在《NFC之華為AIPASS認(rèn)證：測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介》中我們了解了AIPASS測(cè)試系統(tǒng)中的測(cè)試工具，即：用什么來(lái)測(cè)試。

本章開(kāi)始，我們來(lái)了解AIPASS測(cè)試用例，如下是用思維導(dǎo)圖理出來(lái)的一個(gè)用例列表圖——

該用例包括射頻兼容性技術(shù)要求、協(xié)議兼容性技術(shù)要求、AID使用規(guī)范、互操作成功率技術(shù)要求、端到端刷卡時(shí)間技術(shù)要求，所測(cè)試的對(duì)象為華為生態(tài)鏈支持NFC的設(shè)備，包括智能門(mén)鎖、汽車(chē)鑰匙、社區(qū)門(mén)禁、公共交通收費(fèi)機(jī)等。

載波頻率

NFC讀寫(xiě)設(shè)備的載波頻率需保證在13.56MHz±10kHz范圍內(nèi)。

最小發(fā)射場(chǎng)強(qiáng)

發(fā)射場(chǎng)強(qiáng)直接影響到刷卡距離和體驗(yàn)，發(fā)射場(chǎng)強(qiáng)過(guò)小會(huì)導(dǎo)致刷卡距離短甚至刷卡失敗。該測(cè)試分別使用NFC Forum Listener1、3、6進(jìn)行測(cè)試，使用82ohm負(fù)載

最大發(fā)射場(chǎng)強(qiáng)

發(fā)射場(chǎng)強(qiáng)過(guò)大可能導(dǎo)致近距離刷卡時(shí)因?yàn)?a target="_blank">信號(hào)飽和而導(dǎo)致刷卡失敗，同時(shí)發(fā)射場(chǎng)強(qiáng)過(guò)大也會(huì)帶來(lái)更高的功耗。該測(cè)試分別使用NFCForumListener1、3、6進(jìn)行測(cè)試，使用82ohm負(fù)載

波形調(diào)制質(zhì)量

NFC讀寫(xiě)設(shè)備的發(fā)射信號(hào)調(diào)制質(zhì)量直接影響刷卡效果，如果發(fā)射波形失真嚴(yán)重會(huì)直接導(dǎo)致刷卡失敗。該測(cè)試使用NFC Forum Listener 1測(cè)試；

NFC讀寫(xiě)設(shè)備協(xié)議兼容性

包括：上電等待保護(hù)時(shí)間、APDU響應(yīng)超時(shí)機(jī)制測(cè)試、選擇確認(rèn)ASK協(xié)議字段兼容性、Mifare鑒權(quán)/讀命令/寫(xiě)命令超時(shí)間測(cè)試、卡在位檢測(cè)

AID技術(shù)規(guī)范

AID是用于尋址卡中應(yīng)用的標(biāo)識(shí)，當(dāng)前大多數(shù)智能NFC終端支持模擬多張不同的卡片應(yīng)用，當(dāng)前大多數(shù)城市交通卡采用交通部或住建部的AID來(lái)選擇應(yīng)用，而門(mén)禁和智能門(mén)鎖沒(méi)有統(tǒng)一的AID，這對(duì)于智能終端識(shí)別和智能選擇匹配的卡片帶來(lái)很大的障礙，因此華為AIPASS制定了AID使用規(guī)范——

AID其由注冊(cè)的應(yīng)用提供商標(biāo)識(shí)RID和擴(kuò)展的專(zhuān)用應(yīng)用標(biāo)識(shí)PIX組成，RID由華為頒發(fā)，PIX則用于區(qū)分應(yīng)用發(fā)行者的不同應(yīng)用，由華為Wallet Kit開(kāi)發(fā)者平臺(tái)自動(dòng)生成。

進(jìn)行該測(cè)試時(shí)，為排除射頻性能影響，應(yīng)該在射頻性能良好的刷卡點(diǎn)位進(jìn)行。

互操作成功率測(cè)試

測(cè)試方法：使用機(jī)械臂夾持華為手機(jī)/穿戴產(chǎn)品，以1m/s的速度快速靠近NFC讀寫(xiě)設(shè)備，等待2s后快速離開(kāi)，

判定方法：統(tǒng)計(jì)在不同點(diǎn)位多次交易的綜合成功率是否>=90%，如果成功率滿足達(dá)標(biāo)，且所有高度的中心點(diǎn)必須交易成功，滿足兩個(gè)條件測(cè)試通過(guò)，否則測(cè)試不通過(guò)

交易時(shí)間測(cè)試

在靜止條件下，檢查待測(cè)試NFC讀寫(xiě)設(shè)備完成一次正常的端到端刷卡交易所需要的時(shí)間，該測(cè)試需要覆蓋測(cè)試規(guī)范中所列出的所有設(shè)備。

審核編輯 ：李倩