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跳頻頻率合成器的性能指標(biāo)及仿真分析

電子設(shè)計(jì) ? 來(lái)源:郭婷 ? 作者:電子設(shè)計(jì) ? 2019-06-03 08:11 ? 次閱讀

跳頻通信技術(shù)是一種擴(kuò)頻技術(shù),也是最常用的一種擴(kuò)頻抗干擾技術(shù),通過(guò)載波頻率在一定的范圍內(nèi)按某種序列進(jìn)行跳變,使信號(hào)頻譜得以擴(kuò)展,以抑制信道中的干擾。跳頻頻率合成器是實(shí)現(xiàn)跳頻通信的核心部件,它直接關(guān)系到跳頻通信的性能,其主要指標(biāo)有相位噪聲、鎖定時(shí)間、跳頻帶寬、頻率數(shù)目等,其中又以相位噪聲和鎖定時(shí)間最重要,他們直接關(guān)系到跳頻系統(tǒng)通信質(zhì)量和抗干擾能力。

1 鎖相環(huán)頻合器相位噪聲的分析

1.1 鎖相環(huán)(PLL)頻合器各功能部件相位噪聲的估算

PLL頻合器各功能部件對(duì)相位噪聲均有貢獻(xiàn)。分析和估算各部件對(duì)總相位噪聲影響的方法是利用鎖相環(huán)線性時(shí)不變模型,把各個(gè)功能塊看成無(wú)噪聲,并將噪聲信號(hào)加到PLL各功能塊的求和節(jié)點(diǎn),如圖1所示。假定各噪聲源是獨(dú)立的,先求出每一部件在輸出端的相位噪聲,再利用疊加法確定PLL頻合器輸出端總的相位噪聲,且在求某一噪聲源影響時(shí),令其他噪聲源輸出為零。各部件在輸出端相位噪聲是通過(guò)各自的傳遞函數(shù)來(lái)求得的。如設(shè)某一相位噪聲源為φnX,輸出相位噪聲為φo(s),則φnX到輸出端的傳遞函數(shù)為:

跳頻頻率合成器的性能指標(biāo)及仿真分析

1.2 PLL頻合器相位噪聲仿真

我們利用ADS仿真軟件,驗(yàn)證上述分析得出的結(jié)論。采用電荷泵三階無(wú)源環(huán)路濾波器,設(shè)定電路的原始參數(shù)為環(huán)路帶寬10 kHz,Kd=1/10π,Ko=1 MHz/V,分頻比為1 000。為了分析環(huán)路參數(shù)變化對(duì)輸出相位噪聲的影響,首先根據(jù)原始數(shù)據(jù)進(jìn)行仿真,然后分別改變其中的某一參數(shù),仿真變參數(shù)后對(duì)系統(tǒng)輸出的影響。

跳頻頻率合成器的性能指標(biāo)及仿真分析

仿真電路如圖2所示,仿真結(jié)果見圖3,圖中設(shè)頻標(biāo)m1~m7,分別對(duì)應(yīng)頻率1 Hz,100 Hz,1 kHz,100 kHz,1 MHz和10 MHz。

跳頻頻率合成器的性能指標(biāo)及仿真分析
跳頻頻率合成器的性能指標(biāo)及仿真分析

仿真結(jié)果中變參數(shù)數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)比較:在環(huán)路帶寬內(nèi)(頻標(biāo)m1~m3),N的增加增大了相位噪聲,Kd的增加減少了m2~m3處的相噪,而Ko的增加對(duì)帶內(nèi)的相噪影響不大;在環(huán)路帶寬外,Ko的增加增大了m4~m6處的相噪,Kd和N的增加對(duì)相位噪聲沒(méi)什么影響(m4~m7處);環(huán)路帶寬fc增加一倍,則增加了m4~m7的相噪,而fc減少一倍,則減少了m4~m6處的相噪。

