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      上海季豐電子

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      季豐電子激光誘導擊穿光譜元素分析儀介紹

      為滿足客戶分析需求的多樣性，季豐電子在張江實驗室配備了激光誘導擊穿光譜元素分析設備，采用355nm的....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 11-21 10:15 ?1113次閱讀
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      LCR數字電橋測試儀的工作原理和使用方法

      季豐電子張江實驗室為了滿足大家的測試LCR的需求，增加一臺E4980AL-LCR數字電橋測試儀，E4....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 11-21 10:12 ?5117次閱讀
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      季豐電子建立熱仿真能力提升半導體測試成功率案例分享

      隨著5G通訊的普及、AI的興起以及chiplet工藝的采用，待測芯片的功耗不斷增大
      的頭像 上海季豐電子 發表于 11-15 09:59 ?840次閱讀
      季豐電子建立熱仿真能力提升半導體測試成功率案例分享

      季豐電子榮膺“大零號灣”影響力TOP10企業榜單

      10月30日，“5載耕耘 閔創未來——中國（上海）創業者公共實訓基地南部科創中心分基地成果展示活動暨....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 11-02 18:21 ?657次閱讀

      季豐電子兩處場所獲得CNAS認可證書

      隨著季豐電子的日益壯大，公司規模也在不斷地擴增，為了提高實驗室能力、優化質量管理水平并提升客戶滿意度....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 10-13 09:41 ?897次閱讀

      SEM/FIB雙束系統截面加工：實現離子的成像、注入、刻蝕和沉積

      SEM/FIB（Scanning Electron Microscope/Focused Ion b....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 10-07 14:44 ?1450次閱讀
      SEM/FIB雙束系統截面加工：實現離子的成像、注入、刻蝕和沉積

      季豐電子新熱場電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像

      ? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現任....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-23 09:50 ?786次閱讀
      季豐電子新熱場電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像

      季豐電子入選上海市服務型制造示范平臺

      9月20日，以“共享G60創新生態，服務型制造賦能產業高質量發展”為主題的“服務型制造萬里行——走進....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-22 09:51 ?876次閱讀

      季豐電子新引入精密芯片裂片設備SELA—MC10

      SELA是通過刻痕和斷裂的雙重過程制備樣品，獲得高質量截面。
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-21 18:27 ?1752次閱讀
      季豐電子新引入精密芯片裂片設備SELA—MC10

      STEM的成像原理 STEM的圖像襯度來源

      掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscop....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-19 11:24 ?6059次閱讀
      STEM的成像原理 STEM的圖像襯度來源

      如何計算芯片內部自研IP模塊的FIT的數值

      Q1 圖中這個分層是哪里導致的？ A1 die attach，銀漿分層，最好有個reference對....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-10 10:36 ?2651次閱讀
      如何計算芯片內部自研IP模塊的FIT的數值

      工藝可靠性電遷移EM測試

      電遷移是金屬線在電流和溫度作用下產生的金屬遷移現象——運動中的電子和主體金屬晶格之間相互交換動量，金....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-07 09:37 ?6372次閱讀
      工藝可靠性電遷移EM測試

      EDS面掃、線掃、點掃的應用

      能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區內元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 08-29 09:43 ?6075次閱讀
      EDS面掃、線掃、點掃的應用

      波峰焊焊點吹孔的分析及解決方案

      在波峰焊生產過程中，吹孔是比較常見的不良現象，即從焊點表面肉眼可見較大的空洞，在IPC-A-610中....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 08-16 10:33 ?1841次閱讀

      tem成像系統有哪幾部分組成

      TEM的成像原理涉及許多物理和光學概念，涵蓋了電子束的產生、聚焦、樣品相互作用以及圖像形成等多個方面....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 08-07 09:47 ?1990次閱讀
      tem成像系統有哪幾部分組成

      透射電子顯微鏡的用途和特點

      透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 08-01 10:02 ?6060次閱讀

      介紹一種基于ICP-MS的硅材料痕量金屬檢測方法

      隨著硅材料在半導體和光電子領域的應用日益廣泛，痕量金屬元素對材料性能和質量的影響越來越大，高精度的硅....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 07-27 17:49 ?1701次閱讀

