機(jī)器視覺(jué)缺陷檢測(cè)技術(shù)在工業(yè)生產(chǎn)、醫(yī)療影像、安防監(jiān)控等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用，能夠提高產(chǎn)品質(zhì)量、生產(chǎn)效率和安全性。機(jī)器視覺(jué)缺陷檢測(cè)原理機(jī)器視覺(jué)缺陷檢測(cè)是利用計(jì)算機(jī)視覺(jué)技術(shù)來(lái)檢測(cè)和識(shí)別產(chǎn)品表面的缺陷，首先
2024-03-18 17:54:40
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WD4000國(guó)產(chǎn)晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV、BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。可實(shí)現(xiàn)砷化鎵
2024-03-15 09:22:08
這篇論文介紹了一種文本引導(dǎo)的變分圖像生成方法，旨在解決工業(yè)制造中的異常檢測(cè)和分割問(wèn)題。傳統(tǒng)方法通過(guò)訓(xùn)練非缺陷數(shù)據(jù)的分布來(lái)進(jìn)行異常檢測(cè)，但這需要大量且多樣化的非缺陷數(shù)據(jù)。
2024-03-14 10:15:2844 
電力變壓器的內(nèi)部缺陷及診斷方法? 電力變壓器作為電力系統(tǒng)中的關(guān)鍵設(shè)備之一，負(fù)責(zé)調(diào)整電壓水平以滿足電力傳輸和分配的需求。然而，在長(zhǎng)期運(yùn)行過(guò)程中，電力變壓器可能會(huì)出現(xiàn)各種故障和內(nèi)部缺陷，這些故障和內(nèi)部
2024-03-05 16:30:00133 實(shí)驗(yàn)名稱：充粘液管道損傷檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)原理：在管道上的傳感器激發(fā)一束超聲能量脈沖，此脈沖沿著管道長(zhǎng)度方向向遠(yuǎn)處傳播，并充斥整個(gè)圓周方向，在導(dǎo)波傳播過(guò)程中遇到缺陷時(shí)，入射波會(huì)在缺陷處發(fā)生反射、透射
2024-02-27 17:06:35
缺陷檢測(cè)是生產(chǎn)過(guò)程的重要組成部分。它有助于確保產(chǎn)品的高質(zhì)量和滿足客戶的需求。缺陷檢測(cè)有許多不同的解決方案，特定應(yīng)用的最佳解決方案取決于所檢測(cè)的缺陷類型、解決方案的成本以及解決方案的準(zhǔn)確性。
2024-02-26 15:44:0883 
雖然表面缺陷檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)不斷從學(xué)術(shù)研究走向成熟的工業(yè)應(yīng)用，但是依然有一些需要解決的問(wèn)題。基于以上分析可以發(fā)現(xiàn)，由于芯片表面缺陷的獨(dú)特性質(zhì)，通用目標(biāo)檢測(cè)算法不適合直接應(yīng)用于芯片表面缺陷檢測(cè)任務(wù)，需要提出新的解決方法。
2024-02-25 14:30:18165 
表面缺陷檢測(cè)任務(wù)是指通過(guò)對(duì)產(chǎn)品表面進(jìn)行仔細(xì)的檢查和評(píng)估，以發(fā)現(xiàn)和識(shí)別任何不符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)或設(shè)計(jì)要求的表面缺陷。這項(xiàng)任務(wù)的目的是確保產(chǎn)品的外觀質(zhì)量和功能性滿足預(yù)定的要求，從而提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量和客戶滿意度。
2024-02-21 14:31:52126 
WD4000無(wú)圖晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)是通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。可兼容不同材質(zhì)
2024-02-21 13:50:34
基于圖像的織物疵點(diǎn)自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)已成為了該領(lǐng)域近年來(lái)的的研究熱點(diǎn)，其代替人工織物疵點(diǎn)檢測(cè)的研究算法也逐漸成為可能，主流方法一般分為兩大類， 一是基于傳統(tǒng)圖像處理的織物缺陷檢測(cè)方法，二是基于深度學(xué)習(xí)算法的織物缺陷檢測(cè)定位方法。
