飛針測試是一個檢查PCB電性功能的方法（開短路測試）之一。飛針測試機是一個在制造環境測試PCB的系統。不是使用在傳統的在線測試機上所有的傳統針床(bed-of-nails)界面，飛針測試使用四到八個獨立控制的探針，移動到測試中的元件。在測單元(UUT, unit under test)通過皮帶或者其它UUT傳送系統輸送到測試機內。然后固定，測試機的探針接觸測試焊盤(test pad)和通路孔(via)從而測試在測單元(UUT)的單個元件。測試探針通過多路傳輸(multiplexing)系統連接到驅動器(信號發生器、電源供應等)和傳感器(數字萬用表、頻率計數器等)來測試UUT上的元件。當一個元件正在測試的時候，UUT上的其它元件通過探針器在電氣上屏蔽以防止讀數干擾。

飛針測試程式的制作的步驟:

方法一

第一：導入圖層文件，檢查，排列，對位等，再把兩個外層線路改名字為fronrear.內層改名字為ily02,ily03,ily04neg(若為負片),rear,rearmneg。

第二：增加三層，分別把兩個阻焊層和鉆孔層復制到增加的三層,并且改名字為fronmneg,rearmneg,mehole.有盲埋孔的可以命名為met01-02.,met02-05,met05-06等。

第三：把復制過去的fronmneg,rearmneg兩層改變D碼為8mil的round。我們把fronmneg叫前層測試點，把rearmneg叫背面測試點。

第四：刪除NPTH孔，對照線路找出via孔，定義不測孔。

第五：把fron,mehole作為參考層,fronmneg層改為on,進行檢查看看測試點是否都在前層線路的開窗處。大于100mil的孔中的測試點要移動到焊環上測試。太密的BGA處的測試點要進行錯位。可以適當的刪除一些多余的中間測試點。背面層操作一樣。

第六：把整理好的測試點fronmneg拷貝到fron層，把rearmneg拷貝到rear層。

第七：激活所有的層，移動到10,10mm處。

第八：輸出gerber文件命名為fron,ily02,ily03,ily04neg,ilyo5neg,rear,fronmneg,rearmneg,mehole，met01-02,met02-09,met09-met10層。

然后用Ediapv軟件

第一：導如所有的gerber文件fron,ily02,ily03,ily04neg,ilyo5neg,rear,fronmneg,rearmneg,mehole，met01-02,met02-09,met09-met10層。

第二：生成網絡。netannotationofartwork按扭。

第三：生成測試文件.maketestprograms按扭，輸入不測孔的D碼。

第四：保存。

第五：設置一下基準點，就完成了。然后拿到飛針機里測試就可以了。

1、用這種方法做測試文件常常做出很多個測試點來，不能自動刪除中間點。

2、對孔的測試把握不好。在ediapv中查看生成的連通性（開路）測試點，單獨的孔就沒有測試點。又比如：孔的一邊有線路，而另一邊沒有線路，按道理應該在沒有線路的那一邊對孔進行測試。可是用ediapv轉換生成的測試點是隨機的，有時候在對有是后錯。郁悶啊!

3、針對REAR面防焊沒有開窗的可以將REAR層的名字命成其它名字，這樣在EDIAPV中就不會莫明其妙的跑出測點來了。

4、如果有MEHOLE兩面只有一面開窗，但是跑出來有兩面都有測點的話，可以再按一次這個maketestprograms按扭，需要注意的是將光標定在MEHOLE這一層上方可。這樣話就可以將防焊沒有開窗的孔上的測點刪除了。

5、以上的各層的名字千萬不要命錯了哦，不然的話后面你就有麻煩了。

方法二

第一：導入圖層文件，檢查，排列，對位等，再把兩個外層線路改名字為fronrear.內層改名字為ily02,ily03,ily04neg(若為負片),rear,rearmneg

第二：增加三層，分別把兩個阻焊層和鉆孔層復制到增加的三層,并且改名字為fronmneg,rearmneg,mehole.有盲埋孔的可以命名為met01-02.,met02-05,met05-06等。

第三:將影響網絡的LINE或其它東東刪除，再將防焊層的PAD對應線路層轉成PAD。

第四，將正負片合并，保留正片。MEHOLE層的孔屬性改為PAD，對各層編輯OK后再GENESIS中將各層輸出。

第五fron,ily02,ily03,ily04neg,ilyo5neg,rear,fronmneg,rearmneg,meholemet01-02,met02-09,met09-met輸入華笙EZFIXTURE中定義好各層，然后執行網路分析，將跑出測試點保存。

