LED切片分析(金相顯微鏡)失效分析
- 光學(35650)
- 顯微鏡(22546)
相關推薦
高分辨率共聚焦激光顯微鏡
中圖儀器VT6000高分辨率共聚焦激光顯微鏡基于光學共軛共焦原理,結合精密縱向掃描,以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分析的精密光學儀器,一般用于略
2024-03-22 15:12:37
5G大規模集成電路芯片失效分析
、ATE 測試與三溫(常溫/低溫/?溫)驗證。(3)破壞性分析:塑料開封、去層、板級切片、芯片級切片、推拉力測試。(4)微觀顯微分析:DB FIB 
2024-03-14 16:12:31
共聚焦顯微鏡工業幾何量測顯微鏡
中圖儀器VT6000共聚焦顯微鏡工業幾何量測顯微鏡基于光學共軛共焦原理,結合精密縱向掃描,以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分析的精密光學儀器,一般
2024-03-13 10:10:32
日立分析儀器推出了可在NEXTA DSC系列熱分析儀上使用的偏光顯微鏡配件
2024年3月6日,日立高新技術集團旗下的日立分析儀器有限公司(以下簡稱為“日立分析儀器”)推出了可在NEXTA DSC系列熱分析儀上使用的偏光顯微鏡配件。
2024-03-06 14:00:06143
首樣免費掃描電鏡SEM-EDS測試分析【博仕檢測】
【設備應用】
SEM是掃描電子顯微鏡,用二次電子成像的原理來觀察某種物質的微觀形貌。EDS是能譜儀,是每種元素對應的電子能不同,來鑒別元素,通常與SEM結合使用,也就是說在SEM上安裝EDS附件,在
2024-03-01 18:59:58
共聚焦高精度三維顯微鏡
中圖儀器VT6000系列共聚焦高精度三維顯微鏡基于光學共軛共焦原理,結合精密縱向掃描,以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分析的精密光學儀器,一般用于
2024-02-21 13:55:40
顯微測量|共聚焦顯微鏡大傾角超清納米三維顯微成像
并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分析。儀器結構共聚焦顯微鏡主要有四部分組成:1、顯微鏡光學系統。2、掃描裝置。3、激光光源。4、檢測系統。整套儀
2024-02-20 09:07:510
MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析
; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測項目試驗類型試驗項??損分析X 射線透視、聲學掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數測試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
PCB PCBA金相切片試驗-專業檢測實驗室-快速出結果
服務內容金相切片,又名切片,cross-section, x-section, 廣電計量PCB PCBA金相切片試驗是用特制液態樹脂將樣品包裹固封,然后進行研磨拋光的一種制樣方法,檢測流程包括取樣
2024-01-29 22:07:56
教你該如何操作體視顯微鏡
陽一科技體視顯微鏡也稱解刨顯微鏡,是微量物證檢驗常用的儀器。主要用于痕跡檢驗、文件檢驗中的細小物證,如指紋、工具、文字的顯微觀察和分析檢驗。體視顯微鏡主要操作有:調焦,視度調節,瞳距調節和燈泡更換
2024-01-26 08:35:32292
材料激光共聚焦顯微鏡
中圖儀器VT6000系列材料激光共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。它以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像
2024-01-12 11:35:10
【應用案例】掃描近場光學顯微鏡SNOM
掃描近場光學顯微鏡SNOM 掃描近場光學顯微鏡(scanning near-field optical microscopy, SNOM),能在納米尺度上探測樣品的光學信息,打破了長久以來經典
2024-01-09 14:19:31149
SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析
數字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況,圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況;圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298
一種大視場結構照明顯微鏡設計
結構照明顯微鏡(SIM)具有成像速度快、侵入性小、分辨率超高、具有光學切片成像能力等優點,在生物學研究中得到了廣泛的應用。然而,使用空間光調制器(SLM)進行條紋投影的傳統SIM通常具有有限的成像視野。
2024-01-07 14:14:17226