2024-02-20 14:24:4790 
隨著科技的不斷發(fā)展，無(wú)紡布作為一種新型環(huán)保材料，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。然而，無(wú)紡布的生產(chǎn)過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)一些缺陷，如針眼、孔洞等。為了提高無(wú)紡布的質(zhì)量，許多企業(yè)開(kāi)始使用無(wú)紡布缺陷在線檢測(cè)儀進(jìn)行實(shí)時(shí)
2024-02-03 14:58:17141 
缺陷形態(tài)多變，還可能出現(xiàn)各種無(wú)法預(yù)測(cè)的異常情況，傳統(tǒng)的缺陷模擬方法往往難以應(yīng)對(duì)，這無(wú)疑增加了檢測(cè)的成本和難度。良品學(xué)習(xí)阿丘科技的良品學(xué)習(xí)模式，擁有非監(jiān)督分類與非監(jiān)
2024-01-26 08:25:10155 
對(duì)于外部缺陷，通常采用顯微鏡下人工目測(cè)法或自動(dòng)外觀分選設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。然而，內(nèi)部微小缺陷一直是MLCC檢測(cè)的難點(diǎn)之一，它嚴(yán)重影響到產(chǎn)品的可靠性，但卻難以發(fā)現(xiàn)。為了解決這個(gè)問(wèn)題，超聲波探傷方法被引入
2024-01-16 10:53:00326 WD4000無(wú)圖晶圓幾何形貌測(cè)量設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等
2024-01-10 11:10:39
WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對(duì)射技術(shù)測(cè)量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2024-01-09 09:08:07
的檢測(cè)方法有哪些呢？ 1、視覺(jué)檢測(cè)：通過(guò)肉眼觀察花鍵的表面質(zhì)量、形狀及尺寸，檢查是否存在明顯的制造缺陷或損傷，同時(shí)，觀察花鍵與零件的匹配情況，確保符合設(shè)計(jì)要
2024-01-02 17:48:11
基于機(jī)器視覺(jué)技術(shù)的玻璃質(zhì)量檢測(cè)流程：產(chǎn)品經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)，LED紅光垂直（或其他角度）入射待檢測(cè)玻璃后，若玻璃中存在缺陷，CCD相機(jī)的靶面檢測(cè)到不均勻的出射光，然后圖像采集卡對(duì)輸出的信號(hào)進(jìn)行實(shí)時(shí)采集并將
2023-12-22 16:09:09188 
TC-Wafer是將高精度溫度傳感器鑲嵌在晶圓表面，對(duì)晶圓表面的溫度進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量。通過(guò)晶圓的測(cè)溫點(diǎn)了解特定位置晶圓的真實(shí)溫度，以及晶圓整體的溫度分布，同還可以監(jiān)控半導(dǎo)體設(shè)備控溫過(guò)程中晶圓發(fā)生的溫度
2023-12-21 08:58:53
WD4000晶圓幾何形貌測(cè)量設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TTV
2023-12-20 11:22:44
電子元件是現(xiàn)代科技中不可或缺的一部分，但由于制造過(guò)程中的復(fù)雜性，元件可能出現(xiàn)各種缺陷。為了保證電子元件的質(zhì)量和可靠性，缺陷檢測(cè)是必不可少的過(guò)程。本文將詳細(xì)介紹電子元件缺陷檢測(cè)的不同方法和技術(shù)
2023-12-18 14:46:20371 使用AD9637-80進(jìn)行中頻多通道采樣時(shí)，單片通道與通道之間的幅度誤差達(dá)到6dB（同等輸入功率下），模擬前端電路采樣變壓器耦合（數(shù)據(jù)手冊(cè)19頁(yè)，圖47），變壓器采樣的是mini公司的TC1-1T+
2023-12-15 08:23:16
中圖儀器WD4000無(wú)圖晶圓幾何形貌量測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D
2023-12-14 10:57:17
