本文介紹如何利用先進的測試平臺來對ADSL芯片的某些關鍵參數進行測試，從而使半導體制造商能夠降低ADSL器件的測試成本。
2011-11-21 17:49:28
1805 ，然高瓦數的SMU往往價格昂貴，有鑒于此，美商國家儀器（NI）發布新一代PXI模組化 SMU儀器，助力客戶大幅降低測試成本。
2014-02-18 09:46:131086 NI今天推出的全新HIL仿真儀基于開放的商用現成平臺，可降低開發和測試風險，而且無需犧牲靈活性，滿足今天日益緊迫的開發時間要求、不斷變化的測試需求、以及人手縮減等各種挑戰。
2016-08-03 11:32:211011 目前的雷達系統往往需經過進階測試與驗證，才能確保該系統可在復雜且混亂的通訊環境下正常運作，同時確定該系統完全符合效能規格，并可進一步充分發揮其效能特性。工程師在針對雷達系統設定自動化測試時，評估系統
2017-10-30 13:55:323723 日前，在SEMICON China 2019展期間，NI重點展示了其在半導體芯片和制造方面的測試方案，包括電源管理、5G射頻以及量產半導體?測試系統(STS)，NI工程師向電子發燒友詳細介紹了這些測試領域面臨的挑戰以及NI的解決方案。
2019-03-28 11:00:396326 NI 提供了高速、靈活、精確的RF硬件，并搭配功能強大的NI LabVIEW軟件，以適應無線通信領域日新月異的需求，并且貫穿了從設計、驗證到生產的所有工程設計階段。
2019-08-16 07:10:03
概述NI 提供了高速、靈活、精確的RF硬件，并搭配功能強大的NI LabVIEW軟件，以適應無線通信領域日新月異的需求，并且貫穿了從設計、驗證到生產的所有工程設計階段。為了能滿足不斷發展的通訊標準
2019-06-04 08:19:03
不止STS（半導體測試系統），NI更多半導體測試方案來襲，附技術白皮書《5G新空口物理層介紹》
2021-01-18 06:59:56
NICompactDAQ 系統通過一個USB接口可以同時傳送高速模擬輸入、模擬輸出、數字輸入和數字輸出數據。NI CompactDAQ的性能優勢靈活的特性在適應變化的測試需求方面，NI CompactDAQ
2009-02-25 23:22:46
現代高集成度的芯片有著“射頻到比特流”(“RF-to-bits”)或“射頻到模擬基帶”的構架。射頻部分集成度提高帶來最大的沖擊之一是測試模式的轉移，即使得系統級的測試成為可能。
2019-09-03 06:45:33
作者： Robert GeeMaxim Integrated核心產品事業部執行業務經理 在半導體測試領域，管理成本依然是最嚴峻的挑戰之一，因為自動化測試設備(ATE)是一項重大的資本支出。那么，有沒有能夠降低每片晶圓的成本，從而提升競爭優勢的方法呢？有，答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
無嚴格要求的特點。因此，目前檢測半導體材料電阻率，尤其對于薄膜樣品來說，四探針是較常用的方法。 四探針技術要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時，測試中間兩根探針的電壓差。最后，電阻率通過樣品的幾何參數，輸出電流源和測到的電壓值來計算得出。
2021-01-13 07:20:44
對于手機產品，要想使價格具有竟爭力，在設計時采用低成本元器件僅僅是第一步。生產過程成本，特別是最終測試過程中所發生的成本對于最終產品價格有同樣重要的影響。而且，設計工程師經常會低估生產過程所增加的成本。由于這些原因，生產工程師和設計工程師必須密切協作才能保證準確達到生產成本目標。
2019-06-04 07:00:35
SRCNEW，增強了一項也就是自適應，實現了跑流，測試設備干擾規避開。
需要新增增強測試項，請問如何測試SRRC？
客戶：IDPRT
操作系統：RTOS
