在導通數據中,原本2,742μJ的開關損耗變為1,690μJ,損耗減少了約38%。在關斷數據中也從2,039μJ降至1,462μJ,損耗減少了約30%。
2020-07-17 17:47:44949 MOSFET/IGBT的開關損耗測試是電源調試中非常關鍵的環節,但很多工程師對開關損耗的測量還停留在人工計算的感性認知上,PFC MOSFET的開關損耗更是只能依據口口相傳的經驗反復摸索,那么該如何量化評估呢?
2022-10-19 10:39:231504 MOS 管的開關損耗對MOS 管的選型和熱評估有著重要的作用,尤其是在高頻電路中,比如開關電源,逆變電路等。
2023-07-23 14:17:001217 的開關損耗測試是電源調試中非常關鍵的環節,開關損耗測試對于器件評估非常關鍵,但很多工程師對開關損耗的測量還停留在人工計算的感性認知上。電源工程師們都知道開關MOS在整個電源系統里面的損耗占比是不小的,開關
2024-01-20 17:08:06916 如圖片所示,為什么MOS管的開關損耗(開通和關斷過程中)的損耗是這樣算的,那個72pF應該是MOS的輸入電容,2.5A是開關電源限制的平均電流
2018-10-11 10:21:49
MOSFET進入電阻區,此時Vds徹底降下來,開通結束。由于米勒電容阻止了Vgs的上升,從而也就阻止了Vds的下降,這樣就會使損耗的時間加長。(Vgs上升,則導通電阻下降,從而Vds下降)。
2021-01-27 15:15:03
開關電源 MOS管損耗MOS管開關電源損耗開關模式電源(Switch Mode Power Supply,簡稱SMPS),又稱交換式電源、開關變換器,是一種高頻化電能轉換裝置,是電源供應器的一種。其
2021-10-29 09:16:45
-請問各位專家,我是個電源新手,剛開始接觸MOS管。現在又些問題,開關損耗主要是導通和關斷這兩個過程,其它損耗可忽略嗎?
2019-06-27 09:10:01
規格書查找得到。 6、Coss電容的泄放損耗Pds Coss電容的泄放損耗,指MOS輸出電容Coss截止期間儲蓄的電場能于導同期間在漏源極上的泄放損耗。 Coss電容的泄放損耗計算:首先須計算或
2020-06-28 17:48:13
MOS管的開關損耗測試是電源調試中非常關鍵的環節,但很多工程師對開關損耗的測量還停留在人工計算的感性認知上,PFCMOS管的開關損耗更是只能依據口口相傳的經驗反復摸索,那么該如何量化評估呢
2018-11-09 11:43:12
,不需要穩壓二極管鉗制。米勒振蕩若只是引起GS絕緣層擊穿,那么加穩壓二極管很容易解決,問題的關鍵在于,米勒振蕩往往引起二次開關,也就是說,導通了又關閉又導通,多次開關,多次開關帶來的直接效應,就是開關損耗
2018-11-20 16:00:00
本帖最后由 小小的大太陽 于 2017-5-31 10:06 編輯
MOS管的導通損耗影響最大的就是Rds,而開關損耗好像不僅僅和開關的頻率有關,與MOS管的結電容,輸入電容,輸出電容都有關系吧?具體的關系是什么?有沒有具體計算開關損耗的公式?