晶圓測(cè)溫系統(tǒng)tc wafer晶圓表面溫度均勻性測(cè)溫晶圓表面溫度均勻性測(cè)試的重要性及方法 在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，晶圓的表面溫度均勻性是一個(gè)重要的參數(shù)
2023-12-04 11:36:42
在芯片生產(chǎn)制造過(guò)程中，各工藝流程環(huán)環(huán)相扣，技術(shù)復(fù)雜，材料、環(huán)境、工藝參數(shù)等因素的微變常導(dǎo)致芯片產(chǎn)生缺陷，影響產(chǎn)品良率。
2023-11-30 18:24:13941 
現(xiàn)有的FPC缺陷檢測(cè)算法多衍生于PCB檢測(cè)算法，但受本身獨(dú)特性限制，F(xiàn)PC板缺陷要求更高，檢測(cè)樣板尺寸更大，樣板成像易變形，使得針對(duì)PCB板的缺陷檢測(cè)算法不能直接套用FPC板的檢測(cè)算法，需要根據(jù)FPC板實(shí)際線路特征制定與之適宜的檢測(cè)算法。
2023-11-30 15:29:26120 在bf706中，采用16bit tdm8格式傳輸數(shù)據(jù)，時(shí)鐘信號(hào)afs=6.144MHz由外部晶振提供，采樣頻率48kHz，請(qǐng)問(wèn)多通道選擇寄存器cs0-cs3應(yīng)怎樣設(shè)置？嘗試使能通道數(shù)為8、16、32輸出都會(huì)有雜音。
2023-11-28 08:19:54
蔡司 自動(dòng)缺陷檢測(cè)：適用于您的應(yīng)用領(lǐng)域的AI軟件 蔡司自動(dòng)化缺陷檢測(cè)機(jī)器學(xué)習(xí)軟件將人工智能應(yīng)用于3D CT和2D X射線系統(tǒng)，樹(shù)立了新的標(biāo)桿，可對(duì)缺陷或異常(不規(guī)則)進(jìn)行檢測(cè)、定位與分類，同時(shí)通過(guò)
2023-11-15 11:14:24221 蔡司自動(dòng)缺陷檢測(cè) 適用于您的應(yīng)用領(lǐng)域的AI軟件 蔡司自動(dòng)化缺陷檢測(cè)機(jī)器學(xué)習(xí)軟件將人工智能應(yīng)用于3D CT和2D X射線系統(tǒng)，樹(shù)立了新的標(biāo)桿，可對(duì)缺陷或異常（不規(guī)則）進(jìn)行檢測(cè)、定位與分類，同時(shí)通過(guò)讀取
2023-11-14 11:27:27212 缺陷檢測(cè)是工業(yè)視覺(jué)領(lǐng)域非常重要的應(yīng)用之一。幾乎所有的工業(yè)產(chǎn)品在流入市場(chǎng)之前都會(huì)有缺陷檢測(cè)的環(huán)節(jié)，目的是確保產(chǎn)品是合格的。
2023-11-14 11:06:38369 請(qǐng)問(wèn)像AD8233一樣的晶圓封裝在PCB中如何布線，芯片太小，過(guò)孔和線路都無(wú)法布入，或者有沒(méi)有其他封裝的AD8233
2023-11-14 07:01:48
電極片常見(jiàn)缺陷 電極片缺陷檢測(cè)方法 電極片缺陷對(duì)電池性能的影響? 電極片是電池的重要組成部分之一，其質(zhì)量和性能直接影響到電池的工作效率和穩(wěn)定性。然而，電極片在制造和使用過(guò)程中常常會(huì)出現(xiàn)各種缺陷，這些
2023-11-10 14:54:13694 WD4000晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷
2023-11-06 10:49:18
WD4000系列半導(dǎo)體晶圓幾何形貌自動(dòng)檢測(cè)機(jī)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR
2023-11-06 10:47:07
15的單片機(jī)，用內(nèi)部ADC多通道輸出，所有通道都是輸出最后一個(gè)通道的值？是什么原因，哪個(gè)寄存器嗎
前面的通道不管接什么電平，都是浮空一樣
2023-10-27 06:44:16
工業(yè)制造領(lǐng)域中，產(chǎn)品質(zhì)量的保證是至關(guān)重要的任務(wù)之一。然而，人工的檢測(cè)方法不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，而且容易受到主觀因素的影響，從而降低了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和一致性。近年來(lái)，基于深度學(xué)習(xí)的技術(shù)在工業(yè)缺陷檢測(cè)領(lǐng)域取得了顯著的突破，其憑借其出色的特征學(xué)習(xí)和自動(dòng)化能力，逐漸成為工業(yè)缺陷檢測(cè)的熱門(mén)方向。
2023-10-24 09:29:27477 