PN: CYW43438
請問是使用以下方法嗎？
2024-03-01 08:46:31
為降低多重通訊產品的測試成本而設計，是一個創新的兼容多個無線標準的測試設備。它可以同時測試多種無線通訊的性能，與單項逐一測試的方法相比，可節約多達75%的時間。特別是基于序列的測試可以縮短Tx和Rx
2018-02-28 17:10:16
挑戰，5G測試系統的設計人員需要采用一種能夠在廣泛的頻帶中適應極端多信道測試環境的射頻組件，同時這種組件又不能顯著增加設備的尺寸和重量，尤其是成本。這意味著需要更高的集成度并采用一種全新的系統設計方案
2018-07-04 10:20:48
的測試內容進行全面測試，提高生產效率，降低測試成本。 測試系統適用于各種電子、電器產品的PCBA功能全自動功能模擬測試。改變傳統的依賴人手操作眼觀、耳聽的測試方式為采用機械手、機器視覺、數據采集卡自動測試
2013-10-09 10:33:14
表征。 超快速：FS-Pro系列較傳統半導體參數測試系統，其測試速度高達10倍，業界首創AI測試加速卡，體驗強大速度提升，同時保持測試精度。 模塊化架構：PXI模塊化架構，可輕松擴展支持生產測試（如
2020-07-01 10:02:55
減壓器降低了電壓，增強了電流，是通過什么原理來實現的？給個原理圖好嗎，小弟研究一下謝謝了
2019-06-17 04:36:10
使用 ENA 系列安捷倫網絡分析儀降低測試成本測試成本 (COT) 的定義是特定時間內為生產線測試流程中的設備所花費的總成本。設備在其使用壽命中的不同階段，COT 會發生變化。在設備購得之時 (t0
2021-08-18 11:01:08
等標準將繼續增加無線設備的復雜性。使用NI PXIe、STS、VTS等NI的軟硬件系統完成的測試方案有哪幾種呢？
2019-02-13 14:09:43
進行測試，最多只能對一個相近系列的產品進行測試。隨著產品生命周期的縮短和制造成本的不斷下降，專用測試系統變得越來越不經濟。為了降低產品的測試成本，測試系統現在必須能夠測試多種產品，以確保每種產品都能
2019-06-04 06:11:59
變速驅動的需求是什么兼顧性能、成本的高壓功率半導體驅動IC應用
2021-04-21 07:06:40
在全球競爭和經濟因素環境下，當今高技術產品利潤和銷售在不斷下滑，工程設計團隊在向市場推出低成本產品方面承受了很大的壓力。新產品研發面臨兩種不同的系統挑戰：利用最新的技術和功能開發全新的產品，或者采用
2019-08-09 07:41:27
的性能，MIMO測試在進行多信道測試時的要求更復雜、規范更嚴格、測試成本更高，所需要的測試時間也更長。 本文提供一些MIMO功率測量的要點及建議，能夠降低測試成本、縮短測試時間，以及提高測試精度
2019-06-03 06:44:36
不同的治療頭來實現不同光斑大小的切換。導致一臺設備具有多個治療手柄的情況，增加了成本同時還降低了臨床醫療的便捷性。本文在此背景下研究半導體激光器的原理及封裝形式、激光脫毛醫療原理及特點，并系統性深入研究
2022-01-10 14:30:55
并降低測試成本。EXT是一款綜合測試儀，內含矢量信號分析儀、矢量信號發生器、高速序列分析儀和多制式硬件。它提供了非常強大的功能，可滿足未來的LTE TDD測試需求，例如：高達3.8GHz的全蜂窩頻段范圍（包括LTE TDD 43頻段）；并支持最新芯片組中實施的快速序列測試模式。
2019-06-06 07:04:28
NI TestStand 和LabVIEW應用當今企業所面臨的挑戰之一是測試成本越來越高。由于設備的復雜性不斷增加，所以測試這些設備的成本也在不斷提高。因為測試對于產品質量至關重要,而更加復雜
2019-04-08 09:42:12
的測試工程師面臨的挑戰是創建新的測試方法和系統，可以提供顯著降低的測試成本，以及解決對可配置，靈活的測試解決方案的需求。 COTS（現成商業）硬件在半導體ATE解決方案中總是扮演一些角色 - 有時擴充