2017-05-31 10:04:51
電源工程師知道,整個電源系統中開關MOS的損耗比不小. 討論最多的是導通損耗和關斷損耗,因為這兩種損耗與傳導損耗或驅動損耗不同,因為它很直觀,所以有些人對其計算仍然有些困惑.今天,我們將詳細分析
2021-10-29 08:43:49
MOS管開通損耗只要不是軟開關,一般都是比較大的。假如開關頻率80KHZ開關電源中,由于有彌勒電容,如果關斷速度夠快是不是MOS管的關斷損耗都算軟關閉,損耗接近0?另外開通和關閉損耗的比例是多少。請大神賜教,越詳細越好。
2021-09-11 23:56:46
要提高開關電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開關電源內部的損耗大致可分為四個方面:開關損耗、導通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗通常會在有損元器件中同時出現,下面將分別討論。 01與功率
2020-08-27 08:07:20
要提高開關電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開關電源內部的損耗大致可分為四個方面:開關損耗、導通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗通常會在有損元器件中同時出現,下面將分別討論。 與功率
2023-03-16 16:37:04
要提高開關電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開關電源內部的損耗大致可分為四個方面:開關損耗、導通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗通常會在有損元器件中同時出現。
2021-03-11 06:04:00
分辨和粗略估算各種損耗。開關電源內部的損耗大致可分為四個方面:開關損耗、導通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗通常會在有損元器件中同時出現,下面將分別討論。與功率開關有關的損耗功率開關是典型的開關
2019-07-01 10:20:34
3、開關動態損耗?? 由于開關損耗是由開關的非理想狀態引起的,很難估算MOSFET 和二極管的開關損耗,器件從完全導通到完全關閉或從完全關閉到完全導通需要一定時間,也稱作死區時間,在這個過程中會產生
2021-12-29 07:52:21
一、開關損耗包括開通損耗和關斷損耗兩種。開通損耗是指功率管從截止到導通時所產生的功率損耗;關斷損耗是指功率管從導通到截止時所產生的功率損耗。二、開關損耗原理分析:(1)、非理想的開關管在開通時,開關
2021-10-29 07:10:32
SiC-MOSFET和SiC-SBD(肖特基勢壘二極管)組成的類型,也有僅以SiC-MOSFET組成的類型。與Si-IGBT功率模塊相比,開關損耗大大降低處理大電流的功率模塊中,Si的IGBT與FRD
2018-12-04 10:14:32
在BUCK型開關電源中,如果沒有損耗,那效率就是100%,但這是不可能的,BUCK型開關電源中主要的損耗是導通損耗和交流開關損耗,導通損耗主要是指MOS管導通后的損耗和肖特基二極管導通的損耗(是指完
2021-10-29 08:08:29
形。 3、逆變橋動態過程分析 1)開通時刻電流由上管IGBT→電感或者負載→N線→上母線電容; 2)關斷時刻電感進行續流→負載→N線→下母線電容→下二極管。 4、IGBT模塊損耗組成部分 IGBT
2023-02-24 16:47:34
直流傳導損耗采用理想組件(導通狀態下零壓降和零開關損耗)時,理想降壓轉換器的效率為100%。而實際上,功耗始終與每個功率元件相關聯。SMPS中有兩種類型的損耗:直流傳導損耗和交流開關損耗。降壓轉換器的傳導損耗主要來自于晶體管Q1、二極管D1和電感L在傳導電流時產生的壓降。為...
2021-10-29 06:18:15
時間trr快(可高速開關)?trr特性沒有溫度依賴性?低VF(第二代SBD)下面介紹這些特征在使用方面發揮的優勢。大幅降低開關損耗SiC-SBD與Si二極管相比,大幅改善了反向恢復時間trr。右側的圖表為
2019-03-27 06:20:11
我用IGBT設計了D類功放,用的管子是FGH60N60SFD,開關頻率為300kHz,上網查資料發現IGBT的開關損耗為圖中公式,查找FGH60N60SFD文檔后計算開關損耗為300000*2.46/1000/3.14=235W,我想問一下,開關損耗真有這么大嗎,是設計的不合理還是我計算錯了?
