用于車(chē)用芯片的綜合可靠性測(cè)試,也是全球汽車(chē)產(chǎn)業(yè)零件供貨商生產(chǎn)的重要指南。
● AEC-Q100可靠性認(rèn)證門(mén)檻高,測(cè)試項(xiàng)目覆蓋廣(7大類別41項(xiàng)目),如
2023-09-15 12:04:18
? 走進(jìn)龍騰實(shí)驗(yàn)室 功率器件可靠性試驗(yàn)測(cè)試項(xiàng)目系列專題(一) ? 可靠性實(shí)驗(yàn)室介紹 ? 龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心,專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測(cè)、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評(píng)估,公司
2023-09-12 10:23:45698 碳化硅作為第三代半導(dǎo)體經(jīng)典的應(yīng)用,具有眾多自身優(yōu)勢(shì)和技術(shù)優(yōu)勢(shì),它所制成的功率器件在生活中運(yùn)用十分廣泛,越來(lái)越無(wú)法離開(kāi),因此使用碳化硅產(chǎn)品的穩(wěn)定性在一定程度上也決定了生活的質(zhì)量。作為高尖精的產(chǎn)品,芯片的可靠性測(cè)試貫徹始終,從設(shè)計(jì)到選材再到最后的出產(chǎn),那研發(fā)過(guò)程中具體需要做哪些測(cè)試呢
2023-08-18 09:52:23751 功率器件可靠性
2023-08-07 14:51:532 壽命測(cè)試是一種重要的可靠性測(cè)試方法,用于評(píng)估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測(cè)試旨在模擬實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應(yīng)力,例如時(shí)間、溫度、振動(dòng)、沖擊、電壓等,并通過(guò)持續(xù)的測(cè)試和監(jiān)測(cè)來(lái)觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505 ,規(guī)劃評(píng)估驗(yàn)證策略,制定認(rèn)證測(cè)試規(guī)范性準(zhǔn)則,最終完成各項(xiàng)驗(yàn)證測(cè)試項(xiàng)目,出具權(quán)威檢驗(yàn)認(rèn)證報(bào)告。 該業(yè)務(wù)結(jié)合多種測(cè)試和FA手段,確定失效模式、探究失效機(jī)理,幫助客戶定位失效根因。 測(cè)試設(shè)備介紹? ? 1.晶圓級(jí)WLR工藝可靠性測(cè)
2023-07-23 11:16:121376 可靠性,是指產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)和條件下完成規(guī)定功能的能力,是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo),如果在規(guī)定時(shí)間內(nèi)和條件下產(chǎn)品失去了規(guī)定的功能,則稱之為產(chǎn)品失效或出現(xiàn)了故障。可靠性測(cè)試項(xiàng)目的科學(xué)性、合理性,抽樣和試驗(yàn)
2023-07-21 10:36:26621 的產(chǎn)品種類不同,但是可靠性要求包含的項(xiàng)目大體相同。 本文檔相當(dāng)于GR-468的閱讀筆記,梳理和記錄有源光電器件可靠性的基本要求。本標(biāo)準(zhǔn)提出了建議性的一般可靠性保證規(guī)則,這些規(guī)則適合大部分用于電信設(shè)備的光電子器件適合設(shè)備廠商和光電子器件供應(yīng)商的設(shè)計(jì),工程,制造和品保
2023-07-20 18:10:43889 固有可靠性指的是什么?指的是在生產(chǎn)過(guò)程中已經(jīng)確立的可靠性,它是產(chǎn)品內(nèi)在的可靠性,是生產(chǎn)廠家模擬實(shí)際工作條件的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢查并給予保證的可靠性。固有可靠性由電子元器件的生產(chǎn)單位電子元器件
2023-07-17 09:16:08850 在半導(dǎo)體器件中,常見(jiàn)的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下,加速測(cè)試不改變故障的物理特性,但會(huì)轉(zhuǎn)移觀察時(shí)間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些?讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182548 安全性促進(jìn)可靠性設(shè)計(jì):安全性要求通常會(huì)推動(dòng)可靠性設(shè)計(jì)的實(shí)施。為了滿足安全性要求,產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員需要考慮風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估、故障預(yù)防和容錯(cuò)設(shè)計(jì)等措施。這些措施有助于提高產(chǎn)品的可靠性,減少故障率,增加產(chǎn)品在不安全環(huán)境下的穩(wěn)定性和可用性。