2017-04-13 15:40:01
對于手機產品，要想使價格具有竟爭力，在設計時采用低成本元器件僅僅是第一步。生產過程成本，特別是最終測試過程中所發生的成本對于最終產品價格有同樣重要的影響。而且，設計工程師經常會低估生產過程所增加的成本。由于這些原因，生產工程師和設計工程師必須密切協作才能保證準確達到生產成本目標。
2019-09-29 07:04:50
如何確保GPS測試完整性？如何實現GPS較短的測試時間和較低的測試成本？
2021-04-15 06:57:09
數十億臺5G設備將面世，如何有效降低5G測試成本？
2021-02-22 08:15:00
和微波開關測試系統中的關鍵問題，包括不同的開關種類，RF開關卡規格，和有助于測試工程師提高測試吞吐量并降低測試成本的RF開關設計中需要考慮的問題。
2019-07-10 08:02:09
和微波開關測試系統中的關鍵問題，包括不同的開關種類，RF開關卡規格，和有助于測試工程師提高測試吞吐量并降低測試成本的RF開關設計中需要考慮的問題。
2019-07-10 06:34:58
隨著移動通信設備的復雜性與功能性以指數方式（由摩爾定律得出）的增長，測試它們的成本也在增加。工程師們面臨的挑戰是：需要尋找一種方法，最大程度的降低測試成本，但是有一種方法就是可以用更少的資源來完成更多的測試。那么，并行且便攜式的測試系統有哪些作用呢？
2019-08-09 06:55:57
由于業界正在不斷尋求更低的測試成本，許多RF測試工程師必須繼續地縮短測量時間。如你所知，無線網絡（WLAN）裝置的測試操作也必須要迎合這個趨勢。無論是用于設計檢驗的自動化測試系統或者是最終產品的測試
2019-08-08 08:28:40
半導體測試公司惠瑞捷半導體科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC測試機臺推出Port Scale射頻（RF）測試解決方案。這套新的解決方案可提供經濟、有效又可靠的射頻量測能力
2019-06-21 06:23:57
惠瑞捷半導體科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC測試機臺推出Port Scale射頻（RF）測試解決方案。這套新的解決方案可提供經濟、有效又可靠的射頻量測能力，是測試新式的高
2019-06-27 06:31:28
(Prober)對接機制。這樣的緊湊型設計減少了占地空間，降低了功耗，減輕了傳統ATE測試員的維護負擔，從而節約了測試成本。 此外，半導體測試系統采用開放的模塊化設計，使您可以利用最新的工業標準PXI模塊
2018-07-11 11:00:40
，降低成本變得更具挑戰性。半導體制造商如何提高其最終產品的復雜性，同時降低測試成本？測試系統未標準化從廣義上講，半導體開發過程包括設計、制造和測試。今天，IC 設計人員使用 EDA（電子設計自動化）軟件
2022-03-15 11:30:40
對半導體測試有何要求？對半導體測試有哪幾種方式？如何對數字輸出執行VOH、VOL和IOS測試？
2021-07-30 06:27:39
一、無線數字設備發射機特性測試技術 移動終端和個人電腦的無線數據功能已發展為多頻帶、多系統結構，導致對前端器件需求的迅速增加。目前，簡單易用、輕便及低成本終端已成為市場趨勢，由此引起市場對小巧
2019-06-05 08:12:26
測試成本，同時滿足不斷變化的測試需求。 本裝置集成了器件電氣和功能測試所需的各種元件，包括為了檢驗傳感器是否正常工作而需要的設備。 MEMS 器
2022-10-09 14:39:53
NI 全新交互式測量軟件SignalExpress 使設計與測試走向融合
該軟件擴展了虛擬儀器技術，增強了工作臺上的測量功能2004 年10 月--美國國
