1、引言

時間數(shù)字轉(zhuǎn)換（tdc）技術(shù)原本是實(shí)驗(yàn)核物理中的課題，隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，精密時間測量數(shù)字化技術(shù)在高能物理、雷達(dá)、激光和聲納測距、通信測向、遙感成像等都應(yīng)用了高分辨率的tdc技術(shù)，全數(shù)字集成電路的工藝簡單，造價較低，設(shè)計(jì)難度較小，是電路設(shè)計(jì)人員追求的目標(biāo)，因此，全數(shù)字的tdc也成為研究人員關(guān)注的問題，文獻(xiàn)報道了一種全數(shù)字化的模數(shù)變換電路（adc），該方法本質(zhì)上是基于全數(shù)字tdc的，以0.8μm cmos工藝在0.45mm2面積上實(shí)現(xiàn)了18位全數(shù)字的adc，該芯片在10ks/s采樣率下可以達(dá)到12μv分辨率，非線性度為±0.1％。文獻(xiàn)報道了該系統(tǒng)的tdc原理和專用集成電路（asic），用1.5μm的cmas工藝以1.1mm2面積實(shí)現(xiàn)了13位的tdc，其分辨率僅為單個門的延時時間，約0.5ns。

本文將文獻(xiàn)的方法移植到pld中，pld包括fpga和cpld。可以有效地縮短研發(fā)周期，提高設(shè)計(jì)靈活性和重用性，降低設(shè)計(jì)成本和流片風(fēng)險，一旦設(shè)計(jì)成功，所形成的軟核可以與工藝脫鉤，使設(shè)計(jì)重用變得十分方便。

文獻(xiàn)設(shè)計(jì)的tdc用環(huán)形延遲門單元（rgds）實(shí)現(xiàn)時間的分割，結(jié)構(gòu)如圖1。該設(shè)計(jì)采用延時門組成的環(huán)形延時單元作為時間信號的測量基礎(chǔ)，譯碼器譯碼作為低位數(shù)字輸出，后接環(huán)形計(jì)數(shù)器記錄循環(huán)次數(shù)作為高位數(shù)字輸出，最后將兩組數(shù)字合并作為測量結(jié)果輸出，有效降低了延時門的使用數(shù)量，從而減小了芯片面積。

將此方法移植到fpga/cpld設(shè)計(jì)中，需解決以下幾個問題：1、延時門的設(shè)計(jì)和綜合問題，2、單門電路延時時間的離散性，使各個門有相對等同的延時時間，3、考慮計(jì)數(shù)器最高工作頻率，4、對所設(shè)計(jì)電路進(jìn)行優(yōu)化，使之在滿足指標(biāo)的情況下，占用較小的芯片資源，所選用的目標(biāo)芯片經(jīng)濟(jì)適用。

本文在altera公司的max系列芯片上實(shí)現(xiàn)了上述結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)，仿真結(jié)果表明，在max系列中的max7000芯片可以達(dá)到的最高時間分辨率為3.5ns，硬件測試也是成功的。

2、基于rgds的tdc系統(tǒng)工作原理

基于rgds的全數(shù)字tdc系統(tǒng)由環(huán)形延時單元、鎖存與異或單元，編碼單元、計(jì)數(shù)和鎖存單元四部分組成，圖2是圖1中前三部分的電路原理圖。rgds部分由63個非門和一個與門組成，其中電路節(jié)點(diǎn)po至p63的狀態(tài)可以反應(yīng)pa脈沖在非門鏈中傳輸所到達(dá)的位置，該位置的檢測則由鎖存與異或單元實(shí)現(xiàn)，在通常情況下，非門的輸出和輸入是反相的，但是對于pa信號在非門鏈中上傳輸恰好到達(dá)的那個非門來說，其輸出和輸入是同相的，異或門負(fù)責(zé)檢測非門鏈中輸出和輸入相同的那個非門，即可得知信號到達(dá)的位置，進(jìn)而計(jì)算出信號在rgds上的傳輸時間。

計(jì)數(shù)和鎖存單元是一個7位計(jì)數(shù)器，其作用是對每一次pa信號傳輸?shù)浇K端p63后作一次計(jì)數(shù)，采用雙邊沿計(jì)數(shù)器，該計(jì)數(shù)相當(dāng)于在整個tdc過程中的“粗計(jì)數(shù)”。粗計(jì)數(shù)加上鎖存與異或單元對p0到p63之間的“細(xì)計(jì)數(shù)”，可形成一次tdc過程的完整計(jì)數(shù)。細(xì)計(jì)數(shù)的值在編碼單元形成，作為總計(jì)數(shù)的低位輸出。由于64個非門可以組成6位輸出，加上粗計(jì)數(shù)部分的高7位，組合為該tdc系統(tǒng)的13位最終輸出，由此可見，tdc系統(tǒng)的分辨率由rgds中單個門的延時決定，而時間測量的動態(tài)范圍則主要由計(jì)數(shù)器的位寬決定，采用rgds結(jié)構(gòu)的asic實(shí)現(xiàn)了1.5μm cmos工藝13位的tdc電路，芯片面積1.1mm2，分辨率達(dá)到0.5ns。

