客戶反饋在使用STM32F412的時候，擦除Sector 8~11發(fā)現(xiàn)時間過長，從而導致意外觸發(fā)IWDG復位。

問題分析

問題詳情

通過與客戶郵件和電話溝通，了解到客戶主要是想使用內(nèi)部FLASH暫時保存IAP升級時的程序數(shù)據(jù)，在IAP升級的過程中，需要首先擦除內(nèi)部FLASH中一塊足夠大的空間，然后再寫入升級數(shù)據(jù)。客戶的工程中有使用到IWDG，喂狗間隔大約1.5s，客戶的通過SysTick的方式計算出擦除Sector8大約需要2ms,因此認為若一次擦除Sector8~11大約需要8ms，于是在代碼中一次性擦除Sector8~11后最后再來喂狗，但是，這樣會觸發(fā)IWDG復位，這個與預(yù)期不一致，固此產(chǎn)生疑問。

問題重現(xiàn)

使用NUCLEO-F412ZG板嘗試重現(xiàn)客戶問題，主要代碼如下：

此外，同時在每個SysTick中斷輸出一個波形，用來檢測SysTick是否正常：

最終得出的波形如下:

如上圖，黃色為PC8腳波形，表示擦除FLASH的時間,下面藍色為PA11管腳波形，表示SysTick波形。

從上圖可以看出擦除Sector8所需要的時間是800ms,這個與客戶認為的2ms是不一致的。查看STM32F412的數(shù)據(jù)手冊，在第6.3.12節(jié)中可以看到如下信息:

如上圖，在PSIZE=32時，擦除一個128K的扇區(qū)需要大概1S(典型值)的時間，而我們從圖1中實際測出的為800ms，這個基本相差不大，單與客戶認為的2ms相去甚遠，基本上我們認為這里的800ms是正確的結(jié)果，但是這個又是什么原因?qū)е驴蛻敉ㄟ^SysTick測出的值是錯誤的呢？

實際上，從圖1我們也可以看出，在擦除FLASH的期間，SysTick是沒有波形的(見圖1下面藍色波形)，同時在參考手冊3.5節(jié)中有如下信息：

這句話的意思是說，在擦除FLASH的期間，若嘗試讀取FLASH，則會被暫停，實際這個”讀取”是指取指，我們都知道，程序的執(zhí)行首先得通過從FLASH中通過I-BUS取出指令后才可以執(zhí)行。這里SysTick之所以會被暫停掉，就是因為在擦除FLASH期間，為了執(zhí)行SysTick中斷例程，內(nèi)核會嘗試從FLASH取指，從而導致被暫停掉，進而全局變量uwTick的值沒有機會增加。下圖是調(diào)試界面：

如上圖，在執(zhí)行擦除扇區(qū)后，SysTick的全局變量uwTick就增加了1，但SysTick在內(nèi)核中的寄存器還是有變化的。這個與我們的預(yù)想一致。

最后客戶通過每擦除一個扇區(qū)喂一次狗的方式解決了問題，而在此期間不能依靠SysTick的值來計算時間。

結(jié)論

○在擦除FLASH期間，取指操作會被暫停掉，且SysTick所對應(yīng)的全局變量uwTick值是不會增加的。

○另外，通過函數(shù)HAL_FLASHEx_Erase_IT()來執(zhí)行擦除FLASH和通過函數(shù)HAL_FLASHEx_Erase()所花費時間沒有差別，只不過前者在擦除完成后會產(chǎn)生一個中斷，而后者沒有。

○可以通過外設(shè)RTC來計算擦除FLASH的時間，從而繞開限制。