2023-07-12 10:44:132790 總之,可靠性分配是一種有助于理解復(fù)雜系統(tǒng)可靠性的方法。通過(guò)將系統(tǒng)分解為更小的組件,并為每個(gè)組件分配可靠性指標(biāo),可以進(jìn)行更詳細(xì)和全面的可靠性分析,從而提高系統(tǒng)的可靠性和性能。
2023-07-11 10:48:01810 設(shè)備的可靠性涉及多個(gè)方面:穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴(yán)格的測(cè)試以及市場(chǎng)和時(shí)間的檢驗(yàn)等等。
2023-07-11 10:09:32213 和儲(chǔ)存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。191-0751-6775陳S 常規(guī)的可靠性測(cè)試項(xiàng)目如下: 1、氣候環(huán)境測(cè)試:高溫測(cè)試、低溫測(cè)試、溫濕度循環(huán)/恒定濕熱測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、快速溫變測(cè)試、低氣壓測(cè)試、
2023-07-04 14:30:441184 到2030年,10類關(guān)鍵核心產(chǎn)品可靠性水平達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平,可靠性標(biāo)準(zhǔn)引領(lǐng)作用充分彰顯,培育一批可靠性公共服務(wù)機(jī)構(gòu)和可靠性專業(yè)人才,我國(guó)制造業(yè)可靠性整體水平邁上新臺(tái)階,成為支撐制造業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要引擎。
2023-07-04 11:15:07472 車(chē)規(guī)級(jí)功率器件未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)
材料方面: SiC和GaN是必然趨勢(shì),GaAs在細(xì)分領(lǐng)域有可能
●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●評(píng)測(cè)方面:多應(yīng)力綜合測(cè)試方法、新型結(jié)溫測(cè)試方法和技術(shù)
●進(jìn)展方面:國(guó)產(chǎn)在趕超進(jìn)口(參數(shù)和性能),可靠性還需要時(shí)間沉淀
2023-07-04 10:48:05415 拉力試驗(yàn)機(jī)夾具的初始距離、材質(zhì)、規(guī)格、定制、種類、廠家等因素都對(duì)測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性具有重要影響。在使用拉力試驗(yàn)機(jī)夾具時(shí),需要根據(jù)被測(cè)物體的特性和測(cè)試要求,選擇合適的夾具,確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
2023-06-27 13:37:29459 IEC 62308的范圍規(guī)定“本標(biāo)準(zhǔn)描述了項(xiàng)目的可靠性評(píng)估方法。適用于任務(wù)、安全、業(yè)務(wù)關(guān)鍵、高完整性、復(fù)雜電子產(chǎn)品。它包含有關(guān)為什么需要可靠性以及如何以及在何處使用評(píng)估結(jié)果的信息。最后,它詳細(xì)說(shuō)明了如何選擇可靠性評(píng)估方法以及支持評(píng)估所需的數(shù)據(jù)。
2023-06-27 09:55:11508 設(shè)備的可靠性涉及多個(gè)方面:穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴(yán)格的測(cè)試以及市場(chǎng)和時(shí)間的檢驗(yàn)等等。這里著重談一下作者自己對(duì)嵌入式軟件可靠性設(shè)計(jì)的一些理解,通過(guò)一定的技巧和方法提高軟件可靠性
2023-06-22 10:00:00420 單片GaN器件集成驅(qū)動(dòng)功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
通過(guò)集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測(cè)試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18