跳頻頻率合成器的性能指標(biāo)及仿真分析

2 鎖相環(huán)頻合器鎖定時(shí)間的分析

鎖定時(shí)間與環(huán)路帶寬成反比,帶寬越大,鎖定時(shí)間越短,系統(tǒng)跟蹤性能越好。分析鎖定時(shí)間,首先要得出環(huán)路濾波器的傳遞函數(shù)。對(duì)于圖2中電荷泵三階無(wú)源環(huán)路濾波器,其傳遞函數(shù)形式為:

跳頻頻率合成器的性能指標(biāo)及仿真分析

3 S波段寬帶快速跳頻頻合器的實(shí)現(xiàn)

3.1 技術(shù)指標(biāo)及方案選擇

跳頻頻合器主要技術(shù)指標(biāo):輸出頻段S波段,頻帶范圍500 MHz;頻率轉(zhuǎn)換時(shí)間<120μs;相位噪聲在偏離載波1 kHz,10 kHz,100 kHz處分別小于-70 dBc/Hz,-80 dBc/Hz,-90 dBc/Hz。

我們采用了DDS分頻的PLL組合頻率合成器技術(shù)方案,選用ADI公司的AD9956芯片,該芯片集成了DDS與PLL兩部分,DDS作為頻合器中的分頻器,內(nèi)部時(shí)鐘頻率可達(dá)400 MSPS,14位的D/A轉(zhuǎn)換器,48位的頻率調(diào)制字,PLL RF分頻器輸入頻率范圍1~2700 MHz,設(shè)計(jì)方案見圖4。

跳頻頻率合成器的性能指標(biāo)及仿真分析

3.2 頻合器相位噪聲及鎖定時(shí)間可行性論證

3.2.1 輸出總相位噪聲可行性的分析

由PLL頻合器基本工作原理可知,頻合器環(huán)路帶寬內(nèi)相位噪聲與基準(zhǔn)頻率源、鑒頻鑒相器噪聲基底、分頻器輸出信號(hào)有關(guān),而帶外的相噪與VCO有關(guān)。

AD9956芯片的相位噪聲來(lái)自鑒頻鑒相器噪聲基底和DAC輸出的相位噪聲,這里DAC輸出信號(hào)為PLL頻合器分頻器的輸出信號(hào)。AD9956的鑒頻鑒相器噪聲基底在工作頻率為50 kHz,2 MHz,100 MHz,200 MHz時(shí)分別為-149 dBc/Hz,-133 dBc/Hz,-116 dBc/Hz,-113 dBc/Hz;AD9956中DAC輸出頻率為51.84 MHz時(shí),偏離載波10 Hz,100 Hz,1 kHz,100 kHz,>1 MHz處的相位噪聲分別為-119 dBc/Hz,-125 dBc/Hz,-132 dBc/Hz,-142 dBc/Hz,-150 dBc/Hz,-155 dBc/Hz。由于DAC具有低相位噪聲性能,基準(zhǔn)頻率源通常又采用穩(wěn)定度高、相位噪聲低的晶振,所以頻合器帶內(nèi)相位噪聲主要取決于AD9956中鑒頻鑒相器的噪聲基底,其理論計(jì)算值由下式得到:

式中[?]表示對(duì)數(shù)值,N為系統(tǒng)的分頻比,[LPFD]為所使用鑒相頻率噪聲基底的分貝數(shù)。設(shè)鑒相頻率為25 MHz,可推算噪聲基底-122 dBc/Hz,設(shè)N=92,因此由式(10)得帶內(nèi)相位噪聲為:

根據(jù)理論計(jì)算值,如選擇合適的環(huán)路帶寬是能滿足指標(biāo)要求的,但由于頻率高、頻帶寬,且要考慮獲得快速鎖定的大環(huán)路帶寬,因此滿足指標(biāo)的相位噪聲富裕量不大,在器件選擇、PCB設(shè)計(jì)時(shí)要周密考慮,盡量達(dá)到理論計(jì)算值。