2019-07-25 10:16:28
損耗與減小米勒平臺區間的損耗方法討論9-降低開關損耗帶來的其它問題分析及高壓 MOSFET 柵極電阻取值10-MOSFET 柵極電阻與米勒平臺時間取值及橋式電路分析11-橋式電路管子誤觸發因素討論
2021-09-08 09:52:54
本帖最后由 張飛電子學院魯肅 于 2021-1-30 13:21 編輯
本文詳細分析計算功率MOSFET開關損耗,并論述實際狀態下功率MOSFET的開通過程和自然零電壓關斷的過程,從而使電子
2021-01-30 13:20:31
振蕩。防止mos管燒毀。過快的充電會導致激烈的米勒震蕩,但過慢的充電雖減小了震蕩,但會延長開關從而增加開關損耗。Mos開通過程源級和漏級間等效電阻相當于從無窮大電阻到阻值很小的導通內阻(導通內阻一般
2019-07-26 07:00:00
討論交流,真正學到知識,現在增加提問,參與回答者贈送張飛實戰電子1部精品課程以下是今日問題:1、開關損耗和續流損耗和哪些因素有關系?2、MOS管在H橋電路中體二極管什么時候會續流?`
2021-06-09 09:08:41
討論交流,真正學到知識,現在增加提問,參與回答者贈送張飛實戰電子1部精品課程以下是今日問題:1、MOS管在H橋電路中怎么解決續流損耗:A、熱源進行分配,大家一起承擔,B、分時載波,一會上管載波,一會
2021-06-15 09:25:50
分布電容引起。改善方法:在繞組層與層之間加絕緣膠帶,來減少層間分布電容。08、開關管MOSFET上的損耗mos損耗包括:導通損耗,開關損耗,驅動損耗。其中在待機狀態下最大的損耗就是開關損耗。改善辦法
2021-04-09 14:18:40
阻小的MOS管40N120會降低導通損耗。 MOS在開啟和關閉時,一定不是瞬間完成。MOS兩端的電壓有一個下降的過程,流過的電流有一個上升的過程。在此期間,MOS管的損失是電壓和電流的乘積,稱為開關損失
2021-12-29 16:53:46
像2301那種mos導通后,VDS電壓是0嗎?也就是沒有損耗?仿真是沒有損耗的
2020-04-16 15:44:28
是基于技術規格書中的規格值的比較,Eon為開關導通損耗,Eoff為開關關斷損耗、Err為恢復損耗。全SiC功率模塊的Eon和Eoff都顯著低于IGBT,至于Err,由于幾乎沒有Irr而極其微小。結論是開關損耗
2018-11-27 16:37:30
:RGWxx65C系列的亮點>使用SiC SBD作為續流二極管的Hybrid IGBT650V耐壓,IC(100℃) 30A/40A/50A有3種可選通過使用SiC SBD,顯著降低了導通時的開關損耗用于xEV車載
2022-07-27 10:27:04
阻,在開關管會給出該指標,如圖3所示Ts表示開關周期t1、t2表示導通狀態的開始時間與結束時間 圖3導通電阻與電流的關系四、開關損耗開關損耗指的是總體的能量損耗,由導通過程損耗、關閉過程損耗、導通損耗組成
2021-11-18 07:00:00
,軟關斷的開關稱之為零電流開關。 功率開關管的軟開關理想波形和硬開關波形如圖1所示,由圖可以看出,在硬開關狀態下,功率開關管兩端的電壓、電流有明顯的交疊區,在此交疊區內產生開關損耗;而在軟開關狀態下,功率開關管兩端的電壓、電流幾乎沒有交疊區,所以也就不會產生開關損耗。
2019-08-27 07:00:00
,截止損耗(漏電流引起的,這個忽略不計),還有雪崩能量損耗。只要把這些損耗控制在mos承受規格之內,mos即會正常工作,超出承受范圍,即發生損壞。而開關損耗往往大于導通狀態損耗(不同mos這個差距可能很大。Mos損壞主要原因:過流----------持續大電流或瞬間超大電流引起的結溫過高而燒毀;過壓
2021-07-05 07:19:31
導致激烈的米勒震蕩,但過慢的充電雖減小了震蕩,但會延長開關從而增加開關損耗。Mos開通過程源級和漏級間等效電阻相當于從無窮大電阻到阻值很小的導通內阻(導通內阻一般低壓mos只有幾毫歐姆)的一個轉變
2020-06-26 13:11:45
公式計算:同樣,關斷損耗的米勒平臺時間在關斷損耗中占主導地位。對于兩個不同的MOSFET,如A管和B管,即使A管的Qg和Ciss小于B管的,但如果A管的Crss比B管的大得多時,A管的開關損耗就有可能
2017-03-06 15:19:01
完全開通,只有導通電阻產生的導通損耗,沒有開關損耗。t1-t2、t2-t3二個階段,電流和電壓產生重疊交越區,因此產生開關損耗。同時,t1-t2和t2-t3二個階段工作于線性區,因此功率MOSFET
2017-02-24 15:05:54
如何更加深入理解MOSFET開關損耗?Coss產生開關損耗與對開關過程有什么影響?