2009-06-12 10:55:48717 NI加強了數字音頻測試功能
美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)近日宣布在NI AudioMASTER套件上推出其最新的高性能軟件和硬件組件。該模擬和數字音頻的驗證
2010-01-13 11:23:45974 吉時利儀器公司不斷增強半導體行業性價比最高的高速生產參數測試方案——S530參數測試系統的功能。由于有吉時利測試環境軟件（KTE V5.4）的支持，S530目前配置為48引腳全Kelvin開關以
2012-03-30 11:05:19836 越來越小的利潤空間正驅使元器件制造商降低生產成本，包括測試成本在內。采用具有嵌入式測試排序器的儀器會起到作用。為了采取更有效的測試手段來提高利潤空間，制造商要考慮
2012-04-26 10:22:31707 
NI矢量網絡分析儀（VNA）憑借其快速自動化測量、功能強大的儀器結構和經簡化的測試系統開發過程，可降低測試成本。還集成了高級矢量網絡分析儀的測量功能，形成基于PXI的測試系統
2012-12-04 13:47:131293 2013 年 9月 —— 美國國家儀器有限公司（National Instruments， 簡稱NI）- NIWeek - 近日發布了數款基于NI LabVIEW可重配置I/O（RIO）架構的新產品，為用戶提供靈活性，幫助他們應對現代自動化測試系統的挑戰并降低總測試成本。
2013-09-11 09:54:00784 在摩爾定律的發展極限之下，產生更多裝置連結與資料分析的需求。也由于物聯網與智慧手機的發展，使得類比與RF訊號更顯得重要。未來的訊號，將不再以純類比訊號為主，而是更為復雜的類比與RF混合訊號，這使得傳統ATE（半導體自動化測試設備）系統出現了瓶頸。
2014-09-05 10:46:241159 “2012年NI推出了業界第一款具有支持LabVIEW FPGA的矢量信號收發儀（VST），幫助工程師加速工程設計并降低測試成本，從而重新定義了儀器儀表，”Frost＆Sullivan通信測試與測量
2016-07-13 15:09:531095 在多個大趨勢的推動下，推動世界對半導體需求的技術繁榮依然強勁。無線基礎設施、物聯網、人工智能、數據中心和電動汽車是推動對先進半導體 IC 需求增加的應用示例。隨著每個單獨的 IC 中包含更多功能，測試要求也會增加，降低成本變得更具挑戰性。半導體制造商如何提高其最終產品的復雜性，同時降低測試成本？
2022-03-23 13:34:003461 NI半導體測試技術創新論壇，關注探討如何在實驗室V&V驗證、晶圓及封裝測試中進一步降低成本、提高上市時間，針對RFIC、ADC等混合信號芯片，探討如何通過PXI平臺化方法降低從實驗室到量產的測試成本、以及提高測試效率等。
2018-08-22 11:29:393806 針對于RFIC、ADC等混合信號芯片探討如何通過PXI平臺化方法降低從實驗室到量產測試成本、提高測試效率等，NI與合作伙伴，華興源創，全球儀器，博達微科技共同邀請您參與此次研討會，共建良好半導體測試生態體系。
2018-08-26 09:14:005248 芯片量產測試解決方案可基于NI半導體測試系統（STS），STS在完全封閉的測試頭里面繼承了NI PXI平臺、TestStand測試管理軟件以及LabVIEW圖形化編程工具。它采用“集成到測試
2018-09-28 09:30:0012870 馬自達使用軟件定義的自動化測試系統，推進汽車的電氣化，并且降低了90%的測試成本
2018-10-11 19:37:314050 半導體技術的要求通常會超出傳統ATE所能為模擬、混合信號和RF測試提供的測試覆蓋范圍。半導體測試工程師需要更智能的解決方案來解決成本、可擴展性、設計和器件挑戰。
