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電子發(fā)燒友網(wǎng)>工業(yè)控制>MCA_TouchProbeECAT探針是什么

MCA_TouchProbeECAT探針是什么

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2019-07-18 08:14:37

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ccs3.3如何同時(shí)設(shè)置探針和斷點(diǎn)

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2018-11-05 12:46:09

multisim 14的測(cè)量探針沒(méi)有了。

今天下載安裝了multisim 14,發(fā)現(xiàn)改變了不少,但是找不到 測(cè)量探針 ,只有電流探針。翻遍菜單也沒(méi)找到,難道14版本取消了測(cè)量探針?還是在別的什么地方?我覺(jué)得這個(gè)功能挺好用啊,如果沒(méi)有這個(gè)功能,都想用回13版本了。
2015-10-21 20:31:37

multisim14.0電流探針

`multisim14.0中那個(gè)最下面的電流探針是干嘛的?每次點(diǎn)開(kāi)就顯示電壓與電流之比,求解釋`
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如題!貌似測(cè)量探針就可以測(cè)出電流值,但要是把電流探針放入電路,仿真就會(huì)出錯(cuò)...無(wú)語(yǔ)啦啦啦..........
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通過(guò)自定義探針來(lái)訪(fǎng)問(wèn)需要訪(fǎng)問(wèn)的LabVIEW類(lèi)成員vi信息,廢話(huà)不說(shuō)直接寫(xiě)原理過(guò)程:1. 創(chuàng)建一個(gè)demo.Lvproj2. Write data為成員vi3.上圖為main.vi4. 右鍵探針創(chuàng)建
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什么是ICT探針

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什么是J-Link探針

UltraSoC日前宣布:公司已與SEGGER達(dá)成合作伙伴關(guān)系,以在UltraSoC集成化的系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)監(jiān)測(cè)和分析環(huán)境中為J-Link調(diào)試探針提供支持。SEGGER的J-Link探針是業(yè)界
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半導(dǎo)體測(cè)試探針及Socket

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2018-11-05 11:46:18

如何正確使用測(cè)試探針

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2019-08-09 06:26:54

射頻探針發(fā)展的詳細(xì)介紹

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我們告訴您測(cè)試探針的原理是什么?

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手動(dòng)探針臺(tái)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)

`手動(dòng)探針臺(tái)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)失效分析 趙工2020年開(kāi)年伊始就收到很多朋友對(duì)手動(dòng)探針臺(tái)使用問(wèn)題的咨詢(xún),在此收集整理供手動(dòng)探針臺(tái)相關(guān)信息供大家參考。一:手動(dòng)探針臺(tái)用途:探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)
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2019-07-12 16:05:0013139

射頻探針17問(wèn)(MPI)的詳細(xì)解答

Q1:同軸連接器型TITAN?RF探針的頻率范圍是多少? 答:DC-26GHz, DC-40GHz, DC-50GHz, DC-67GHz, DC-110GHz. Q2:想知道TITAN?RF探針
2021-10-14 10:19:331778

WIFI探針在安防行業(yè)中的應(yīng)用價(jià)值

WiFi探針本身僅僅是一種通信技術(shù),但是被歪曲應(yīng)用和誤解了。WiFi探針本身其實(shí)僅僅是一種數(shù)據(jù)采集,WiFi探針后面的“私人信息大數(shù)據(jù)庫(kù)泛濫”其實(shí)才是可怕的,但貌似很多人將重點(diǎn)關(guān)注放在了WiFi探針層面上。
2019-12-10 13:55:562105

什么是探針?相比pogopin探針模組,彈片微針模組有什么優(yōu)勢(shì)?

什么是探針探針其實(shí)就是一種高端精密型的電子元件,主要應(yīng)用于手機(jī)等電子產(chǎn)品中,起連接作用。文中介紹的測(cè)試探針相當(dāng)于一個(gè)媒介,測(cè)試時(shí)可用探針的頭部去接觸待測(cè)物,另一端則用來(lái)傳導(dǎo)信號(hào),進(jìn)行電流的傳輸
2020-03-30 14:26:234961

