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發布了文章 2022-08-06 01:49
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發布了文章 2022-07-29 01:51
虹科案例|CELESTA光源用于Craft-ID技術的共聚焦成像
01什么是CRISPR？基因攜帶著生物體的遺傳信息，是儲存著生命的種族、血型、孕育、生長、凋亡等過程的一套精確的密碼，決定了生物體的性狀。隨著科學研究的深入，某些場景我們需要人為改變這些密碼，調控生物體的各種性狀，諸如性別、毛色、膚色等等（當然性狀也受環境的影響），這種行為被稱為基因編輯。然而基因編輯并非易事，原因之一便是基因眾多，組成簡單生命最少要265到548瀏覽量 -
發布了文章 2022-07-21 01:48
虹科案例|用于多路復用熒光檢測的固態照明
寫在前面在復雜的異質標本中同時識別和定位多個分子或分子組裝體的能力長期以來一直是推動熒光顯微鏡在生物和物理科學中應用的主要優勢。例如，自1986年以來，使用四種光譜不同的熒光團鑒定DNA的腺嘌呤、胸腺嘧啶、胞嘧啶和鳥嘌呤(ATCG)堿基，已成為大多數自動化DNA測序技術的基礎[1]。在下文中，小編為大家介紹了幾種多重熒光檢測的方法及其特點，并展示利用虹科固態1.3k瀏覽量 -
發布了文章 2022-07-17 14:30
虹科案例|市場上第一個快速無損用于晶圓質量控制的太赫茲系統
1背景：晶圓及測試技術晶圓指的是半導體集成電路所用的晶片，由于形狀為圓形，故稱為晶圓。在硅晶片上可以加工制造各種電路元件結構，成為具有特定電氣功能的集成電路產品。晶圓的原始材料是硅，地殼表面有取之不盡的二氧化硅。硅礦經電弧爐精煉，鹽酸氯化，蒸餾，生產出純度高達99%的高純多晶硅。高純度的多晶硅溶解后摻入硅晶體晶種，然后慢慢拉出，形成圓柱形的單晶硅。硅晶棒在經656瀏覽量 -
發布了文章 2022-07-14 05:05
虹科案例|CELESTA光源用于基因表達的多重成像
01背景多發性硬化癥（Multiplesclerosis，MS）是一種中樞神經系統慢性炎癥相關的疾病，主要損害脊髓、大腦以及視神經。同時其也是一種罕見病，多發于20-40歲的中青年群體，患者機體的神經髓鞘的破損和剝落致使其脊髓、大腦及視神經功能受到損害；通常情況下，患者的神經系統殘疾在發病一二十年后逐漸加重，會使其喪失自理能力、失明甚至失去生命。目前多發性硬475瀏覽量 -
發布了文章 2022-06-30 00:31
虹科案例|nanoGUNE應用Onyx系統實現石墨烯電學性質的無損表征
01挑戰：高分辨率、快速無損表征石墨烯二維材料，是指電子僅可在兩個維度的納米尺度（1-100nm）上自由運動（平面運動）的材料，如納米薄膜、超晶格、量子阱。二維材料是伴隨著2004年曼徹斯特大學Geim小組成功分離出單原子層的石墨材料——石墨烯（graphene）而提出的。石墨烯（Graphene）是一種以sp2雜化連接的碳原子緊密堆積成單層二維蜂窩狀晶格結375瀏覽量 -
發布了文章 2022-06-24 00:33
虹科案例 | CELESTA光源應用于3D高內涵成像
點擊上方藍字關注我們01背景高內涵成像（High-contentimaging）是一種基于生物圖像技術的高通量細胞成像篩選方法，它將自動多色熒光成像與量化數據分析相結合，以同時評估2D和3D細胞以及其他類型的生物樣本培養中單個細胞的多種分子特征。正因為光源技術與顯微鏡技術在過去幾十年所取得的驚人進步，HCI才成為可能。具體來說，顯微鏡現在能夠通過熒光激發與自1.5k瀏覽量 -
發布了文章 2022-06-17 00:40
虹科案例|大眾集團利用Irys太赫茲系統實現車身涂層厚度的無損檢測
01背景：傳統涂層測厚技術存在局限汽車漆面涂層作為汽車的外衣，不僅僅起到美觀的作用，更重要的是在長期的戶外交通中避免汽車表面與各類介質發生化學反應導致的侵蝕現象，以及減少車身在行進過程中與空氣懸浮物、沙礫等碰撞產生的傷害。車身的漆面涂層由里到外通常有4層，分別是電泳層、中涂層、色漆層、清漆層。電泳層起到防銹和提高漆層結合力的作用，中涂層起到連接色漆層和電泳層827瀏覽量 -
發布了文章 2022-06-10 00:44
虹科案例| Notus無損檢測系統用于風電渦輪機葉片涂層厚度與內部缺陷檢測
點擊上方藍字關注我們01挑戰：渦輪機葉片涂層損壞導致高額維護成本為了應對氣候危機，從電力和熱能到運輸和重工業，經濟的各個方面都脫碳至關重要。為了實現這一目標，作為綠色能源的風能，已經逐漸成為人類能源的來源之一。風電應用中，通常采用風電渦輪機這種裝置來實現風的動能到電能的轉變。而葉片是風電渦輪機最關鍵的部件，它的結構長期暴露在環境條件下，由此可能產生一些損傷，835瀏覽量 -
發布了文章 2022-06-03 00:35
虹科案例|CIEMAT利用太赫茲Onyx系統以無損表征光伏器件的電學特性
01挑戰：現有電學表征技術的“鴻溝”目前，應用于材料的電學參數表征方法可以分為兩大類：一類為宏觀尺度技術，比如四點探針法或范德堡法，光學測量等，允許快速檢測，但只能提供直流電導率等單一參數信息。另一類為納米尺度的技術，如拉曼光譜、原子力顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡等，能夠得到分辨率很高的圖像，然而通常需要復雜的樣品制備步驟，并且測量速度十分緩慢，無法實現高速測648瀏覽量
