SM320VC5421-EP 增強型產(chǎn)品定點數(shù)字信號處理器

數(shù)據(jù)： SM320VC5421-EP Fixed-Point Digital Signal Processor 數(shù)據(jù)表

描述

320VC5421定點數(shù)字信號處理器（DSP）是一款運行速率為200-MIPS的雙核解決方案。 5421由兩個能夠進行核心到核心通信的DSP子系統(tǒng)和一個由兩個DSP子系統(tǒng)共享的128K字零等待狀態(tài)片上程序存儲器組成。每個子系統(tǒng)包括一個54x DSP內(nèi)核，32K字程序/數(shù)據(jù)DARAM，32K字數(shù)據(jù)SARAM，2K字ROM，三個多通道串行接口，xDMA邏輯，一個定時器，一個APLL和其他各種電路。

5421還包含一個主機端口接口（HPI），允許5421被視為主機處理器的內(nèi)存映射外設(shè)。 5421與TMS320VC5420引腳兼容。

每個子系統(tǒng)都有獨立的程序和數(shù)據(jù)空間，允許同時訪問程序指令和數(shù)據(jù)。可以在一個周期中執(zhí)行兩個讀操作和一個寫操作。具有并行存儲和特定于應(yīng)用程序的指令的指令可以充分利用該架構(gòu)。此外，數(shù)據(jù)可以在程序和數(shù)據(jù)空間之間傳輸。這種并行性支持一組強大的算術(shù)，邏輯和位操作操作，這些操作都可以在一個機器周期中執(zhí)行。 5421包括管理中斷，重復(fù)操作和函數(shù)調(diào)用的控制機制。此外，5421具有128K字的片上程序存儲器，可在兩個子系統(tǒng)之間共享。

5421旨在用作遠程的高性能，低成本，高密度DSP數(shù)據(jù)訪問或IP語音子系統(tǒng)。它旨在維護當前的調(diào)制解調(diào)器架構(gòu)，同時將硬件和軟件影響降至最低，從而最大限度地重用現(xiàn)有的調(diào)制解調(diào)器技術(shù)和開發(fā)工作。

特性

受控基線
- 一個裝配/測試現(xiàn)場，一個制造現(xiàn)場
40°C至85°C的擴展溫度性能
增強的減少制造源（DMS）支持
增強產(chǎn)品更改通知
資格譜系
由兩個獨立子系統(tǒng)組成的200-MIPS雙核DSP < /li>
每個內(nèi)核都具有先進的多總線架構(gòu)，具有三個獨立的16位數(shù)據(jù)存儲器總線和一個程序總線
40位算術(shù)邏輯單元（ALU），包括一個40位桶形移位器每個內(nèi)核有兩個40位累加器
每個內(nèi)核都有一個17位×17位并行乘法器，耦合到40位加法器，用于非流水線單周期乘法/累加（MAC）操作< /li>
每個核心都有比較，選擇和存儲單元（CSSU）用于維特比運算符的添加/比較選擇
每個核心都有一個n指數(shù)編碼器，用于計算單周期內(nèi)40位累加器值的指數(shù)值
每個內(nèi)核具有兩個地址發(fā)生器，帶有八個輔助寄存器和兩個輔助寄存器算術(shù)單元（ARAU）
512K字×16位擴展程序地址空間
總計256K字×16位雙路和單路 - 訪問片上RAM（128K字x 16位雙向共享存儲器）
單指令重復(fù)和塊重復(fù)操作
32位長指令Word操作數(shù)
有兩個或三個操作數(shù)讀取的指令
從中斷快速返回
使用并行存儲和并行加載的算術(shù)指令
有條件存儲指令
CLKOUT的輸出控制
TOUT的輸出控制
使用IDLE1，IDLE2和IDLE3的功耗控制指令
Dual用于低功耗，快速Opera的1.8V（核心）和3.3V（I /O）電源tions
10-ns單周期定點指令
通過兩個內(nèi)部8個元素FIFO進行處理器間通信
12個直接存儲器訪問通道（DMA）無CPU負載的數(shù)據(jù)傳輸（每個子系統(tǒng)具有外部訪問的六個通道）
具有128通道選擇能力的六個多通道緩沖串行端口（McBSP）（每個子系統(tǒng)三個McBSP）
與外部存儲器接口引腳復(fù)用的16位主機端口接口（HPI）
軟件可編程鎖相環(huán)（APLL）提供多種時鐘選項（需要外部振蕩器）
開基于芯片掃描的仿真邏輯，IEEE標準1149-1 （JTAG）邊界掃描邏輯
兩個軟件可編程定時器（每個子系統(tǒng)一個）
軟件可編程等待狀態(tài)發(fā)生器（最多14個等待狀態(tài)）
以144針低配置提供Quad Flatpack（LQFP）（PGE后綴）包

符合JEDEC和行業(yè)標準的組件認證，以確保在擴展的溫度范圍。這包括但不限于高加速應(yīng)力測試（HAST）或偏壓85/85，溫度循環(huán)，高壓釜或無偏HAST，電遷移，鍵合金屬間壽命和模塑化合物壽命。此類鑒定測試不應(yīng)被視為超出規(guī)定的性能和環(huán)境限制使用該組件的合理性。
IEEE標準1149.1-1990標準測試訪問端口和邊界掃描架構(gòu)。