2021-04-07 06:01:07
如何計算MOS管的損耗?
2021-11-01 08:02:22
開關MOS的損耗如何計算?
2021-03-02 08:36:47
極電壓大于G極電壓,MOS管寄生電容Cgd儲存的電量需要在其導通時注入G極與其中的電荷中和,因MOS管完全導通后G極電壓大于D極電壓。米勒效應會嚴重增加MOS管的開通損耗。(MOS管不能很快得進入開關
2018-12-19 13:55:15
就要降低。芯片選型的時候,選擇芯片工作在輕載和空載情況下會跳頻(即降低空載和輕載的工作頻率),MOS管要選用低柵荷的,從而降低損耗。 整流管D1損耗包括開關損耗,反向恢復損耗,導通損耗。整流管選型
2023-03-20 16:59:01
,LLC的諧振電感損耗,同步整流的MOS管損耗。等等。。。針對這些損耗,適當的減小可以提升效率。1.針對MOS管可選用開關速度快的,導通電阻低的,電路上課采用軟開關。2.針對變壓器:選擇合適大小的磁芯
2018-09-18 09:13:29
導通損耗是指功率管還是二極管的,還是兩者都有?謝謝大神的解答!
2016-01-10 16:24:49
導通(為寄生電容充電)時出現一次,而當它關閉(為寄生電容放電)時出現一次。因此,在這兩種情況下估算時間t3作為MOSFET的上升和下降時間,您可使用等式4估算開關損耗:開關損耗取決于頻率和輸入電壓
2018-08-30 15:47:38
的阻值啟動損耗普通的啟動方法,開關電源啟動后啟動電阻回路未切斷,此損耗持續存在改善方法:恒流啟動方式啟動,啟動完成后關閉啟動電路降低損耗。與開關電源工作相關的損耗鉗位電路損耗有放電電阻存在,mos開關管
2021-05-18 06:00:00
時,MOS管的損耗是不容忽視的一部分。下面將詳細計算MOS管的損耗。2. MOS管的損耗來源2.1 MOS開關損耗MOS在開關電源中用作開關器件,顧名思義,MOS會經常的開通和關斷。由于電壓和電流都是
2021-07-29 06:01:56
是為密勒電容(CGD)充電。在米勒時刻期間,漏極電流在IOUT端是恒定的,而VDS從VIN開始下降。在這段時間內的功率損耗通過等式2表示:在等式3中加上總開關損耗的結果:注意,在圖1中,t2比第三個時段
2018-06-05 09:39:43
功率器件損耗主要分為哪幾類?什么叫柵極電荷?開關損耗和柵極電荷有什么關系?
2021-06-18 08:54:19
今天開始看電源界神作《開關電源設計》(第3版),發現第9頁有個名詞,叫“交流開關損耗”,不明白是什么意思,有沒有哪位大蝦知道它的意思啊?謝謝了!!
