印制線路板及其覆銅箔層壓板耐離子遷移性能，是研究印制線路板及其履銅箔層壓板在高溫高濕的條件下，由于線路電壓的作用，線路銅箔上的銅離子沿樹脂和玻璃纖維表面（包括外表面和內層表面）遷移的過程。

這種遷移，以兩種形式存在，一是化學遷移，另一是電遷移。在光學顯微鏡觀察下，可清晰觀察到象樹枝狀遷移痕跡。在高度集成的電路中，會形成導線間的電氣短路，嚴重影響產品性能和可靠性。這種由遷移形成的銅絲會在相鄰的導體間產生內部電氣短路，失效后的板材將給電器產品造成重大的損失。這種損失在航天、通訊和生命技術領域顯得尤其重大。同時，可嚴重影響電子產品的長期可靠性。因此，導電陽極絲（CAF）和電化學遷移（ECM）的測試就變得非常重要。

導電陽極絲簡稱CAF，是指PCB內部銅離子從陽極（高電壓）沿著玻纖絲間的微裂通道，向陰極（低電壓）遷移過程中發生的銅與銅鹽的漏電行為。當PCB/PCBA在高溫高濕的環境下帶電工作時，兩絕緣導體間可能會產生嚴重的沿著樹脂或玻纖界面生長的CAF，此現象將最終導致絕緣不良，甚至短路失效。

對于成品PCB，CAF的形成主要影響因素有：PCB設計，板材配本，PCB加工過程。

預防和解決方法：

（1）選擇合適的板材材質

（2）控制層壓的質量

（3）控制鉆孔質量

（4）PCB設計控制偏壓和孔間距的規避

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