一文解析探針是什么?探針分布的領(lǐng)域和應(yīng)用

探針是什么?探針是一個(gè)多義詞,在不同的領(lǐng)域中,探針的含義和作用也不相同。那么到底探針是什么呢?主要可以分為以下幾類(lèi): 信息探測(cè)工具 探針是什么?作為信息探測(cè)工具來(lái)說(shuō),探針卡是一種測(cè)試接口,主要
2020-03-30 14:27:2725529

Vishay擴(kuò)大MCA 1206 AT精密系列薄膜片式電阻的阻值范圍

Vishay Beyschlag MCA 1206 AT電阻具有優(yōu)異的耐潮能力,出色的溫度循環(huán)穩(wěn)定性,高耐硫性符合ASTM B 809標(biāo)準(zhǔn),在汽車(chē)、工業(yè)、醫(yī)療和通信設(shè)備等惡劣環(huán)境中性能極為穩(wěn)定。
2020-05-12 15:46:55783

PCB探針的七大種類(lèi)

PCB探針是電測(cè)試的接觸謀介,屬于重要的電子部件,是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。PCB探針廣泛用于測(cè)試PCBA的一種數(shù)據(jù)傳送,導(dǎo)電接觸,通過(guò)探針導(dǎo)電傳輸功能體的數(shù)據(jù)判斷產(chǎn)品是否正常接觸以及運(yùn)作數(shù)據(jù)正常。
2020-07-25 11:38:224815

檢查探針的4個(gè)小建議

探針依據(jù)其應(yīng)用場(chǎng)所以及屬性具有不同的使用壽命。GKS的使用壽命如:彈簧力,是否低于或超出建議工作沖程,側(cè)向負(fù)荷,電流負(fù)載以及外部影響(如:污染和熱影響)等參數(shù)相關(guān)。定期檢查可預(yù)防停機(jī)時(shí)間并且延長(zhǎng)
2020-12-30 15:45:413297

探針測(cè)試儀產(chǎn)品手冊(cè)

  HC-Z4 直線(xiàn)四探針電阻率測(cè)試儀,包含直線(xiàn)直線(xiàn)四探針夾具、雙探針自動(dòng)切換開(kāi)關(guān)和測(cè)試軟件組成。使用時(shí)需要有一臺(tái)計(jì)算機(jī)安裝測(cè)試軟件,可以通過(guò) R232 串行接口、以太網(wǎng)接口、USB 口和 GPIB
2021-05-06 09:20:2754

英鋼INGUN探針參數(shù)

英鋼INGUN探針各種型號(hào)參數(shù)
2022-05-17 11:43:257

射頻探針的歷史及種類(lèi)介紹

1980年,在Tektronix工作的Reed Gleason與Eric Strid合作發(fā)明了第一臺(tái)高頻晶圓探針,并于1983年聯(lián)合創(chuàng)辦了Cascade Microtech公司。該公司基本上是奠基
2022-05-30 10:20:582735

探針臺(tái)自動(dòng)測(cè)試的流程分析

測(cè)試效率是探針臺(tái)除定位精度外的一個(gè)重要 指標(biāo)。探針臺(tái)用戶(hù)希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下,最大限度地提高探針臺(tái)的測(cè)試效率,來(lái)縮短生 產(chǎn)周期,降低成本。本文將從分析探針臺(tái)自動(dòng)測(cè)試 的流程入手,提出幾種
2022-06-06 10:50:071145

Altius探針卡的主要特征是什么

Altius探針卡概述 封裝系統(tǒng)(SIP)技術(shù)是將高端邏輯和存儲(chǔ)設(shè)備結(jié)合在一起,用于計(jì)算密集型應(yīng)用(如云計(jì)算和無(wú)人駕駛汽車(chē))的關(guān)鍵推動(dòng)力。硅中介層是在不同設(shè)備類(lèi)型之間提供互連平臺(tái)的關(guān)鍵元素
2022-06-07 15:24:05328

Pyrana 探針卡的主要特征

Pyrana 探針卡概述 對(duì)于高達(dá) 10 GHz 的 RF 器件和對(duì)電感敏感的應(yīng)用,Pyrana 探針卡提供了出色的信號(hào)完整性、低寄生電感及較長(zhǎng)使用壽命。Pyrana 探針卡整合了 Katana
2022-06-13 10:11:23502

晶圓探針測(cè)試主要設(shè)備有哪些

晶圓探針測(cè)試也被稱(chēng)為中間測(cè)試(中測(cè)),是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2022-08-09 09:21:103835