3 、tdc的pld實(shí)現(xiàn)

將此方法移植到fpga/cpld設(shè)計(jì)要解決若干問題，eda工具對任何電路綜合擴(kuò)充的是邏輯功能而非特定的電路結(jié)構(gòu)，所以很難得到所需的串聯(lián)延時門結(jié)構(gòu)，由于可編程器件內(nèi)部的布局布線不能保證延時門的一致性，將影響tdc的轉(zhuǎn)換精度，嚴(yán)重時甚至不能正常工作，另外，通用計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)頻率受到多種因素的限制，過高的工作速度可能會導(dǎo)致跳碼，這也使rgds的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)受到一定限制。

3.1 環(huán)形延時單元的設(shè)計(jì)

如上所述，直接將上述asic設(shè)計(jì)中的環(huán)形延時單元移植到fpga/cpld中是不可行的，即使采用原理圖輸入的方法，經(jīng)綜合器綜合后也得不到所需要的功能結(jié)構(gòu)，原因很簡單，eda工具做綜合時是從電路輸入和輸出的邏輯關(guān)系出發(fā)給出綜合結(jié)果，進(jìn)奇數(shù)個非門的及聯(lián)綜合為單個非門或?qū)⑴紨?shù)個非門綜合為一條連接線，從而無法生成所需的延時結(jié)構(gòu)，而本設(shè)計(jì)的目的是為了取得各級連非門之間的延時信息，所以簡單地直接移植asic設(shè)計(jì)中的級聯(lián)非門不能達(dá)到此目的，解決方法是將非門改稱二端口輸入的器件，例如用二輸入與門或與非門代替非門，其中一個輸入端口的聯(lián)接方式和非門時情況類似，形成串接關(guān)系，將所有門多余的輸入端口連接到高電平，此端口在仿真時還可以起到控制作用，但如果門的數(shù)量太少時，有可能發(fā)生一種情況，即在所有串接門上的延時總和小于計(jì)數(shù)器正常工作所需的最小時間，此時計(jì)數(shù)器將產(chǎn)生漏記或跳碼現(xiàn)象，使rgds系統(tǒng)發(fā)生紊亂，而串接門的數(shù)量太多，又會使門延時時間離散的可能性增加，同時編碼器的工作速度也決定了門的數(shù)量不能太小，因此需要通過仿真取得折衷的設(shè)計(jì)。

3.2 延時門的延時離散性

與asic不同，設(shè)計(jì)者很難預(yù)料eda軟件布局布線后的情況，而且各種不同結(jié)構(gòu)和性能的pld布局布線的結(jié)果也不盡相同，因此很難預(yù)計(jì)單個門的延時時間，即使通過仿真器得到一個數(shù)據(jù)，在硬件實(shí)驗(yàn)時，情況也會有所相同，而單個門的延時時間是整個系統(tǒng)精度的基本保證，所以有必要研究可資應(yīng)用的方法。

本文從三方面考慮：1、通過減少延時環(huán)電路中門電路的數(shù)量可以有效地減小門延時時間離散的可能性，盡可能選擇粗粒度的芯片，引起基本邏輯功能塊大，串聯(lián)門被配置在同一宏單元的可能性較大；3、盡可能選擇連續(xù)互聯(lián)型芯片，因其布線延時是相對固定和可預(yù)測的，可有效減小布線帶來的誤差。如上所述，串聯(lián)門的數(shù)量要在計(jì)數(shù)器和編碼器工作速度間做出平衡，按照xilinx的指標(biāo)，一個16位的計(jì)數(shù)器最小時間為4.3ns，也就是可以達(dá)到232.558mhz的計(jì)數(shù)頻率，在低于此工作頻率的條件下，決定延時門的數(shù)量一般是可靠的。

通過對max系列大部分芯片做rgds系統(tǒng)兩個循環(huán)周期的仿真，除了max5000和max9000延時較長未做測試外，其外各種芯片的單門延時時間在3.4－5.1ns。本設(shè)計(jì)的rgds采用了8個門組成的延時單元，在max7000芯片上實(shí)現(xiàn)分辨率為3.5ns的tdc系統(tǒng)，該系統(tǒng)中計(jì)數(shù)單元穩(wěn)定工作在34.72mhz，計(jì)數(shù)時間為28.8ns。