3.2.2 跳頻鎖定時(shí)間可行性分析

跳頻鎖定時(shí)間的估算包括DDS的頻率轉(zhuǎn)換時(shí)間、PLL轉(zhuǎn)換時(shí)間以及控制電路的轉(zhuǎn)換時(shí)間。DDS的頻率跳變時(shí)間與PLL轉(zhuǎn)換時(shí)間和控制電路轉(zhuǎn)換時(shí)間比起來(lái)要小得多,因此可以忽略。

PLL頻率轉(zhuǎn)換時(shí)間與環(huán)路狀態(tài)有關(guān)。采用電荷泵三階無(wú)源環(huán)路濾波器,設(shè)環(huán)路帶寬fc=100 kHz、頻率容忍度ε=500 kHz,利用式(9)可得跳頻間隔500 MHz時(shí)的頻率轉(zhuǎn)換時(shí)間為28μs。

AD9956的狀態(tài)和頻率控制字采用串行方式輸入,要對(duì)32 b功能控制寄存器CFR1、40 b功能控制寄存器CFR2、64 b頻率控制寄存器PCR0和各自的8 b地址信息,總共寫入160 b的有用信息。為了減小系統(tǒng)復(fù)雜度,使用單片機(jī)產(chǎn)生的時(shí)鐘,在每次對(duì)AD9956寫入1 b有用信息時(shí),需要三個(gè)周期的時(shí)鐘控制,160 b有用信息就需480個(gè)時(shí)鐘周期,計(jì)算頻率控制字和單片機(jī)控制需要40個(gè)時(shí)鐘周期,合起來(lái)一次跳頻控制需要520個(gè)時(shí)鐘周期。如單片機(jī)采用8 MHz晶振作為時(shí)鐘,控制電路的轉(zhuǎn)換時(shí)間為:

如果提高時(shí)鐘頻率,可進(jìn)一步減小控制電路的轉(zhuǎn)換時(shí)間。因此合理的選擇環(huán)路中有關(guān)參數(shù),鎖定時(shí)間是能達(dá)到指標(biāo)要求的。

3.3 測(cè)試結(jié)果

相位噪聲的測(cè)試結(jié)果:在工作頻率范圍內(nèi),偏離載波1 kHz,10 kHz,100 kHz時(shí)的相位噪聲分別小于-73 dBc/Hz,-81dBc/Hz和-93 dBc/Hz,且整個(gè)輸出頻帶內(nèi)雜散輸出均小于-70 dBc。圖5(a),圖5(b)分別示出了f0=1 800 MHz,f0=2 300 MHz時(shí)的相位噪聲測(cè)試頻譜圖,從圖5(b)可看出在1 000 MHz的頻率范圍內(nèi)對(duì)雜散的抑制很好。

跳頻頻率合成器的性能指標(biāo)及仿真分析

頻率鎖定時(shí)間測(cè)試結(jié)果:工作頻率范圍內(nèi)最大的頻率跳變(500 MHz)鎖定時(shí)間為110 μs,表2示出了測(cè)試結(jié)果。圖5(c),圖5(d)分別示出了頻率跳變范圍為1 880~1 980 MHz,1 800~2 300 MHz VCO測(cè)量電壓的變化曲線。

跳頻頻率合成器的性能指標(biāo)及仿真分析

4 結(jié)語(yǔ)

跳頻頻率合成器設(shè)計(jì)和制作的重點(diǎn)之一是要解決頻率捷變快速鎖定的問(wèn)題,文章對(duì)鎖相環(huán)頻合器的相位噪聲和鎖定時(shí)間進(jìn)行了分析,并進(jìn)行了仿真;采用基于DDS分?jǐn)?shù)分頻的鎖相環(huán)頻合器方案,實(shí)現(xiàn)了S波段寬帶跳頻頻合器。試驗(yàn)結(jié)果表明,采用該方案的頻率合成器頻率轉(zhuǎn)換速度快、相噪低、頻譜純度高,同時(shí)滿足低功耗、小型化要求,驗(yàn)證了該方案的合理性和實(shí)用性。


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