宏展針對(duì)電池的可靠性試驗(yàn)和濫用測(cè)試提供了具有安Q全特性的試驗(yàn)箱,每一臺(tái)環(huán)境試驗(yàn)箱的設(shè)計(jì)都考慮了安Q全性,針對(duì)不同危險(xiǎn)級(jí)別為試驗(yàn)箱針對(duì)性的設(shè)計(jì)了安Q全性能。一、危險(xiǎn)等級(jí)二、安Q全選件1、安Q全門(mén)互鎖
2023-06-20 10:03:00184 GaNPower集成電路的可靠性測(cè)試與鑒定
2023-06-19 11:17:46
GaN功率集成電路可靠性的系統(tǒng)方法
2023-06-19 06:52:09
為溫度85℃,且濕度為85%的條件下,對(duì)試驗(yàn)體進(jìn)行老化測(cè)試,也就是嚴(yán)酷的環(huán)境可靠性試驗(yàn),比較常用的測(cè)試時(shí)間為1000小時(shí),主要檢驗(yàn)產(chǎn)品在高溫高濕的惡劣環(huán)境下所能承
2023-06-12 16:52:50456 芯片功能測(cè)試常用5種方法有板級(jí)測(cè)試、晶圓CP測(cè)試、封裝后成品FT測(cè)試、系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試、可靠性測(cè)試。
2023-06-09 16:25:42
33A-1997 半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范
GJB 63B-2001 有可靠性指標(biāo)的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范
GJB 65B-1999 有可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范
GJB 597A-1996 半導(dǎo)體集成電路總
2023-06-08 09:17:22
芯片測(cè)試治具是一種用于芯片測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備,可以實(shí)現(xiàn)芯片的功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試和性能測(cè)試,它可以幫助電子工程師驗(yàn)證芯片的性能和可靠性,實(shí)現(xiàn)芯片的精確測(cè)試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453 試驗(yàn),電壓暫降測(cè)試,騷擾功率試驗(yàn),電磁抗擾試驗(yàn)室,射頻測(cè)試,電磁場(chǎng)輻射試驗(yàn),抗繞度試驗(yàn),電瞬態(tài)干擾試驗(yàn),插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測(cè)試:
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn),加速壽命試驗(yàn)(halt),環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ess),可靠性驗(yàn)收試驗(yàn),可靠性鑒定試驗(yàn),可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
可靠性測(cè)試對(duì)于芯片的制造和設(shè)計(jì)過(guò)程至關(guān)重要。通過(guò)進(jìn)行全面而嚴(yán)格的可靠性測(cè)試,可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設(shè)計(jì)缺陷、制造問(wèn)題或環(huán)境敏感性,從而確保芯片在長(zhǎng)期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211463 可制造性設(shè)計(jì) (Design for Manufacturabiity, DFM)、可靠性設(shè)計(jì) (Designfor Reliability, DFR)與可測(cè)試性設(shè)計(jì) (Design
2023-05-18 10:55:541430 課程名稱:《硬件電路可靠性設(shè)計(jì)、測(cè)試與案例分析》講師:王老師時(shí)間地點(diǎn):北京6月15日-17日主辦單位:賽盛技術(shù)課程特色1.案例多,案例均來(lái)自于電路設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致的實(shí)際產(chǎn)品可靠性問(wèn)題2.課程內(nèi)容圍繞電路
2023-05-18 10:40:50350 我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來(lái)做可靠性預(yù)測(cè)工作
2023-05-17 08:49:55
設(shè)備的可靠性涉及多個(gè)方面:穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴(yán)格的測(cè)試以及市場(chǎng)和時(shí)間的檢驗(yàn)等等。