2013-05-28 16:29:18
詳細查考的事項,但如果從柵極驅動電路中消除了LSOURCE的影響,則根據Figure 4中說明的原理,開關速度將變快。關于關斷,雖然不像導通那樣區別顯著,但速度同樣也會變快。-這就意味著開關損耗得到
2020-07-01 13:52:06
使用絕緣柵雙極晶體管(IGBT)。但隨著半導體技術的進步,碳化硅 (SiC) 金屬氧化物半導體場效應晶體管 (MOSFET) 能夠以比 IGBT 更高的頻率進行開關,通過降低電阻和開關損耗來提高效率
2022-11-02 12:02:05
圖1:開關損耗讓我們先來看看在集成高側MOSFET中的開關損耗。在每個開關周期開始時,驅動器開始向集成MOSFET的柵極供應電流。從第1部分,您了解到MOSFET在其終端具有寄生電容。在首個時段(圖
2022-11-16 08:00:15
MOS門極功率開關元件的開關損耗受工作電壓、電流、溫度以及門極驅動電阻等因素影響,在測量時主要以這些物理量為參變量。但測量的非理想因素對測量結果影響是值得注意的,
2009-04-08 15:21:3232 理解功率MOSFET的開關損耗
本文詳細分析計算開關損耗,并論述實際狀態下功率MOSFET的開通過程和自然零電壓關斷的過程,從而使電子工程師知道哪個參數起主導作用并
2009-10-25 15:30:593320 為了有效解決金屬-氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)在通信設備直流-48 V緩啟動應用電路中出現的開關損耗失效問題,通過對MOSFET 柵極電荷、極間電容的闡述和導通過程的解剖,定位了MOSFET 開關損耗的來源,進而為緩啟動電路設計優化,減少MOSFET的開關損耗提供了技術依據。
2016-01-04 14:59:0538 FPGA平臺實現最小開關損耗的SVPWM算法
2016-04-13 16:12:1110 基于DSP的最小開關損耗SVPWM算法實現。
2016-04-18 09:47:497 使用示波器測量電源開關損耗。
2016-05-05 09:49:380 MOS門極功率開關元件的開關損耗受工作電壓、電流、溫度以及門極驅動電阻等因素影響,在測量時主要以這些物理量為參變量。但測量的非理想因素對測量結果影響是值得注意的,比如常見的管腳引線電感。本文在理論分析和實驗數據基礎上闡述了各寄生電感對IGBT開關損耗測量結果的影響。
2017-09-08 16:06:5221 MOSFET/IGBT的開關損耗測試是電源調試中非常關鍵的環節,但很多工程師對開關損耗的測量還停留在人工計算的感性認知上,PFC MOSFET的開關損耗更是只能依據口口相傳的經驗反復摸索,那么該如何量化評估呢?
2017-11-10 08:56:426345 1、CCM 模式開關損耗
CCM 模式與 DCM 模式的開關損耗有所不同。先講解復雜 CCM 模式,DCM 模式很簡單了。
2018-01-13 09:28:578163 要提高開關電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開關電源內部的損耗大致可分為四個方面:開關損耗、導通損耗、附加損耗和電阻損耗。
2019-06-20 10:01:294747 一個高質量的開關電源效率高達95%,而開關電源的損耗大部分來自開關器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開關器件的損耗,對于效率分析是非常關鍵的。那我們該如何準確測量開關損耗呢?
2019-06-26 15:49:45721 一個高質量的開關電源效率高達95%,而開關電源的損耗大部分來自開關器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開關器件的損耗,對于效率分析是非常關鍵的。那我們該如何準確測量開關損耗呢?