3.3 設(shè)計(jì)電路優(yōu)化

這是本設(shè)計(jì)不可缺少的環(huán)節(jié)，如采用max＋plusii軟件時，優(yōu)化前rgds單元中編碼器誤碼率高，不能正常工作，而經(jīng)優(yōu)化后，可以輸出穩(wěn)定準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)，可見在移植本方法時設(shè)計(jì)優(yōu)化所起的作用，仍以max＋plusii為例說明優(yōu)化的一般過程，對軟件優(yōu)化開關(guān)的設(shè)置如下：1、因本設(shè)計(jì)選用max系列芯片，故選擇對該芯片的多層綜合選項(xiàng)（multi－level synthesis for max5000/7000/9000 device）；2、在面積和速度優(yōu)化選項(xiàng)中，選擇對面積的優(yōu)化，使rgds盡可能分配到同一個lab中，3、打開“slow slew rate”以降低開關(guān)噪聲，打開“xor synthesis”以減少芯片面積的占用。4、打開“turbo bit”和“parallel expanders”開關(guān)，以對編碼通過軟件優(yōu)化。

4、電路實(shí)現(xiàn)和仿真、測試結(jié)果

本設(shè)計(jì)以altera公司的max＋plus ii 9.23為設(shè)計(jì)工具，在max系列芯片上實(shí)現(xiàn)。圖3為max7000系列的時序仿真結(jié)果，其中p0至p7分別為rgds電路單個門之后的電路節(jié)點(diǎn)，ct1［7…0］為rgds中各延時門電路的控制端，即所有二端口門中多余的輸入端子的互聯(lián)，rgds正常工作時被置為高電平；rst為系統(tǒng)復(fù)位信號，q1為計(jì)數(shù)器輸出作為tdc系統(tǒng)的高13位輸出，為粗計(jì)數(shù)部分，q0為對rgds編碼輸出，作為該tdc系統(tǒng)的低3位輸出，為細(xì)計(jì)數(shù)部分，此處還應(yīng)考慮計(jì)數(shù)器延時和rgds編碼輸出延時之間的關(guān)系，應(yīng)盡量使其同步，避免編碼錯位。

為了解決所設(shè)計(jì)tdc的硬件測試，專門設(shè)計(jì)了一個信號控制電路，該電路的tdc可以測量信號發(fā)生器所發(fā)生的連續(xù)脈沖的脈寬，從脈寬的測量可以估算出分辨率。限于條件，硬件測量采用目標(biāo)芯片max7000s系列的epm7128slc84－15，電壓為5v。圖4是輸入脈寬和測得的計(jì)數(shù)值關(guān)系曲線，共測量了85個值。橫坐標(biāo)是sp1641b型函數(shù)信號發(fā)生器發(fā)生的信號周期（ns），其對應(yīng)的頻率范圍為1.4－3.2mhz，縱坐標(biāo)是計(jì)數(shù)值。從圖中曲線可以看出兩者的線性關(guān)系，采用epm7128slc84－15的仿真結(jié)果，可以得到分辨率為9.8ns和tdc。經(jīng)測量，在85個測試數(shù)據(jù)中，測量系統(tǒng)可以分辨出4.14－4.49ns的脈寬差，說明硬件的實(shí)際分辨率高于仿真結(jié)果，圖5是圖4中信號周期從160－210ns時的放大圖，可以看出計(jì)數(shù)值無跳碼，只有很小的波動，表示設(shè)計(jì)是完全合理可行的。由于7000s是慢速電路，按照此測量結(jié)果，如果采用max7000系列的芯片，完全可以達(dá)到或高于仿真結(jié)果表明的3.5ns的分辨率。

通過仿真和硬件測試表明，該設(shè)計(jì)系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確計(jì)數(shù)，各項(xiàng)功能均達(dá)到預(yù)期的要求，整個設(shè)計(jì)的正確性和完整性得到驗(yàn)證，經(jīng)優(yōu)化后的設(shè)計(jì)，以max系列epm7064lc44－7為目標(biāo)芯片的綜合報告顯示，其1250個門用了54％，轉(zhuǎn)換率最高可達(dá)3.5ns，這表明本文的設(shè)計(jì)思想和實(shí)現(xiàn)方法是可行的。

5、結(jié)語

采用8個與門電路結(jié)構(gòu)rgds實(shí)現(xiàn)的16位tdc系統(tǒng)，才保證計(jì)數(shù)器穩(wěn)定的前提下，使rgds中單門延時的離散可能性大大減小。本設(shè)計(jì)max系列芯片max7000上實(shí)現(xiàn)了最高分辨率為3.5ns的tdc系統(tǒng)，仿真數(shù)據(jù)和硬件測試均表明計(jì)數(shù)結(jié)果穩(wěn)定準(zhǔn)確，由于采用vhdl語言實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)，所以本設(shè)計(jì)可方便地移植到其他基于pld的設(shè)計(jì)中。

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