粗糙度顯微鏡檢測儀
中圖儀器VT6000粗糙度顯微鏡檢測儀基于光學共軛共焦原理,結合精密縱向掃描,以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分析的精密光學儀器,一般用于略粗糙度
2024-01-04 10:20:18
用光學顯微鏡測量表面粗糙度 VT6000激光共聚焦顯微鏡
中圖儀器VT6000系列激光共聚焦顯微鏡基于光學共軛共焦原理,結合精密縱向掃描,以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分析的精密光學儀器,一般用于略
2024-01-04 10:17:23
3D共聚焦形貌顯微鏡
中圖儀器VT6000系列3D共聚焦形貌顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深
2024-01-03 10:05:05
半導體芯片結構分析
薄TEM薄片+TEM觀察分析對于芯片膜層很薄的結構層,一般是幾個納米的芯片膜厚,透射電鏡TEM分辨率比SEM高,透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高的很多,可以達到0.1~0.2nm,放大倍數為幾萬
2024-01-02 17:08:51
新技術在生物樣本冷凍中的應用案例分析
、生物分子等提供了重要的實驗手段。
新技術在生物樣液氮罐本冷凍中的應用案例分析表明,這些創新方法為生物學研究提供了更高效、可靠和經濟的樣本處理解決方案。低溫離心、冷凍探頭技術和冷凍顯微鏡技術等
2023-12-26 13:30:34
共聚焦顯微鏡的作用
系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。VT6000共聚焦顯微鏡可廣泛應用
2023-12-22 10:53:33466
淺談失效分析—失效分析流程
▼關注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產業鏈,復雜的產業鏈中任意一環出現問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應用都會面臨各種失效風險,筆者平時也會參與到失效分析中,這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530
白光共聚焦顯微鏡
在材料生產檢測領域中,中圖儀器VT6000白光共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產檢測領域中具有廣泛的應用。它是以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面
2023-12-14 11:02:17
阻容感失效分析
有一批現場儀表在某化工廠使用一年后,儀表紛紛出現故障。經分析發現儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了,甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察,可以發現電阻電極邊緣出現了黑色結晶物質,進一步分析
2023-12-12 15:18:171020
一文讀懂中圖共聚焦顯微鏡的應用
共聚焦顯微鏡能夠觀察材料表面和內部的微觀結構,在半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等領域中,共聚焦顯微鏡能夠對面形輪廓、表面缺陷
2023-12-12 09:47:50356
LED燈帶失效分析
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現不良失效,初步判斷失效原因為銅腐蝕。據此情況,對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段,明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188
共聚焦顯微鏡應用特點
共聚焦顯微鏡具有高分辨率和高靈敏度的特點,適用于多種不同樣品的成像和分析,能夠產生結果和圖像清晰,易于分析。這些特性使共聚焦顯微鏡成為現代科學研究中的重要工具,同時為人們解析微觀世界提供了一種強大
2023-11-21 09:21:030
光耦失效的幾種常見原因及分析
將詳細分析光耦失效的幾種常見原因。 首先,常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發光二極管的核心部件,它會發出光信號。常見的LED失效原因有兩種:老化和損壞。LED的使用壽命是有限的,長時間使用后會逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445
共聚焦顯微鏡應用特點
共聚焦顯微鏡能夠清晰地展示微小物體的圖像形態細節,顯示出精細的細節圖像。它具有直觀測量的特點,能夠有效提高工作效率,更加快捷準確地完成日常任務。借助共聚焦顯微鏡,能有效提高工作效率,實現更準確的操作。
2023-11-20 11:32:59286