WD4000半導(dǎo)體晶圓表面三維形貌測(cè)量設(shè)備自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、顯示
2023-10-23 11:05:50
WD4000半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對(duì)射技術(shù)測(cè)量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI
2023-10-19 11:08:24
WD4000無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三維形貌 、單層膜厚 、多層膜厚 。使用光譜共焦對(duì)射技術(shù)測(cè)量晶圓 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW
2023-10-18 09:09:00
同一個(gè)定時(shí)器可以雙通道或者多通道同時(shí)進(jìn)行輸入捕獲嗎
2023-10-17 08:13:29
機(jī)器視覺(jué)應(yīng)用比較廣，例如FPD檢測(cè)等，工業(yè)相機(jī)助力顯示屏進(jìn)行缺陷檢測(cè)，提高產(chǎn)品品質(zhì)。
2023-10-16 16:09:53780 
是鑄浩過(guò)程中必不可少的，而對(duì)鑄件內(nèi)部質(zhì)量缺陷的檢測(cè)一般可經(jīng)過(guò)X射線對(duì)鑄件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，判斷缺陷和質(zhì)量，對(duì)雜亂架錢(qián)鑄件，有時(shí)需對(duì)其內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行檢查，以承以其是否契合
2023-10-13 14:51:47247 
方法多采用傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)算法，通過(guò)圖像形態(tài)學(xué)處理與特征提取進(jìn)行缺陷識(shí)別，往往需要根據(jù)不同形態(tài)的缺陷特征，設(shè)計(jì)不同的特征提取與識(shí)別算法。鋁型材表面缺陷形態(tài)不規(guī)則、位置隨機(jī)且大小不一，采用傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)缺陷識(shí)別方法進(jìn)行鋁型材缺陷識(shí)別，難以同時(shí)滿足檢測(cè)精度與效率的要求。
2023-10-08 15:30:01474 
首先使用深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)提取輸入圖像特征圖，然后使用分類網(wǎng)絡(luò)、回歸網(wǎng)絡(luò)、中心度網(wǎng)絡(luò)對(duì)特征圖上的所有特征點(diǎn)逐個(gè)進(jìn)行檢測(cè)，分類網(wǎng)絡(luò)輸出原圖上以此特征點(diǎn)為中心的區(qū)域所含缺陷類別，回歸網(wǎng)絡(luò)輸出原圖上以此特征
2023-09-28 09:41:27187 
表面缺陷是工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)中不可避免的問(wèn)題，如果不及時(shí)發(fā)現(xiàn)處理，將會(huì)影響產(chǎn)品的外觀質(zhì)量及性能，導(dǎo)致企業(yè)生產(chǎn)效益下降。現(xiàn)如今，基于機(jī)器視覺(jué)的表面檢測(cè)方法在很多現(xiàn)代化企業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用，在文中將分析主流機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)方法的優(yōu)缺點(diǎn)，并指出現(xiàn)有機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)存在的問(wèn)題和對(duì)以后的發(fā)展趨勢(shì)做進(jìn)一步的展望。
2023-09-27 11:09:53337 一、簡(jiǎn)介
缺陷檢測(cè)加速應(yīng)用程序是一個(gè)機(jī)器視覺(jué)應(yīng)用程序，它通過(guò)使用計(jì)算機(jī)視覺(jué)庫(kù)功能自動(dòng)檢測(cè)芒果中的缺陷并在高速工廠管道中進(jìn)行分類。
缺陷檢測(cè)應(yīng)用
這是在Xilinx SOM嵌入式平臺(tái)上開(kāi)發(fā)的缺陷檢測(cè)