2023-05-16 09:39:57428 支持系統(tǒng)的導(dǎo)航設(shè)備和立體成像設(shè)備中。
?不同位置的PCB的不同可靠性要求
就公共安全而言,汽車(chē)屬于高可靠性產(chǎn)品類別,因此,汽車(chē)PCB必須通過(guò)一些可靠性測(cè)試,而尺寸,尺寸,機(jī)械和電氣性能等一般
2023-04-24 16:34:26
1.電連接器的基本性能有哪些? 三個(gè)基本性能:機(jī)械性能、電氣性能和耐環(huán)境性能。 電連接器機(jī)械性能測(cè)試包括:插拔力測(cè)試、端子保持力測(cè)試、端子正向力測(cè)試、耐久性測(cè)試。 電氣特性測(cè)試包括:絕緣電阻測(cè)試
2023-04-24 09:27:46307 。 其他設(shè)計(jì)技巧包括:考慮在柔性電路上逐層錯(cuò)開(kāi)走線,以提供更高水平的靈活性。導(dǎo)體應(yīng)始終垂直于彎曲半徑布線,以提高可靠性和靈活性。終端區(qū)域應(yīng)使用加勁肋進(jìn)行加勁。屏蔽應(yīng)使用交叉陰影線而不是實(shí)心平面。通孔應(yīng)
2023-04-21 15:52:50
環(huán)境可靠性試驗(yàn)是一種對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行全面評(píng)估的測(cè)試方法,可應(yīng)用于廣泛的行業(yè)和領(lǐng)域。該技術(shù)可以評(píng)估產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的穩(wěn)定性和可靠性,包括溫度、濕度、震動(dòng)和應(yīng)力等方面。因此,在許多關(guān)鍵領(lǐng)域,如國(guó)防
2023-04-12 11:26:55664 PCB設(shè)計(jì)中的可靠性有哪些? 實(shí)踐證明,即使電路原理圖設(shè)計(jì)正確,如果PCB設(shè)計(jì)不當(dāng),也會(huì)對(duì)電子設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個(gè)簡(jiǎn)單的例子,如果PCB兩條細(xì)平行線靠得很近的話,則會(huì)造成信號(hào)波形
2023-04-10 16:03:54
半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問(wèn)題。高溫試驗(yàn)是一種常用的測(cè)試方法,通過(guò)模擬實(shí)際使用中的高溫環(huán)境,可以評(píng)估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗(yàn)需要仔細(xì)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案,包括選擇
2023-04-07 10:21:03766 我想知道這些設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù),例如 MTBF 和 FIT,BSS138PW BSS84AKW,115
2023-04-03 08:12:35
可靠性/可用性驗(yàn)證測(cè)試FIT:定義及目的
FIT (Fault Injection Test) :故障注入測(cè)試,通過(guò)向系統(tǒng)注入在實(shí)際應(yīng)用中可能發(fā)生的故障,觀察系統(tǒng)功能性能變化,故
障檢測(cè)、定位、隔離以及故障恢復(fù)情況,發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、評(píng)估系統(tǒng)可靠性的測(cè)試方法。
2023-03-29 09:18:47589 。 因此,硬件可靠性設(shè)計(jì)在保證元器件可靠性的基礎(chǔ)上,既要考慮單一控制單元的可靠性設(shè)計(jì),更要考慮整個(gè)控制系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)。
2023-03-27 17:01:30685 連接器接觸端子的可靠性設(shè)計(jì)重點(diǎn)是接觸電阻、端子材料、插拔力、接觸正壓等參數(shù)的設(shè)計(jì)。
2023-03-27 14:28:36222 近日,全球領(lǐng)先的智能激光雷達(dá)系統(tǒng)科技企業(yè)RoboSense(速騰聚創(chuàng))獲國(guó)際公認(rèn)的測(cè)試、檢驗(yàn)和認(rèn)證機(jī)構(gòu)SGS簽發(fā)的AEC-Q100可靠性測(cè)試報(bào)告與證書(shū)。
2023-03-27 09:53:20797 嗨,我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測(cè)試報(bào)告?FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
評(píng)論
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