使用兩探針及四探針方法測(cè)得的電阻率差異

以上6種粉末材料在使用兩種測(cè)試方法測(cè)得的電阻率均隨壓力的增大而呈現(xiàn)遞減趨勢(shì),且趨勢(shì)一致(如圖2左圖)。取90MPa壓強(qiáng)下的電阻率值進(jìn)行對(duì)比分析,GR/LFP/LRM/PBF/LCO四探針測(cè)試結(jié)果均小于兩探針的測(cè)試結(jié)果
2022-09-22 11:52:273326

探針卡類(lèi)型介紹

探針卡是由探針(probe pin)、電子元件(component)、線(xiàn)材(wire)與印刷電路板(PCB)組成的一種測(cè)試接口,根據(jù)不同的情況,還會(huì)有電子元件、補(bǔ)強(qiáng)板(Stiffener)等的需求,主要對(duì)裸芯進(jìn)行測(cè)試,即wafer level測(cè)試。
2022-10-17 17:44:421784

使用PLTS去嵌方法和探針校準(zhǔn)片SLOT校準(zhǔn)測(cè)試結(jié)果對(duì)比

測(cè)試一:先將網(wǎng)分與線(xiàn)纜校準(zhǔn)后,然后連接兩個(gè)探針測(cè)試DUT,將兩個(gè)探針的S參數(shù)、兩個(gè)探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出,然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S參數(shù)去嵌,得到單獨(dú)DUT的S參數(shù)。
2022-12-08 15:55:424894

如何保養(yǎng)測(cè)試探針

在ICT或者FCT測(cè)試中,治具上的探針總歸會(huì)測(cè)試到一定的壽命時(shí)候變得臟污,造成測(cè)試不通,通常的情況下也許探針本身的彈性和力量還是比較好的狀態(tài),但是因?yàn)榕K污的存在造成針頭和被測(cè)試物的接觸形成很大的電阻
2022-12-28 10:15:321811

探針是如何工作的

測(cè)試探針工作在測(cè)試夾具板上,與安裝的探針針套相配合。探針通過(guò)壓縮到工作行程與PCB上的元件接觸,然后接觸器將PCB信號(hào)從探針傳到安裝在接收板上的終端。 根據(jù)零件的不同,夾具設(shè)計(jì)人員可以選擇相應(yīng)的探針
2022-12-30 09:49:141198

淺談晶圓探針測(cè)試的目的 晶圓探針測(cè)試主要設(shè)備

晶圓探針測(cè)試也被稱(chēng)為中間測(cè)試(中測(cè)),是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2023-01-04 16:11:501579

如何使用探針測(cè)試大電流

隨著集成電路的快速發(fā)展,許多電氣和汽車(chē)應(yīng)用都采用了大電流功能。如何安全有效地測(cè)試這類(lèi)產(chǎn)品正在成為一個(gè)新的挑戰(zhàn)。 我們還開(kāi)發(fā)了大電流測(cè)試探針,通常用于測(cè)試大型充放電設(shè)備。 從參數(shù)特性來(lái)看,要傳遞的電流
2023-01-10 08:40:052012

什么是探針卡?有哪些類(lèi)型呢?

探針卡(Probe card)或許很多人沒(méi)有聽(tīng)過(guò),但看過(guò)關(guān)于,也就是晶圓測(cè)試方面文章的人應(yīng)該不會(huì)陌生,其中就有提到過(guò)探針卡。
2023-02-27 17:48:492328

ABB PLC探針功能介紹

,ECAT_CiA402_Touchprobe_App和MCA_TouchProbeECAT。其中后一個(gè)功能塊是以第一個(gè)功能塊為內(nèi)核做了二次開(kāi)發(fā),簡(jiǎn)化了功能塊的操作復(fù)雜度。 2_探針功能介紹 探針功能用于快速捕獲伺服軸的位置。經(jīng)常用于印刷、貼標(biāo)等伺服應(yīng)用場(chǎng)合。探針是一個(gè)IO信號(hào),當(dāng)PLC捕獲到探針信號(hào)的上升或下降沿時(shí),馬
2023-03-08 13:55:004064