2023-09-26 15:17:29
缺陷檢測(cè)在電子制造業(yè)中是非常重要的應(yīng)用。然而，由于存在的缺陷多種多樣，傳統(tǒng)的機(jī)器視覺(jué)算法很難對(duì)缺陷特征進(jìn)行完全建模和遷移缺陷特征，致使傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)算法可重復(fù)使用性不是很大，并且需要區(qū)分工作條件，這將
2023-09-22 12:19:00449 
LabVIEW高級(jí)編程——多通道數(shù)據(jù)采集
2023-09-20 06:12:06
X射線檢測(cè)儀是一種非破壞性檢測(cè)工具，廣泛應(yīng)用于工業(yè)、醫(yī)療和其他領(lǐng)域。在工業(yè)領(lǐng)域，X射線檢測(cè)儀主要用于檢測(cè)材料和構(gòu)件的內(nèi)部缺陷。以下是X射線檢測(cè)儀可以檢測(cè)到的一些常見(jiàn)缺陷： 1. 裂紋：如焊縫中的裂紋
2023-09-18 15:53:42393 PFA花籃（PFA wafer Cassette） 又名 清洗花藍(lán) ，鐵氟龍卡匣 ， 鐵氟龍晶舟盒 ，鐵氟龍晶圓盒為承載半導(dǎo)體晶圓片/硅片
2023-08-29 08:57:51
制造業(yè)的全面智能化發(fā)展對(duì)工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量檢測(cè)提出了新的要求。本文總結(jié)了機(jī)器學(xué)習(xí)方法在表面缺陷檢測(cè)中的研究現(xiàn)狀，表面缺陷檢測(cè)是工業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)的關(guān)鍵部分。首先，根據(jù)表面特征的用途，從紋理特征、顏色特征
2023-08-17 11:23:29529 
在許多工業(yè)環(huán)境中，確保設(shè)備、零件或產(chǎn)品的氣密性是至關(guān)重要的。為了滿足這些需求，多通道氣密性檢測(cè)設(shè)備被廣泛應(yīng)用，以提供準(zhǔn)確且高效的解決方案。這篇文章將探討這種設(shè)備的主要應(yīng)用和優(yōu)勢(shì)。 多通道氣密性檢測(cè)
2023-08-11 15:32:39323 
工業(yè)CT內(nèi)部缺陷掃描檢測(cè)設(shè)備是一種先進(jìn)的非破壞性檢測(cè)技術(shù)，通過(guò)采集物體內(nèi)部的X射線圖像并重構(gòu)三維立體模型，以揭示材料內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和特征。它在現(xiàn)代制造業(yè)和科學(xué)研究領(lǐng)域中具有重要地位，是無(wú)損評(píng)估和質(zhì)量
2023-08-10 17:13:351035 
，會(huì)對(duì)設(shè)施和環(huán)境安全造成嚴(yán)重威脅。因此，針對(duì)管道的缺陷檢測(cè)與識(shí)別是一個(gè)非常重要的研究方向。下面安泰電子將為大家詳細(xì)介紹電壓放大器在管道缺陷檢測(cè)中的應(yīng)用。 圖：ATA-2000系列高壓放大器 確定缺陷位置 在管道缺陷檢測(cè)中
2023-07-26 16:57:13265 
1. 摘要 CVPR VISION 23挑戰(zhàn)賽第1賽道 "數(shù)據(jù)智能缺陷檢測(cè) "要求參賽者在數(shù)據(jù)缺乏的環(huán)境下對(duì)14個(gè)工業(yè)檢測(cè)數(shù)據(jù)集進(jìn)行實(shí)例分割。本論文的方法聚焦于在有限訓(xùn)練樣本的場(chǎng)景下提高缺陷掩模
2023-07-18 15:28:12364 
本文采用Halcon圖像處理軟件來(lái)搭建工業(yè)標(biāo)簽表面缺陷檢測(cè)的檢測(cè)系統(tǒng)，主要檢測(cè)過(guò)程為：利用工業(yè)相機(jī)對(duì)傳送帶上待檢的工業(yè)標(biāo)簽進(jìn)行圖像采集和預(yù)處理，最后通過(guò)模板配準(zhǔn)檢測(cè)出缺陷所在的區(qū)域。
2023-07-13 12:19:56770 
舉例說(shuō)明： 如果K=3，綠色圓點(diǎn)的最近的3個(gè)鄰居是2個(gè)紅色小三角形和1個(gè)藍(lán)色小正方形，少數(shù)從屬于多數(shù)，基于統(tǒng)計(jì)的方法，判定綠色的這個(gè)待分類點(diǎn)屬于紅色的三角形一類。如果K=5，綠色圓點(diǎn)的最近的5個(gè)鄰居
2023-07-03 10:33:47444 