PCB失效分析技術概述
那么就要用到一些常用的失效分析技術。介于PCB的結構特點與失效的主要模式,其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術,一旦使用了這兩種技術,樣品就破壞了,且無法恢復;另外由于制樣的要求,可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115
一文了解電子顯微鏡和光學顯微鏡的差異
如今,不僅有能放大幾千倍的光學顯微鏡,也有能放大幾十萬倍的電子顯微鏡,讓我們對生物體的生命活動規律有了更深入的了解。普通中學生物教學大綱中規定的實驗絕大部分都是利用顯微鏡來完成的,因此顯微鏡的性能是觀察好實驗的關鍵。
2023-11-07 15:23:26797
高壓放大器在掃描顯微鏡中的應用及優勢是什么
隨著科技的不斷進步,掃描顯微鏡成為了現代顯微鏡技術的重要組成部分。它能夠提供更高的分辨率、更廣的視場和更強的功能,用于研究各種微觀結構和材料的特性。而高壓放大器在掃描顯微鏡系統中發揮著至關重要的作用
2023-10-24 18:00:42343
運放741在顯微鏡下面的細節
運放741采用金屬罐裝,用鋼鋸可以打開。然后使用金相顯微鏡,它通過鏡頭從上方發出光線,在高放大倍率下可以獲得較清晰的照片,這樣就可以觀察元器件的細節。下面是運放741的電路圖,對照電路圖,可以看芯片在顯微鏡下面的各個元器件的分布情況。
2023-10-21 10:47:41451
國產激光共聚焦顯微鏡
激光共聚焦顯微鏡在材料生產檢測領域中,可用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。中圖儀器VT6000國產激光共聚焦顯微鏡是以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面
2023-10-16 09:26:14
共聚焦激光顯微鏡技術
共焦顯微鏡系統所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。VT6000共聚焦激光顯微鏡技術以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,在
2023-09-28 09:19:04
紅外被動近場顯微鏡的實驗原理及其應用
本文將圍繞掃描噪聲顯微鏡(SNoiM)技術的實驗原理及其應用,詳細介紹如何通過自主研制的紅外被動近場顯微鏡,突破紅外熱成像的衍射極限限制,實現納米級紅外溫度成像。
2023-09-22 10:16:21287
功率放大器在掃描顯微鏡中的應用有什么
更加清晰、細致的圖像。 功率放大器可以幫助掃描顯微鏡增強信號。在樣品的表面掃描過程中,掃描探針會與樣品產生相互作用,生成微小的信號。這些信號非常微弱,需要被放大才能被檢測和分析。功率放大器通過提供適當的信號
2023-09-07 18:28:23209
國產白光干涉顯微鏡
SuperViewW1國產白光干涉顯微鏡以白光干涉技術為原理,結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。產品功能
2023-09-06 14:34:18
集成電路為什么要做失效分析?失效分析流程?
失效分析(FA)是根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051331
聚焦離子束FIBSEM切片測試【博仕檢測】
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統 FIB-SEM應用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
芯片失效分析方法 芯片失效原因分析
芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術的發展,各種芯片被廣泛應用于各種工業生產和家庭電器中。然而,在使用過程中,芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800
材料型轉盤共聚焦顯微鏡
在材料生產領域,共焦顯微鏡系統所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下,共焦顯微鏡所展示的圖像形態細節更清晰更微細,橫向分辨率更高。VT6000材料型轉盤共聚焦顯微鏡以共聚
2023-08-29 09:03:37
普密斯體式顯微鏡 可連續變倍顯微鏡
產品介紹—— 采用優異的光學系統,視場清晰范圍更加寬廣,任意倍率下都能保持優質明亮的成像,是現代電子工業檢測及設備配套的首選。適用于PCB、LCD、IC的裝配和檢測。 體式顯微鏡參數表 ——
2023-08-28 16:22:57
普密斯集成一體式視頻顯微鏡 工業檢測顯微鏡
產品介紹—— 使用一體式視頻顯微鏡可觀察PCB板上的各種不同原件,簡單的調節即可對焦實現快速觀察,亦可觀察LED芯片等;使用一體式視頻顯微鏡可觀察各種成型零件如鉆頭、車刀、銑刀、沖模的形狀
2023-08-28 16:19:41
為什么激光共聚焦顯微鏡成像質量更好?