第六:將EZFIXTURE保存好的*.e***檔案導入EZPROBE中選擇最小探針執行分針，然后輸出鉆帶的C01，S01讀入GENESIS。

第七：把C01，S01改成D碼為8mil的round，先將C01鏡像一下，再分別COPY到fronmneg,rearmneg層中，我們把fronmneg叫前層測試點，把rearmneg叫背面測試點。激活所有的層，移動到10,10mm處。

第八：輸出gerber文件命名為fron,ily02,ily03,ily04neg,ilyo5neg,rear,fronmneg,rearmneg,meholemet01-02,met02-09,met09-met10層。

個人感覺：1、用這種方法做測試文件要比第方法要好，因為華笙軟件可以將網絡中間點刪除，這樣話就可以節省很多時間來測試。

總的來說再用EDIAPV來生成網絡和生成測試文件有時PCBGerBer太密了的話就容易短路，還有就是有些GENESIS輸出來GERBER，EDIAPV它不能夠識別，這樣的話有時會造成開路或短路。

關于測試線路板所需要的時間：

測試機測試線路板時，每款板需要的時間都不一樣的，因為每一款板的點數和網絡都不一樣。測試的時間主要是根據這二項來計算時間的。

做好一個測試文件會生成一個Report文件，里面有該款板測試的理論時間（如藍字所示，型號為SN0800020A0）。

測試每款板（通常以硬板為準）的準確時間是在測試一塊OK塊時，測試機的測試耗時為準。

通常來講，實際時間跟理論時間是基本一致的，而FX3000系列飛針測試機在很多方面做了改進，精度提高，測試速度方面可增加20%左右，（我們通過實際操作得以驗證），影響FX3000系列飛針測試機速度的原因有以下幾種情況：

1、調速度 :通常XY軸驅動速度調到70000，最快不超過80000；Z軸驅動速度調到7000，最快不超過8000，否則會影響機器的性能，出現掉步等現象。

2、縮短測板時的打針和回針后的等待時間。

3、降低Z軸提升高度：Z軸提升高度的范圍在120-360之間，通常設置到180-280之間，Z軸提升的數據越大，速度越慢；反之則越快，但Z軸提升數據太小，會出現刮板等現象。

4、測試過程中出現問題時，測試時間會相對增加。比如：測試出現開路，在復測OK時，測試機會自動復這個開路網絡和鄰近網絡的短路，測試時間就會相對增加；出現不確定的短路時測試時間會增加。（測試出現多問題，主要看廠家生產的PCB的質量是否多開、短路和表面處理導電性是否很好，還有操作員基準點的設置是否合理，這需要操作員的測試經驗）。

5、板本身的特點也會影響測試時間。

比如：有些板子的測試點太靠近板邊和部分柔性板的測試，需要做特定的支撐架加以緊固，支撐，如果固定的不好，板子前后晃動，那么在測試時就要增加Z軸提升高度，測試時間增加。

飛針測試假開路原因分析及解決策略

印制板產品問題：

如果在排除測試設備和工藝數據外，另一種情況應屬于PCB產品本身存在問題，主要表現在翹曲、阻焊、字符不規范。

（1）翹曲：有些生產計劃員為了趕時間，常常省去熱風整平這道工序，直接送終檢，如果不經過熱平，產品翹曲度大于測試設備允許的翹曲度范圍。因此，熱平這道工序不能少，同時也要求檢驗測試人員在測試前加上翹曲度測量。

（2）阻焊：往往開路比較厲害的產品，都會因為部分導通孔被阻焊層堵住而測出的結果令人不滿意，在測試時應盡量避開轉接孔（或確保孔導通無誤）的測試。

（3）字符：很多PCB制造商都會先印字符再電測，只要字符印的位置稍有偏移或字符底片精度不夠，細表貼和小孔可能會被字符蓋住一部分。因此為了避免因字符而引起開路，帶有細表貼、小孔（Φ<0.5）、細線條高密度的印制板應先電測后字符的工藝流程是較合理的。< span="">

飛針測試與夾具測試的區別

◆飛針測試機是典型的利用電容法測試的設備,測試探頭在線路板上快速逐點移動來完成測試。

◆必須先進行標準板學習,讀入每個網絡的電容標準值。

◆先利用電容法測試,當測得電容不在合格范圍內時再用電阻法進行準確確認。

◆可進行四線測量。

◆因測試速度慢只適合測試批量少的樣板。

優缺點:

◆測試針容易損壞

◆測試速度慢

◆測試密度高最小Pitch可達0.05mm甚至更小

◆無夾具成本

◆耐壓無法測試,高層次高密度板測試有較大風險。