旨在探討熱電偶在晶圓制造中的應(yīng)用及其優(yōu)化方法，以提高晶圓制造的質(zhì)量和效率。二、熱電偶的基本原理和工作原理熱電偶是一種基于熱電效應(yīng)的溫度測(cè)量設(shè)備。它由兩種不同金屬制成
2023-06-30 14:57:40
表面缺陷檢測(cè)是機(jī)器視覺(jué)技術(shù)的一種，通常是指檢測(cè)物品表面的瑕疵，利用計(jì)算機(jī)視覺(jué)模擬人眼視覺(jué)的功能，對(duì)圖像進(jìn)行采集、處理和計(jì)算，最后對(duì)特定物體進(jìn)行實(shí)際檢測(cè)、控制和應(yīng)用。
2023-06-30 11:50:20358 
、有漏檢、檢驗(yàn)不到位、檢驗(yàn)馬虎等問(wèn)題——視覺(jué)檢測(cè)給客戶帶來(lái)改善——視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)是指由相機(jī)鏡頭將產(chǎn)品捕捉，通過(guò)圖像進(jìn)行檢測(cè)分析產(chǎn)品是否缺陷/瑕疵，后將數(shù)據(jù)整理匯總系
2023-06-28 14:28:26
樣本少的情況下實(shí)現(xiàn)高精度的檢測(cè)呢？目前有兩種方法，一種是小樣本學(xué)習(xí)，另一種是用GAN。本文將介紹一種GAN用于無(wú)缺陷樣本產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)。 ? 深度學(xué)習(xí)在計(jì)算機(jī)視覺(jué)主流領(lǐng)域已經(jīng)應(yīng)用的很成熟，但是在工業(yè)領(lǐng)域，比如產(chǎn)品表面缺
2023-06-26 09:54:04688 
少的情況下實(shí)現(xiàn)高精度的檢測(cè)呢？目前有兩種方法，一種是小樣本學(xué)習(xí)，另一種是用GAN。本文將介紹一種GAN用于無(wú)缺陷樣本產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)。
2023-06-26 09:49:01549 
M451,ADC如何設(shè)置多通道依次轉(zhuǎn)換？比如我想讓ADC_CH0,ADC_CH1,ADC_CH5,ADC_CH8,ADC_CH9,ADC_CH12,這6個(gè)通道依軟轉(zhuǎn)換。
2023-06-26 06:52:59
M451系列，ADC如何設(shè)置多通道連續(xù)轉(zhuǎn)換？有手冊(cè)嗎？
2023-06-25 09:40:53
N76E003 能使用多通道ADC嗎？如何配置？
2023-06-25 06:27:23
統(tǒng)和運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)。系統(tǒng)對(duì)漆面缺陷檢測(cè)的過(guò)程和結(jié)果全程保存在本地電腦數(shù)據(jù)庫(kù)上，同時(shí)可以與車間管理系統(tǒng)對(duì)接，實(shí)現(xiàn)檢測(cè)結(jié)果的分類查詢、匯總分析功能。
2023-06-19 10:12:481925 
Modzy在云中和邊緣部署機(jī)器學(xué)習(xí)模型。他們構(gòu)建了上面的演示，以向他們的制造客戶展示在工廠中使用機(jī)器學(xué)習(xí)來(lái)檢測(cè)缺陷是多么容易和經(jīng)濟(jì)實(shí)惠。
2023-06-12 10:37:19193 
芯片功能測(cè)試常用5種方法有板級(jí)測(cè)試、晶圓CP測(cè)試、封裝后成品FT測(cè)試、系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試、可靠性測(cè)試。
2023-06-09 16:25:42
VT6000系列共聚焦3D圖像顯微鏡具有優(yōu)異的光學(xué)分辨率，通過(guò)清晰的成像系統(tǒng)能夠細(xì)致觀察到晶圓表面的特征情況，例如：觀察晶圓表面是否出現(xiàn)崩邊、刮痕等缺陷。電動(dòng)塔臺(tái)可以自動(dòng)切換不同的物鏡倍率，軟件自動(dòng)
2023-06-08 14:39:01
一.前言無(wú)損檢測(cè)方法是利用聲、光、電、熱、磁及射線等與被測(cè)物質(zhì)的相互作用，在不破壞和損傷被測(cè)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和性能的前提下，檢測(cè)材料、構(gòu)件或設(shè)備中存在的內(nèi)外部缺陷，并能確定缺陷的大小、形狀和位置。無(wú)損檢測(cè)
2023-06-08 10:04:31545 