激光共聚焦顯微鏡原理是由LED光源發出的光束經過一個多孔盤和物鏡后,聚焦到樣品表面。之后光束經樣品表面反射回測量系統。再次通過MPD上的針孔時,反射光將只保留聚焦的光點。最后,光束經分光片反射后在
2023-08-22 15:19:49
顯微鏡助力電池多種檢測維度
電池材料的二維顯微成像與表征 ? 光學顯微鏡起源于17世紀,利用可見光的波長放大物體,達到微米級分辨率,廣泛應用于生命科學、材料科學等領域。在電池領域,可以觀察電極結構,檢測電極缺陷和鋰枝晶的生長
2023-08-22 13:41:06323
白光干涉儀顯微鏡
白光干涉儀顯微鏡以白光干涉技術原理,對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量
2023-08-22 09:15:52
3d形貌激光共聚焦顯微鏡
共焦顯微鏡系統所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下,共焦顯微鏡所展示的圖像形態細節更清晰更微細,橫向分辨率更高。 VT6000系列3d形貌激光共聚焦顯微鏡以
2023-08-18 10:09:19
共聚焦顯微鏡如何三維成像
共聚焦顯微鏡是一種重要的顯微鏡技術,它可以提供高分辨率和三維成像能力,對材料科學等領域具有重要意義。三維成像原理由LED光源發出的光束經過一個多孔盤和物鏡后,聚焦到樣品表面。之后光束經樣品表面反射
2023-08-15 10:52:36583
轉盤光學共聚焦顯微鏡
CHOTEST中圖儀器轉盤光學共聚焦顯微鏡以轉盤共聚焦光學系統為基礎,結合高穩定性結構設計和3D重建算法,共同組成測量系統,集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向
2023-08-09 09:02:30
結構深、角度大、反射差?用共聚焦顯微鏡就對啦!
和共聚焦3D顯微形貌檢測技術,廣泛應用于涉足超精密加工領域的三維形貌檢測與表面質量檢測方案。其中,VT6000系列共聚焦顯微鏡,在結構復雜且反射率低的表面3D微觀形貌重構與檢測方面具有不俗的表現。
一
2023-08-04 16:12:06
光學共聚焦顯微鏡
在相同物鏡放大的條件下,共焦顯微鏡所展示的圖像形態細節更清晰更微細,橫向分辨率更高。如同為微納檢測的利器,共聚焦擅長微納級粗糙輪廓的檢測,能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。 
2023-08-02 13:42:23
透射電子顯微鏡的用途和特點
和分析來揭示樣品的微觀結構。 1.電子源 ? TEM使用電子束而不是光束。季豐電子MA實驗室配備的透射電鏡Talos系列采用的是超高亮度電子槍,球差透射電鏡HF5000采用的是冷場電子槍。 2.真空系統 ? 為了避免電子束在穿越樣品之前與氣體相互作用,整個顯微鏡都必須維持在高真空條件下。 3
2023-08-01 10:02:152341
轉盤共聚焦光學顯微鏡
中圖儀器VT6000系列轉盤共聚焦光學顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,能測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度
2023-07-24 14:41:27
共聚焦顯微鏡功能
與傳統光學顯微鏡相比,激光共聚焦顯微鏡具有更高的分辨率,實現多重熒光的同時觀察并可形成清晰的三維圖像等優點。中圖儀器VT6000系列共聚焦顯微鏡以轉盤共聚焦光學系統為基礎,結合高穩定性結構設計和3D
2023-07-18 13:35:19
共聚焦顯微鏡Smartproof 5數碼顯微鏡介紹
今天小編三本精密儀器給大家介紹下共聚焦顯微鏡Smartproof5數碼顯微鏡可信的數據輸出1、由于其受專利保護的寬場相關孔徑共聚焦技術,Smartproof5能夠有效地減少獲取分析結果的時間,從而
2023-07-12 14:40:13421
共聚焦激光顯微鏡
在材料生產檢測領域中,共聚焦激光顯微鏡可以實現對器件表面形貌的3D測量。 中圖儀器VT6000共聚焦激光顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸
2023-07-10 11:28:42
共聚焦顯微鏡技術
在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產檢測領域中也具有廣泛的應用。它結合CCD的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞,再將物鏡垂直移動,以類似斷層攝影
2023-07-06 13:36:38
【應用案例】掃描隧道顯微鏡STM
掃描隧道顯微鏡STM 掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子,它具有
2023-07-04 13:12:051129
蔡司共聚焦顯微鏡介紹-三本精密儀器
了強大而靈活的功能。共聚焦顯微鏡使用激光束照射樣品,并通過適當的光學系統收集反射的光信號。將這些信號轉換為數字圖像后,經過計算機處理和分析,就能生成優質的圖像和數據
2023-07-03 16:46:18870
中圖共聚焦激光顯微鏡