2019-02-05 08:41:003190 也許你聽過斯巴魯借助NI軟硬件平臺，將總測試時間減少了94%的成功案例。在汽車智能化、電氣化與網聯化發展的浪潮下，系統復雜性日益增長導致測試難度加大，NI幫助很多廠商降低了測試成本。
2019-01-30 16:04:583644 也許你聽過斯巴魯借助NI軟硬件平臺，將總測試時間減少了94%的成功案例。在汽車智能化、電氣化與網聯化發展的浪潮下，系統復雜性日益增長導致測試難度加大，NI幫助很多廠商降低了測試成本。今天小編就為大家揭秘NI汽車測試解決方案的核心競爭力。
2019-02-18 15:57:243981 作為半導體產業的其中一個環節，半導體測試一直以來備受關注。隨著半導體制程工藝不斷提升，測試和驗證也變得更加重要。
2019-04-11 09:12:5915047 半導體測試解決方案專業品牌蔚華科技今日宣布與美商NI（National Instruments 國家儀器）合作，未來將負責NI大中華區的半導體測試系統（STS， Semiconductor
2019-05-22 09:32:301137 國家儀器該公司于今日推出了STS軟件的最新增強功能，這些功能可顯著提升NI半導體測試系統的編程和調試體驗，并大大提高測試執行速度、并行測試效率和整體設備效率。
2019-10-14 14:30:52910 National Instruments，（簡稱NI）近日與蘇州納芯微電子股份有限公司（簡稱納芯微）、上海孤波科技有限公司（簡稱孤波）達成三方戰略合作，開啟在半導體測試領域的全新合作模式，引領半導體測試行業創新發展。
2019-11-04 15:31:442767 “NI是一家軟件定義平臺供應商，致力于幫助用戶加快自動化測試和自動化測量系統的開發速度并提高其性能。該公司今天宣布推出全新4 GHz車載雷達測試系統（VRTS）。
2019-11-20 16:56:174077 Radio等標準將繼續增加無線設備的復雜性。今天，我們將 為各位介紹6個使用NI PXIe、STS、VTS等NI的軟硬件系統完成的測試方案。
2020-10-29 10:41:00
1 ●全面的RF、數字和直流儀器產品組合—您可以自定義新的STS配置并升級現有測試儀，以納入您需要的儀器資源，同時保持測試程序和負載板的可移植性。
2020-07-27 16:05:461160 NI于2014年推出的NI STS，基于實驗室儀表級別精度的模塊化儀器，同時滿足測試精度和量產測試覆蓋率的需求。NI STS是基于模塊化儀器的PXI平臺，因此，NI STS可以不斷擴展以滿足日益增多以及定制化的測試需求。
2020-08-05 15:52:472172 
Express RIO 中頻收發器。RIO技術不僅用于控制應用，強大的FPGA功能大大提高了測試吞吐量，使新的測試成為可能，從而增強了自動化測試系統。同時，現成可用的商業硬件平臺以及LabVIEW為FPGA編程帶來的簡化，也大大降低了系統開發難度和成本。
2020-08-18 09:35:393370 
半導體封測解決方案專業品牌蔚華科技與合作伙伴NI共同宣布成功為安科諾（arQana）打造完整射頻測試解決方案，從實驗室開發至量產導入皆采用NI 半導體測試系統（STS），在航空與國防芯片的高標準測試
2020-10-20 15:33:371616 專板（Loadboard），季豐電子保持一貫的作風：一次設計生產成功，滿足客戶測試指標要求并準時交貨。其他客戶的STS專板也正在設計中，將于近期交付。 NI STS是一款直接可用于量產環境的ATE，具有高吞吐量、低成本等優勢，適用于RF、混合信號和MEMS半導體器件的生產測試。STS可直
2020-12-15 17:29:231659 如今，半導體企業愈發關注產品上市前的測試環節。NI采用顛覆性的半導體測試方案，助力企業降低測試成本以及加速產品上市，這就是我們常說的“一個平臺”戰略，從實驗室到量產測試，只需一個平臺。安森美、英飛凌
2021-01-04 09:17:292004 