功能塊MCA_CamInDirect的電子凸輪功能

1_回顧及簡(jiǎn)介 從本節(jié)開(kāi)始,將持續(xù)介紹基于功能塊MCA_CamInDirect的電子凸輪功能。 前面曾介紹過(guò)MCA_GearInDirect,MCA_CamInDirect與之特點(diǎn)近似,也是個(gè)急性子
2023-04-30 16:12:00766

半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的探針卡與LTCC/HTCC的聯(lián)系

晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測(cè)試過(guò)程中,測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè),而是透過(guò)探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885

晶圓測(cè)試設(shè)備的“指尖”——探針

探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過(guò)程中需要使用的重要零部件,被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同,針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針
2023-05-08 10:38:273465

晶圓測(cè)試設(shè)備的指尖—探針

晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測(cè)試過(guò)程中,測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè),而是透過(guò)探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142363

影像儀怎么用探針測(cè)量?

影像儀換上探針傳感器配置,相當(dāng)于一臺(tái)小的三座標(biāo)測(cè)量?jī)x,即為復(fù)合式影像測(cè)量?jī)x,如在需要測(cè)量高度的地方,用探針取元素(點(diǎn)或面),然后在軟件內(nèi)計(jì)算高度。
2022-09-22 14:29:42757

RAS(二)Intel MCA初探

MCA(Machine Check Architecture)是Intel Xeon,Intel Atom和P6 family系列Processors支持的硬件錯(cuò)誤檢測(cè)、上報(bào)機(jī)制,硬件錯(cuò)誤包括
2023-07-10 10:35:11801

Intel MCA-CMCI初探

Corrected machine-check error interrupt (CMCI)是MCA的增強(qiáng)特性,它提供了一種threshold-based的錯(cuò)誤上報(bào)方式。這種模式下,軟件可以配置硬件
2023-07-11 09:57:47494

奕葉最新四向毫米波探針臺(tái)

奕葉四向毫米波探針臺(tái)
2023-08-23 14:21:22555

測(cè)量薄層電阻的四探針

點(diǎn)擊美能光伏關(guān)注我們吧!薄層電阻在太陽(yáng)能電池中起著非常重要的作用,它影響著太陽(yáng)能電池的效率和性能。四探針法能夠測(cè)量太陽(yáng)能電池的薄層電阻,從而精確地獲取電池片的電阻數(shù)據(jù)。「美能光伏」擁有的美能掃描
2023-08-24 08:37:061069

高頻探針-鎢針

制造工藝:制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常,鎢粉與其他金屬粉末混合,然后通過(guò)拉拔機(jī)械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度,以滿(mǎn)足高頻測(cè)試的要求。
2023-09-15 17:04:07530

cascade探針acp65探針參數(shù)

ACp65是一種常用的探針,被廣泛用于研究細(xì)胞衰老、疾病發(fā)展和治療等領(lǐng)域。在本文中,我們將詳細(xì)介紹ACp65探針的參數(shù)、應(yīng)用以及未來(lái)的發(fā)展。 ACp65探針的基本參數(shù) ACp65探針是一種標(biāo)記于抗原
2024-01-10 14:39:01207

CASCADE探針臺(tái)的應(yīng)用場(chǎng)景 cascade探針臺(tái)用途

CASCADE探針臺(tái)是一種高級(jí)的網(wǎng)絡(luò)分析工具,可以在網(wǎng)絡(luò)中捕獲和分析數(shù)據(jù)流量。它可以幫助企業(yè)識(shí)別和解決網(wǎng)絡(luò)性能問(wèn)題、網(wǎng)絡(luò)安全問(wèn)題以及網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化等方面的挑戰(zhàn)。CASCADE探針臺(tái)具有廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景,下面
2024-01-31 14:41:25272

探針測(cè)試臺(tái)工作原理 探針測(cè)試臺(tái)為嘛測(cè)試會(huì)偏大?

探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路(IC)的設(shè)備,工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上,然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳,以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中,探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào),通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234

容器探針的三種類(lèi)型介紹

如果應(yīng)用是慢啟動(dòng)類(lèi)型,建議配置啟動(dòng)探針或者為存活探針配置initialDelaySeconds參數(shù),避免存活探針過(guò)早介入導(dǎo)致容器頻繁重啟。如果應(yīng)用啟動(dòng)時(shí)間不固定建議使用啟動(dòng)探針
2024-02-26 11:08:50138

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