中圖共聚焦激光顯微鏡VT6000系列擅長微納級粗糙輪廓的檢測,能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。中圖共聚焦激光顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,可應用于半導體
2023-06-29 14:28:22
中圖共聚焦激光掃描顯微鏡
VT6000系列中圖共聚焦激光掃描顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。它以共聚焦技術為原理,在轉盤共聚焦光學系統的基礎上,結合高穩定性結構設計和3D重建算法,共同
2023-06-28 13:45:21
三維X射線顯微鏡半導體封裝產品檢測
結構,蔡司提供3DX射線顯微鏡到激光雙束電鏡LaserFIB的解決方案,實現從三維無損缺陷定位到超大尺寸高效截面制備,再到高分辨成像分析的完整流程。三維X射線顯微鏡
2023-06-27 15:52:39375
材料共聚焦顯微鏡
共聚焦顯微鏡的系統點擴散函數分布等于物鏡和點像能量分布的卷積。在物鏡相同的情況下,其橫向分辨率(x-y面)比傳統光學顯微鏡提高了1.4倍,達到0.4λ/NA,如中圖儀器的VT6000材料共聚焦顯微鏡
2023-06-20 10:19:29
3D超景深共聚焦顯微鏡
在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產檢測領域中也具有廣泛的應用。它以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立
2023-06-14 14:18:32
3D激光共聚焦顯微鏡
的光電倍增管,對微弱的熒光信號可以呈現出很高的靈敏度,并且還可以通過縮小激發范圍并使用光學切片來消除背景噪聲。 VT6000系列3D激光共聚焦顯微鏡是一款用于
2023-06-13 10:53:26
相機靶面大小和顯微鏡FN的匹配關系
? 相機的作用說白了就是將顯微鏡光路所放大的像顯示出來。在顯微鏡領域有一個專業術語叫做Field Number(以下簡稱FN),用來表征顯微鏡所成像平面(是一個圓形區域)的直徑,這個像通過顯微鏡
2023-06-09 06:50:47289
3D激光共聚焦形貌顯微鏡
在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。傳統光學顯微鏡上常配備靈敏度較低的CCD相機來采集圖像,對于低照度的光,如熒光無法探測到,而共聚焦顯微鏡系統使用的探測
2023-06-06 13:39:27
供應數碼顯微鏡 普密斯自動對焦視頻顯微鏡
產品介紹—— 自動對焦視頻顯微鏡可在顯示器上以全新的角度觀察樣品,無需使用目鏡。并能夠顯示及保存高品質全彩色靜態圖像、動態高清影片,普密自動對焦視頻顯微鏡采用一體化機身設計,全套光學系統
2023-05-31 15:30:01
普密斯金相分析顯微鏡
產品介紹—— 普密斯金相顯微鏡是一種集軟件、光、機、電一體的高精度、高效率的顯微測量儀器,從外觀到性能都緊跟國際領先設計風向,致力于拓展工業領域全新格局。普密斯秉承不斷探索不斷超越
2023-05-31 15:24:57
普密斯數字測量顯微鏡 高精度工具顯微鏡PMS-TM200
產品介紹—— 普密斯PMS-TM200是一種新型的數字測量顯微鏡.結合了金相顯微鏡的高倍觀察能力,和影像測量儀的X、Y、Z軸表面尺寸測量功能,具備明暗場、微分干涉、偏光等多種
2023-05-31 15:19:59
普密斯3D觀察顯微鏡 360°旋轉視頻顯微鏡
產品介紹—— 3D視頻顯微鏡有多種3D觀察角度:30°,35°,40°,45°,直流伺服馬達驅動3D轉換鏡圍繞式樣進行360°旋轉,實時將圖像傳導在高清顯示器上在線觀察。 3D視頻顯微鏡
2023-05-31 15:16:47
激光共聚焦顯微鏡
與傳統光學顯微鏡相比,激光共聚焦顯微鏡具有更高的分辨率,所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。所展示的圖像形態細節更清晰更微細,橫向分辨率更高。 中圖儀器VT6000激光共聚焦顯微鏡
2023-05-30 11:35:55
中圖共聚焦顯微鏡
在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產檢測領域中也具有廣泛的應用。 中圖儀器VT6000系列中圖共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理,通過系統軟件對器件表面
2023-05-26 11:14:28
VT6000共聚焦顯微鏡 超高清三維形貌成像系統
在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡主要測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。與傳統光學顯微鏡相比,它具有更高
2023-05-25 11:27:02
共聚焦3D成像顯微鏡系統
在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產檢測領域中也具有廣泛的應用。 中圖儀器VT6000系列共聚焦3D成像顯微鏡系統以共聚焦技術為原理,通過系統軟件