為了滿足批量生產的需求，用戶需要布置很多工位來調試這些器件的S參數指標。傳統的做法是在每個工位獨立配置一臺二端口VNA，這樣整個車間會需求大量的VNA，導致用戶的測試成本長期居高不下。如何進一步降低測試成本，成為用戶當前最大的挑戰
2021-02-08 09:34:001815 2021年OPPO開發者大會趙梁：云真機為開發者降低不同機型測試成本，極大提升研發效率。
2021-10-27 15:21:382596 
前言 當今半導體測試工程師面臨的挑戰是如何尋找和創建一個新的測試解決方案，該方案被要求能夠顯著降低測試成本，并滿足可配置、開放架構、靈活的測試解決方案的需求，這些解決方案可以提供與專用ATE平臺
2021-11-10 10:36:106 ?自主射頻測量助手可在多個溫度范圍內實現完全自主，免提的射頻校準和測量。它具有獨特的Contact Intelligence?技術，可降低測試成本并以提高的準確性和縮短的設計周期縮短產品上市時間
2022-06-21 14:55:08638 測試是任何衛星計劃的重要組成部分。提高總程序成本的一種方法是降低測試成本。取消測試似乎很誘人，但設備故障的風險會顯著增加。保持儀器和系統的準確性可降低測試成本，并以多種方式縮短程序進度。例如，衛星
2022-11-16 15:31:07532 
NI宣布收購 SET GmbH(簡稱“SET”)。SET是長期專注于航空航天和國防測試系統開發的專家，也是功率半導體可靠性測試領域的創新者。加入NI后，將共同縮短關鍵的、高度差異化的解決方案的上市時間，并以碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等功率電子材料為切入點，加速從半導體到汽車的供應鏈融合。
2023-03-15 17:42:56917 2023年4月6日，是德科技（Keysight Technologies,Inc.）日前宣布，推出一款全新 FlexOTO 光測試優化軟件和解決方案。該解決方案可降低多通道接口測試的總體測試成本
2023-04-06 18:00:01932 原文標題：下周五｜TSO.ai：打通AI應用“最后一公里”，降低芯片測試成本 文章出處：【微信公眾號：新思科技】歡迎添加關注！文章轉載請注明出處。
2023-06-09 18:05:01535 
原文標題：本周五｜TSO.ai：打通AI應用“最后一公里”，降低芯片測試成本 文章出處：【微信公眾號：新思科技】歡迎添加關注！文章轉載請注明出處。
2023-06-12 17:45:03338 
本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數測試和高速數字測試，從而降低測試成本，簡化數字/RF片上系統(SoC)的測試流程。
2023-07-10 15:42:53291 
測試流程和良率，并降低成本，同時降低基于云的解決方案存在的安全風險。 泰瑞達半導體測試部營銷副總裁兼總經理Regan Mills表示：“采用先進工藝的高質量半導體器件需求增加了半導體制造的復雜性，只有全面的測試和分析解決方案才能幫助解決這一問題。
2023-07-20 18:00:27362 虹科電源測試系統ATE升級實現更高的測試密度和更低的測試成本01高密度精度測量單元HK-HDPMU在單板上提供多達192個額外的獨立參數測量單元(PMU)通道。虹科解決方案將增加并行測試，而無需創建
2023-09-04 16:22:23319 
什么是半導體的成品測試系統，如何測試其特性？ 半導體的成品測試系統是用于測試制造出來的半導體器件的一種設備。它可以通過一系列測試和分析來確定半導體器件的性能和功能是否符合設計規格。 半導體器件是現代
2023-11-09 09:36:44265
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