薄膜電容是指將金屬箔或金屬化合物制成的電極和絕緣材料相互重疊卷繞形成的電容器，薄膜電容的薄膜厚度通常在幾微米到幾十微米，因此薄膜材料可以繞著電極相互重疊而不厚重。

在電子領(lǐng)域中，薄膜電容作為一種常見的電子元器件，廣泛應(yīng)用于各種電路系統(tǒng)中，發(fā)揮著濾波、儲(chǔ)能、耦合等關(guān)鍵作用。

使用電子產(chǎn)品時(shí)間久了會(huì)出現(xiàn)損耗問題，薄膜電容也不例外。在使用過程中，薄膜電容的損耗不僅影響其性能表現(xiàn)，還可能對(duì)電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性造成不良影響。

一、損耗

損耗是指在信號(hào)傳輸過程中由于各種因素而導(dǎo)致信號(hào)能量的損失。薄膜電容的損耗是指在電場(chǎng)作用下，單位時(shí)間內(nèi)電容器因發(fā)熱而消耗掉的能量。

二、薄膜電容的損耗類別

薄膜電容中的損耗有兩類：介質(zhì)損耗和電極損耗。

1. 介質(zhì)損耗

介質(zhì)損耗是指絕緣材料本身對(duì)信號(hào)的吸收和散射所引起的信號(hào)能量損失。

電介質(zhì)在外電場(chǎng)作用下，其內(nèi)部會(huì)有發(fā)熱現(xiàn)象，這說明有部分電能已轉(zhuǎn)化為熱能耗散掉，電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下，在單位時(shí)間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的能量稱為電介質(zhì)的損耗功率，或簡(jiǎn)稱介質(zhì)損耗。

介質(zhì)損耗不但消耗了電能，而且使元件發(fā)熱影響其正常工作。如果介電損耗較大，還會(huì)引起介質(zhì)過熱而導(dǎo)致絕緣破壞，因此介質(zhì)損耗是越小越好。

2.電極損耗

電極損耗是指由于金屬電極導(dǎo)體本身存在一定的電阻和感抗，使得信號(hào)通過時(shí)會(huì)產(chǎn)生一定的能量消耗。

在高頻應(yīng)用中，金屬導(dǎo)體表面還會(huì)形成一層皮層，在這一層皮層中也會(huì)產(chǎn)生一定的能量消耗。而這種能量消耗過大，使薄膜電容內(nèi)部溫度升高，溫度升高容易導(dǎo)致電子產(chǎn)品性能下降。

因此，在高頻應(yīng)用時(shí)需要特別注意減小電極損耗。

不管是對(duì)薄膜電容還是電子產(chǎn)品來說損耗越小就越好。