      季豐電子面向客戶提供完整的半導體工藝可靠性測試服務

      季豐電子面向客戶提供完整的半導體工藝可靠性測試、驗證和咨詢服務，可有效縮短制造工藝和器件開發的時間，....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 07-23 11:16 ?2245次閱讀
      季豐電子面向客戶提供完整的半導體工藝可靠性測試服務

      季豐2DX-ray分析能力可實現細微缺陷清晰展現

      ? Dage Quadra7介紹 作為Dage Quadra 系列中前沿的產品，Dage Quadr....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 06-26 11:14 ?738次閱讀
      季豐2DX-ray分析能力可實現細微缺陷清晰展現

      季豐電子FEI-Centrios線路修補設備為客戶提供高效服務

      FEI-Centrios線路修補設備可以更高效地根據客戶需求，完成鋁制程及銅制程芯片，市場大部鋁制程....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 06-20 11:21 ?1026次閱讀

      淺談IGBT去硅凝膠方法及注意事項

      如果要縮短溶解時間，可以預先用物理方式去除部分表面的硅膠，但需要有較好的控制，以免對鍵合引線或者芯片....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 06-10 07:08 ?4079次閱讀
      淺談IGBT去硅凝膠方法及注意事項

      季豐量產測試線設備——Wafer光學自動檢測介紹

      Wafer自動光學檢測（AOI）設備適用于6寸&8寸&12寸 wafer的2D&3D缺陷檢測、尺寸測....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 06-01 10:56 ?3157次閱讀
      季豐量產測試線設備——Wafer光學自動檢測介紹

      LabMaster新一代季豐實驗室管理系統正式發布

      2023年5月，LabMaster新一代季豐實驗室管理系統正式發布。 LabMaster是季豐自研的....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 05-31 09:55 ?1247次閱讀
      LabMaster新一代季豐實驗室管理系統正式發布

      衢州季豐與TUV南德簽約 幫助光伏產品制造商節約測試時間和成本

      50萬人注冊觀展、33個展館、3000家企業參展、觀眾來自全球95個國家……5月24日-5月26日，....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 05-26 11:18 ?809次閱讀

      季豐電子仿真的主要應用

      季豐電子硬件研發事業部有專門從事仿真業務的團隊，負責硬件電路的電氣完整性。
      的頭像 上海季豐電子 發表于 05-15 15:27 ?643次閱讀
      季豐電子仿真的主要應用

      季豐三代千路電壓電流監控設備MonitorMaster正式發布

      MonitorMaster是季豐研發的電壓、電流、功率監控方案。整個方案包含控制板和監控電路兩部分：....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 04-27 14:22 ?1275次閱讀
      季豐三代千路電壓電流監控設備MonitorMaster正式發布

      HF5000球差電鏡功能介紹和亮點功能案例分析

      季豐電子HITACHI HF5000功能豐富，借助超高的分辨率和獨特的探頭設計，可滿足客戶大多數極限....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 04-11 17:08 ?2585次閱讀

      跌落測試試驗條件能力介紹

      季豐嘉善實驗室包裝跌落試驗機 能力： ? ? ? 治具示意圖（不僅限圖示，更多治具開發中）： 樣品示....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 03-27 14:47 ?1636次閱讀

      季豐嘉善車規芯片量產測試線能力介紹——三溫CP、三溫FT、Burn-in、三溫SLT

      芯片測試是每一顆芯片進入市場前的必經環節。和消費類芯片不同，汽車芯片對安全性、可靠性有著更嚴苛的標準....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 03-21 14:32 ?13398次閱讀

      芯片在失效分析中的開封方法及注意事項

      Decap：即開封，也稱開蓋，開帽，是指將完整封裝的IC做局部腐蝕，使得IC可以暴露出來 ，同時保持....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 03-20 11:44 ?2744次閱讀
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