2019-06-27 10:22:081926 一個高質量的開關電源效率高達95%,而開關電源的損耗大部分來自開關器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開關器件的損耗,對于效率分析是非常關鍵的。
2019-07-31 16:54:535929 Mosfet的損耗主要有導通損耗,關斷損耗,開關損耗,容性損耗,驅動損耗
2020-01-08 08:00:0011 電源工程師們都知道開關MOS在整個電源系統里面的損耗占比是不小的,開關mos的的損耗我們談及最多的就是開通損耗和關斷損耗,由于這兩個損耗不像導通損耗或驅動損耗一樣那么直觀,所有有部分人對于它計算還有
2021-03-24 09:45:407010 功率MOSFET的開關損耗分析。
2021-04-16 14:17:0248 一、開關損耗包括開通損耗和關斷損耗兩種。開通損耗是指功率管從截止到導通時所產生的功率損耗;關斷損耗是指功率管從導通到截止時所產生的功率損耗。二、開關損耗原理分析:(1)、非理想的開關管在開通時,開關
2021-10-22 10:51:0611 在BUCK型開關電源中,如果沒有損耗,那效率就是100%,但這是不可能的,BUCK型開關電源中主要的損耗是導通損耗和交流開關損耗,導通損耗主要是指MOS管導通后的損耗和肖特基二極管導通的損耗(是指完
2021-10-22 15:05:5925 電源工程師知道,整個電源系統中開關MOS的損耗比不小. 討論最多的是導通損耗和關斷損耗,因為這兩種損耗與傳導損耗或驅動損耗不同,因為它很直觀,所以有些人對其計算仍然有些困惑.今天,我們將詳細分析
2021-10-22 17:35:5953 ,熱損耗極低。 開關設備極大程度上決定了SMPS的整體性能。開關器件的損耗可以說是開關電源中最為重要的一個損耗點,課件開關損耗測試是至關重要的。接下來普科科技PRBTEK就開關損耗測試方案中的探頭應用進行介紹。 上圖使用MSO5配合THDP0200及TCP003
2021-11-23 15:07:571095 電源工程師們都知道開關MOS在整個電源系統里面的損耗占比是不小的,我們談及最多的就是開通損耗和關斷損耗,由于這兩個損耗不像導通損耗或驅動損耗一樣那么直觀,所以有部分人對于它計算還有些迷茫。
2022-02-10 10:35:2314 MOS管即場效應管(MOSFET),屬于壓控型,是一種應用非常廣泛的功率型開關元件,在開關電源、逆變器、直流電機驅動器等設備中很常見,是電力電子的核心元件。
2022-02-16 16:38:464395 開關電源內部主要損耗要提高開關電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開關電源內部的損耗大致可分為四個方面:開關損耗、導通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗通常會在有損元器件中同時出現,下面將分別討論。
2022-03-21 17:31:393727 開關過程中,穿越線性區(放大區)時,電流和電壓產生交疊,形成開關損耗。其中,米勒電容導致的米勒平臺時間,在開關損耗中占主導作用。
2023-01-17 10:21:00978 全SiC功率模塊與現有的IGBT模塊相比,具有1)可大大降低開關損耗、2)開關頻率越高總體損耗降低程度越顯著 這兩大優勢。
2023-02-08 13:43:22673 從某個外企的功率放大器的測試數據上獲得一個具體的感受:導通損耗60W開關損耗251。大概是1:4.5 下面是英飛凌的一個例子:可知,六個管子的總功耗是714W這跟我在項目用用的那個150A的模塊試驗測試得到的總功耗差不多。 導通損耗和開關損耗大概1:2
2023-02-23 09:26:4915 上一篇文章中探討了同步整流降壓轉換器的功率開關--輸出端MOSFET的傳導損耗。本文將探討開關節點產生的開關損耗。開關損耗:見文識意,開關損耗就是開關工作相關的損耗。在這里使用PSWH這個符號來表示。
2023-02-23 10:40:49623 全SiC功率模塊與現有的功率模塊相比具有SiC與生俱來的優異性能。本文將對開關損耗進行介紹,開關損耗也可以說是傳統功率模塊所要解決的重大課題。
2023-02-24 11:51:28496 MOSFET的柵極電荷(米勒電容)以及控制IC的驅動能力。本應用筆記將詳細分析導通開關損耗以及選擇開關P溝道MOSFET的標準。
2023-03-10 09:26:35557 MOS管在電源應用中作為開關用時將會導致一些不可避免的損耗,這些損耗可以分為兩類。
2023-03-26 16:18:555704 CCM 模式與 DCM 模式的開關損耗有所不同。先講解復雜 CCM 模式,DCM 模式很簡單了。
2023-07-17 16:51:224680 同步buck電路的mos自舉驅動可以降低mos的開關損耗嗎? 同步buck電路的MOS自舉驅動可以降低MOS的開關損耗 同步Buck電路是一種常見的DC/DC降壓轉換器,它具有高效、穩定、可靠的特點
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2024-01-12 09:07:171028
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