2023-05-22 10:37:45
激光共聚焦顯微鏡品牌
在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產檢測領域中也具有廣泛的應用。例如,鋼的鑄造組織一般比較粗大,可直接用共聚焦顯微鏡進行觀察,同時可以利用其模擬微合金鋼在
2023-05-18 14:05:46
轉盤共聚焦顯微鏡
中圖儀器VT6000系列轉盤共聚焦顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。它是以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立
2023-05-08 09:54:25
3d共聚焦測量顯微鏡
在材料生產檢測領域中,3d共聚焦測量顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產檢測領域中也具有廣泛的應用。例如,鋼的鑄造組織一般比較粗大,可直接用共聚焦顯微鏡進行觀察,同時可以利用其模擬微
2023-05-04 15:53:48
車載濾波器組件焊錫開裂失效分析
:通孔(支撐孔)的透錫率僅20%左右,遠低于正常值75%。 針對正常焊點的X-RAY檢測: 說明:該批次正常品焊點通孔的透錫率與異常焊點一致。 切片斷面分析 ? #01 金相分析 針對異常焊點的金相分析: ? 說明:異常焊點的斷面金相圖示表明焊錫填充不足,存在
2023-05-03 11:05:28415
國產共聚焦顯微鏡技術
共聚焦顯微鏡裝置是在被測對象焦平面的共軛面上放置兩個小孔,其中一個放在光源前面,另一個放在探測器前面,如圖所示。 共聚共焦顯微鏡光路示意圖 得到的圖像是來自一個焦平面的光通過針孔
2023-04-24 09:25:29
三維光學輪廓共聚焦材料顯微鏡
以共聚焦技術為原理的共聚焦顯微鏡,是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。 中圖儀器VT6000系列三維光學輪廓共聚焦材料顯微鏡基于共聚焦顯微技術,結合精密Z向掃描模塊
2023-04-20 10:52:25
3d工業共聚焦顯微鏡
以共聚焦技術為原理的共聚焦顯微鏡,是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。 中圖儀器VT6000系列3d工業共聚焦顯微鏡基于共聚焦顯微技術,結合精密Z向掃描模塊、3D
2023-04-19 10:14:05
半導體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹!
失效分析(FA)是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及。它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發
2023-04-18 09:11:211360
中圖儀器共聚焦光學顯微鏡
中圖儀器共聚焦光學顯微鏡VT6000是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。它是以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面
2023-04-14 13:53:10
中圖激光共聚焦顯微鏡
共聚焦顯微鏡結合CCD的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞,再將物鏡垂直移動,以類似斷層攝影方式,可在短時間(約幾秒)內精確量測物體的三維數據.由于使用了共聚焦的方法,在測量漸變較大
2023-04-12 14:29:27
光學3d共聚焦顯微鏡
中圖儀器VT6000光學3d共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理,主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。光學3d共聚焦顯微鏡儀器結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描
2023-04-04 11:07:52
超景深光學顯微鏡與共聚焦
中圖儀器VT6000超景深光學顯微鏡與共聚焦材料表面微納米級測量儀以轉盤共聚焦光學系統為基礎,結合高穩定性結構設計和3D重建算法,共同組成測量系統,保證儀器的高測量精度;隔震設計能夠消減底面振動噪聲
2023-04-04 11:04:53
3D高精度激光共聚焦掃描顯微鏡
中圖儀器VT60003D高精度激光共聚焦掃描顯微鏡以共聚焦顯微測量技術為原理,主要測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面
2023-03-27 14:05:31
顯微共聚焦成像 激光共聚焦顯微鏡
共聚焦顯微鏡主要采用3D捕獲的成像技術,它通過數碼相機針孔的高強度激光來實現數字成像,具有很強的縱向深度的分辨能力。 中圖儀器VT6000顯微共聚焦成像以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描
2023-03-24 15:46:01
評論
查看更多