蔡司工業(yè)CT自動(dòng)缺陷檢測(cè)軟件可以可靠、快速和自動(dòng)地檢測(cè)和評(píng)估鑄件中即使是最小的缺陷。機(jī)器學(xué)習(xí)使之成為可能！您的優(yōu)勢(shì)：僅需60秒即可進(jìn)行缺陷分析可靠的評(píng)估綜合報(bào)告檢測(cè)鑄件缺陷在復(fù)雜的鑄件制造過(guò)程中
2023-06-07 16:33:07334 
與寧德時(shí)代傳統(tǒng)的電池缺陷檢測(cè)方法相比，基于 AI 技術(shù)的新方案有更好的速度與更高的精度，達(dá)到了預(yù)先設(shè)定的目標(biāo)——零漏檢及單工序 400FPS 以上的圖像處理速度。
2023-06-05 14:31:02536 
過(guò)程中表面不可避免地會(huì)出現(xiàn)裂紋、劃痕、凸起等不良特征，厚度未達(dá)標(biāo)或帶有缺陷的石墨片未被及時(shí)剔除，裝配到紐扣電池中，則直接影響電池品質(zhì)。針對(duì)石墨片厚度及缺陷檢測(cè)，昂視
2023-06-05 10:26:37435 
AOI（Automated Optical Inspection）的全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，在生產(chǎn)過(guò)程中，對(duì)電池片的外觀缺陷和顏色進(jìn)行分選。
2023-06-02 14:45:532675 
方案背景隨著科技的不斷進(jìn)步和工業(yè)自動(dòng)化的推廣，紡織品生產(chǎn)中采用自動(dòng)化缺陷檢測(cè)技術(shù)已成為趨勢(shì)。傳統(tǒng)的人工檢測(cè)方式不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，而且容易產(chǎn)生主觀誤判和漏檢等問(wèn)題，影響了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。因此，建立一套
2023-05-16 11:24:341062 
半導(dǎo)體大規(guī)模生產(chǎn)過(guò)程中需要在晶圓上沉積集成電路芯片，然后再分割成各個(gè)單元，最后再進(jìn)行封裝和焊接，因此對(duì)晶圓切割槽尺寸進(jìn)行精準(zhǔn)控制和測(cè)量，是生產(chǎn)工藝中至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。
2023-05-09 14:12:38
半導(dǎo)體大規(guī)模生產(chǎn)過(guò)程中需要在晶圓上沉積集成電路芯片，然后再分割成各個(gè)單元，最后再進(jìn)行封裝和焊接，因此對(duì)晶圓切割槽尺寸進(jìn)行精準(zhǔn)控制和測(cè)量，是生產(chǎn)工藝中至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。
2023-04-28 17:41:49
太陽(yáng)能電池板是光伏發(fā)電系統(tǒng)的核心組件，其質(zhì)量的好壞關(guān)系到光伏發(fā)電系統(tǒng)的工作效率和使用壽命。因此，定期對(duì)太陽(yáng)能電池板進(jìn)行缺陷檢測(cè)是必要的。太陽(yáng)能電池板缺陷檢測(cè)是確保太陽(yáng)能電池板性能的重要環(huán)節(jié)，通常可以分為以下幾類：
2023-04-24 16:11:161720 如何防止PCBA焊接中常見(jiàn)的假焊和虛焊缺陷呢？有哪些方法呢？
2023-04-06 16:33:09
wafer晶圓GDP703202DG恒流1mA表壓2Mpa裸片壓力傳感器die產(chǎn)品概述：GDP0703 型壓阻式壓力傳感器晶圓采用 6 寸 MEMS 產(chǎn)線加工完成，該壓力晶圓的芯片由一個(gè)彈性膜及集成
2023-04-06 14:48:12
多通道密封檢漏儀-檢測(cè)儀器藥品包裝是指為藥品在運(yùn)輸、貯存、管理過(guò)程和使用中提供保護(hù)、分類和說(shuō)明的作用，選用適宜的包裝材料或容器，采用適宜的包裝技術(shù)對(duì)藥品或藥物制劑進(jìn)行分(罐)、封、裝、貼簽等加工過(guò)程
2023-04-04 11:03:06
為構(gòu)建高性能的缺陷檢測(cè)平臺(tái)，雙方首先從基礎(chǔ)架構(gòu)入手，根據(jù)總部云數(shù)據(jù)中心、各產(chǎn)線的生產(chǎn)管理系統(tǒng)、各類檢測(cè)設(shè)備在缺陷檢測(cè)流程中的不同作用，以及所處的不同場(chǎng)景帶來(lái)的特定需求，設(shè)計(jì)出 “云 - 邊 - 端” 協(xié)同的方案。
2023-04-03 09:31:51752
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