EBSD樣品制備
EBSD樣品的制備過程對實驗結果的準確性和可靠性有著極為重要的影響。目前,常用的EBSD樣品制備方法包括機械拋光、電解拋光和聚焦離子束(FIB)等,但這些方法各有其局限性。

1.機械拋光的局限性
機械拋光是一種傳統的EBSD樣品制備方法,雖然操作相對簡單,但存在諸多問題。首先,由于其硬度較大,可能會劃傷材料表面,尤其不適合硬度較低的材料。其次,機械拋光可能引入形變應力和表面形變層,這會對后續的EBSD分析產生干擾。對于多相材料,不同侵蝕速度可能導致表面不均勻,侵蝕過程還可能加速晶界腐蝕,降低EBSD的標定成功率。此外,機械拋光后的水洗過程可能導致材料氧化,因此不適用于易氧化材料。
2.FIB技術的局限性
與機械拋光相比,FIB技術雖然能夠實現精確的逐層切割,但同樣存在一些問題。鎵離子的重量較大,可能導致樣品表面形成較厚的非晶層,特別是在易于發生相變的材料中,FIB的轟擊可能引發第二相的產生,從而影響實驗數據的準確性。此外,FIB的測試區域較小,耗時較長,成本較高,不利于大規模觀察。
氬離子拋光技術
在這樣的背景下,氬離子拋光作為一種新興的EBSD樣品制備技術應運而生。它利用高電流密度的氬離子束對樣品進行轟擊,能夠顯著減少應力層和非晶層的厚度,避免制樣方法對實驗數據的誤導。
由于氬離子拋光不會引入額外的機械應力或化學反應,晶格畸變較小,有助于提高EBSD的標定率,降低標定參數,提高標定效率,節省時間。因此,氬離子拋光被認為是一種重要的EBSD樣品制備方法。該系統配備了低能量聚集能力的離子槍,能夠在極低的能量水平(低至100 eV)下進行拋光,特別適合對精細樣品進行處理。這種低能量拋光方式能夠在不損傷樣品內部結構的前提下,快速去除表面缺陷,展現出卓越的拋光效率。同時,氬離子拋光系統的操作靈活性也是其顯著優勢之一,操作者可以根據不同的樣品和需求,隨時調整離子槍的角度,并通過觸摸屏手動或自動調節氣體流量以及優化工作電流。
氬離子拋光技術的實踐案例
案例一:多層結構半導體材質1. 樣品預處理:
將樣品表面磨拋平整,采用9um金剛石砂紙進行初步打磨,以確保樣品表面的平整度和光潔度。
2. 氬離子束切割:
使用Gatan 685對樣品表面進行切割,設定電壓為7kV,切割時間根據樣品觀察面的大小進行調整。通過氬離子束的精確轟擊,能夠有效去除樣品表面的應力層和非晶層,同時避免對樣品內部結構的破壞。

不同區域的菊池花樣


3.結果:
經過氬離子拋光技術處理后的多層結構半導體材質樣品,每層都能清晰地觀察到,焊球的結構清晰可見。菊池花樣表明制備出的樣品表面質量高,為后續的EBSD分析提供了高質量的數據支持。
案例二:銅合金1. 樣品預處理:
將樣品表面磨拋平整,采用9um金剛石砂紙進行初步打磨,確保樣品表面的平整度和光潔度。
2. 氬離子束切割:
使用氬離子束切割儀對樣品表面進行切割,設定電壓為7kV,切割時間根據樣品觀察面的大小進行調整。通過氬離子束的精確轟擊,能夠有效去除樣品表面的應力層和非晶層,同時避免對樣品內部結構的破壞。

晶粒取向分布圖和稱度圖像

菊池花樣

銅合金的晶粒結構
3.結果:
銅合金晶粒結構的細節清晰可見,包括晶粒取向關系、晶界類型、再結晶晶粒等信息。可觀察到銅合金樣品表面清晰的菊池花樣,這表明該樣品經過氬離子束研磨拋光后制備質量非常好。晶粒取向分布圖和晶粒尺寸圖像進一步驗證了樣品的高質量,為深入理解銅合金的微觀結構和性能提供了有力支持。
-
fib
+關注
關注
1文章
75瀏覽量
11225 -
離子束
+關注
關注
0文章
70瀏覽量
7574
發布評論請先 登錄
相關推薦
失效分析:離子束剖面研磨
聚焦離子束應用介紹
氬離子拋光制樣讓你的材料樣品內部結構真實展現
制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)分析的氬離子拋光和化學拋光(CP)截面樣品

評論