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芯片測(cè)試作為芯片設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、封裝、測(cè)試流程中的重要步驟,是使用特定儀器,通過對(duì)待測(cè)器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測(cè),區(qū)別缺陷、驗(yàn)證器件...
LitePoint宣布其IQgig-UWB和IQgig-UWB+測(cè)試平臺(tái)通過FiRa聯(lián)盟驗(yàn)證
IQgig 測(cè)試儀系列可為超寬帶無線設(shè)備實(shí)現(xiàn)互操作性和加速批量制造
S參數(shù)去嵌:在高速電路設(shè)計(jì)與測(cè)試中的精確化探索
在高速電路設(shè)計(jì)與測(cè)試領(lǐng)域,S參數(shù)(散射參數(shù))扮演著至關(guān)重要的角色。
北京清微智能科技有限公司發(fā)布IC驗(yàn)證新方法,實(shí)現(xiàn)雙DUT驗(yàn)證
清微智能在本周宣布新型專利“一種IC驗(yàn)證中實(shí)現(xiàn)雙DUT驗(yàn)證的方法”已于今年3月獲批。該項(xiàng)專利內(nèi)容由該集團(tuán)獨(dú)立研究,申請(qǐng)日期優(yōu)先于2024年3月26日。
R&S?ESW-B1000寬帶擴(kuò)展選件提高EMI測(cè)試速度和可靠性
在EMI認(rèn)證測(cè)試中,EMI接收機(jī)是最重要的測(cè)試測(cè)量設(shè)備,在CISPR 16-1-1(對(duì)應(yīng)國(guó)標(biāo)GB6113.101)標(biāo)準(zhǔn)中,對(duì)認(rèn)證級(jí)接收機(jī)的性能進(jìn)行了要求。
高加速溫度和濕度應(yīng)力測(cè)試(強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn))BHAST通過對(duì)芯片施加嚴(yán)苛的溫度、濕度和偏置條件來加速水汽穿透外部保護(hù)材料(灌封或密封)或外部保護(hù)材料和...
2024-01-02 標(biāo)簽:DUT 7798 0
羅德與施瓦茨的170 GHz功率傳感器在D波段中使用便捷且可追溯
羅德與施瓦茨(以下簡(jiǎn)稱R&S)推出了新產(chǎn)品R&S NRP170TWG(N)功率傳感器,用于D波段的精確功率電平測(cè)量。
醫(yī)用電氣設(shè)備安規(guī)測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)IEC60601解讀(2)
醫(yī)用電氣設(shè)備安規(guī)測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)IEC60601解讀(2)綜合醫(yī)療電氣安規(guī)測(cè)試儀SECULIFE ST PRO可提供10個(gè)患者應(yīng)用部分接口,可方便進(jìn)行患者泄...
Timer測(cè)試方案 Timer測(cè)試平臺(tái)實(shí)現(xiàn) 測(cè)試平臺(tái)debug注意事項(xiàng)
IC驗(yàn)證,一般也稱“功能驗(yàn)證”,我們今天要講的,不是這個(gè),是它的簡(jiǎn)化版:模塊測(cè)試,是設(shè)計(jì)工程師完成代碼設(shè)計(jì)后,需要自己做的這部分驗(yàn)證工作。IC驗(yàn)證,我們...
2023-07-14 標(biāo)簽:寄存器IC設(shè)計(jì)VHDL語(yǔ)言 948 0
OTA-NTCX100型源攪拌混響室丨納特通信專注小型化無線智能終端的產(chǎn)線測(cè)試
為了能夠高效快速地測(cè)試手機(jī)整體輻射性能,南京納特通信電子有限公司(以下簡(jiǎn)稱“納特通信”)研制出了OTA-NTCX100型源攪拌混響室。該混響室適用于產(chǎn)線...
2023-04-25 標(biāo)簽:測(cè)試產(chǎn)線測(cè)試DUT 701 0
電子學(xué)熱噪聲是最基本的一種噪聲,是由電子的熱運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的。現(xiàn)實(shí)中的所有器件,都會(huì)產(chǎn)生熱噪聲。
2023-06-12 標(biāo)簽:接收機(jī)信號(hào)發(fā)生器RMS 838 0
一文解析運(yùn)算放大器的簡(jiǎn)易測(cè)量Vos
考慮到理想方法存在的問題,在臺(tái)架測(cè)試環(huán)境中通常選擇的方法是將 DUT 置于圖一 所示的反相增益配置中。這種方法的優(yōu)勢(shì)在于 DUT 穩(wěn)定且通常無需額外補(bǔ)償...
2022-09-20 標(biāo)簽:放大器運(yùn)算放大器VOS 3975 0
在流片前驗(yàn)證中如何測(cè)量功耗 執(zhí)行功耗分析的步驟是什么
一般來說,功耗測(cè)量是在門級(jí)進(jìn)行,通過由回歸向量組成的驗(yàn)證平臺(tái)執(zhí)行 DUT,然后跟蹤 DUT 的開關(guān)活動(dòng)來完成。該方法有兩個(gè)問題。
測(cè)試速度對(duì)波形采集的影響到底有多大,下圖是NPLC在0.005、0.5時(shí)分別采集到的電流波形,結(jié)果一目了然。 功耗測(cè)量的重要性 在 NB-IOT,LOR...
CAN節(jié)點(diǎn)一致性測(cè)試究竟有多重要
CAN一致性測(cè)試在于縮小CAN總線節(jié)點(diǎn)間的差異,提高總線抗干擾能力,從而保障設(shè)備CAN網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的穩(wěn)定。因此,CAN節(jié)點(diǎn)一致性測(cè)試就顯得尤為重要,本文將重...
在未來幾個(gè)月中,半導(dǎo)體短缺將成為影響各行各業(yè)乃至全球經(jīng)濟(jì)的主要挑戰(zhàn)之一。受新冠疫情影響,“智能辦公”成為新常態(tài),而這推動(dòng)了智能手機(jī)、PC 和其他電子設(shè)備...
給大家分享一些模擬和矢量信號(hào)源進(jìn)階使用技巧
通常射頻信號(hào)源的簡(jiǎn)單應(yīng)用通常只是輸入頻率、功率,加上一些模擬、數(shù)字調(diào)制,然而要充分挖掘出信號(hào)源的潛力和性能需要更多的技巧。本應(yīng)用指南會(huì)告訴您可以通過更多...
2021-06-18 標(biāo)簽:發(fā)射機(jī)衰減器GaAs 7388 0
小電流單相接地:?jiǎn)蜗嘟拥毓收弦话闶侵父邏航涣麟娙嘀械钠渲腥我庀嘤捎诮^緣層損傷方式的短路故障,主要是高壓弧光電弧放電擊穿絕緣保護(hù)層引起的故障。 我國(guó)配電...
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