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博微BW-4022A 半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)

博微電通科技 ? 來源:jf_25720899 ? 作者:jf_25720899 ? 2024-06-19 15:33 ? 次閱讀

BW-4022A

半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)

BW-4022A產(chǎn)品介紹:

BW-4022A 晶體管直流參數(shù)測試機(jī)是新一代針對半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng),經(jīng)過我公司多次升級與產(chǎn)品迭代,目前測試性能、精度、測試范圍及產(chǎn)品穩(wěn)定度得到大幅提升,成為半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來料檢驗(yàn)、研發(fā)分析、產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一。

針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度靜態(tài)參數(shù)包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)進(jìn)行測試。

BW-4022A 晶體管直流參數(shù)測試機(jī)大規(guī)模 32 位 ARM&MCU 設(shè)計(jì), PC 中文操作界面,高壓源 2500V:選配1.4KV-- 2KV,高流源500A :選配 40A、100A、200A、300A及以上。程控軟件基于 Lab VIEW 平臺, 填充調(diào)用式菜單操作界面,測試界面簡潔靈活、人機(jī)界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座,只需要根據(jù)不同器件更換測試座配合系統(tǒng)自適應(yīng)測試設(shè)置可完成大多數(shù)電子元件的靜態(tài)參數(shù)參數(shù), 系統(tǒng)內(nèi)部配置因線路、接觸性、及EMC引起的干擾進(jìn)行自動補(bǔ)償,確保測試結(jié)果準(zhǔn)確度;針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度靜態(tài)參數(shù)包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)進(jìn)行精確測試。

產(chǎn)品電氣參數(shù):

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號:BW-4022A

產(chǎn)品名稱:半導(dǎo)體直流參數(shù)測試機(jī)

物理規(guī)格

主機(jī)尺寸:深 660*寬 430*高 210(mm)

主機(jī)重量:<28kg

電氣環(huán)境

主機(jī)功耗:<300W

海拔高度:海拔不超過 4000m

環(huán)境要求:-20℃ ~ 60℃(儲存)、5℃ ~ 50℃(工作)

相對濕度: 20%RH~75%RH (無凝露 ,濕球溫度計(jì)溫度 45℃以下)

大氣壓力:86Kpa ~106Kpa

防護(hù)條件:無較大灰塵 ,腐蝕或爆炸性氣體 ,導(dǎo)電粉塵等

電網(wǎng)要求:AC220V、 ±10%、50Hz±1Hz

工作時間:連續(xù)

系統(tǒng)說明:

該測試系統(tǒng)主要由測試主機(jī)和程控電腦及外部測試夾具(其他聯(lián)機(jī)設(shè)備)三部分組成。可對常見的SOD/SOT/DO/TO/LL/DFN等封裝進(jìn)行直接配置測試,對特殊封裝夾具進(jìn)行定制,通過 Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站,實(shí)現(xiàn)快速批量化測試,測試數(shù)據(jù)可在線存貯、導(dǎo)出。

服務(wù)領(lǐng)域:

半導(dǎo)體生產(chǎn)企業(yè);封裝測試;晶圓測試;家電業(yè);軌道交通;智能電網(wǎng);新能源汽車;國防工業(yè);科研教學(xué)等

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應(yīng)用場景:
? 研發(fā)分析 : 根據(jù)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的測試分析
?失效分析:失效測試分析,失效機(jī)理分析、 過程分析及改善依據(jù)
?選型配對:同類型器件參數(shù)對比分析、選型參數(shù)依據(jù)、一致性分析類比
? 來料檢驗(yàn):檢驗(yàn)部/質(zhì)量部(IQC)對出入庫器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率
?量產(chǎn)測試:可與機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)、編帶機(jī)、探針臺等外部設(shè)備聯(lián)機(jī)測試,實(shí)現(xiàn)規(guī)模化、自動化快速測試

產(chǎn)品特點(diǎn):

? 客戶端PC、工控機(jī)均可程控測試機(jī)進(jìn)行測試

? 菜單調(diào)用式測試程序亦可編輯軟件操作簡便、人機(jī)界面友好

? 針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度靜態(tài)參數(shù)測試

? 系統(tǒng)基于 Lab VIEW 平臺開發(fā)

? 自動識別器件極性、 NPN/PNP

?16 位 ADC,1M/S 采樣速率

?高壓源 2500V:選配1.4KV-- 2KV

?高流源500A :選配 40A、100A、200A、300A及以上

? 驅(qū)動電壓 10mV~40V

?控制極電流 10uA~100mA

?四線開爾文連接確保連接可靠性

? RS232 串口通信

?Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)

?提供豐富的測試適配器

?切換板采用高速水銀繼電器,測試效率與可靠性大大提高

?可與分選機(jī)、探針臺、編帶機(jī)等聯(lián)機(jī)測試

BW-4022A可測試器件類型及測試項(xiàng)目:

?二極管類:Diode/ZD(Zener Diode) /SBD(SchottkyBarrierDiode)/TVS/整流橋

?三極管類: 三極管/單雙向可控硅/MOS/JFET/IGBT/三端功率驅(qū)動器/七端半橋驅(qū)動/高邊功率開關(guān)

?保護(hù)類:壓敏電阻/單組電壓保護(hù)器/雙組電壓保護(hù)器

?穩(wěn)壓集成類:三端穩(wěn)壓器/基準(zhǔn) IC(TL431) /四端穩(wěn)壓/穩(wěn)壓集成類

?繼電器類&光耦類&傳感監(jiān)測類

?高壓源 2400V:(選配1.4KV-- 2KV)

?高流源 500A :(選配 40A.100A,200A.300A及以上)

?柵極電壓 40V/100mA 分辨率至 1.5uV / 1.5pA 精度可至 0.1%

?支持“脈沖式自動加熱”

?支持“分選機(jī)”、”編帶機(jī)“、“探針臺”等半導(dǎo)體設(shè)備通信聯(lián)機(jī)

BW-4022A測試項(xiàng)目:

?漏電參數(shù):IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

?擊穿參數(shù):BVCEO BVCES (300μS Pulse above 10mA) BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO

?導(dǎo)通參數(shù):VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode) VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)

?關(guān)斷參數(shù):VGSOFF?觸發(fā)參數(shù):IGT、VGT?保持參數(shù):IH、IH+、IH-

?鎖定參數(shù):IL、IL+、IL-?增益參數(shù):hFE、CTR、gFS?間接參數(shù):IL

?混合參數(shù):rDSON、gFS、Input Regulation、 Output Regulation

BW-4022A測試參數(shù):

(1) 二極管類:二極管 Diode

Kelvin,Vrrm,Irrm,Vf,△Vf,△Vrrm,Cka,Tr(選配);

(2) 二極管類:穩(wěn)壓二極管 ZD(Zener Diode)

Kelvin,Vz,lr,Vf,△Vf,△Vz,Roz,lzm,Cka;

(3) 二極管類:穩(wěn)壓二極管 ZD(Zener Diode)

Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka;

(4) 二極管類:三端肖特基二極管 SBD(SchottkyBarrierDiode)

Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr(選配);

(5) 二極管類:瞬態(tài)二極管 TVS

Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ;

(6) 二極管類:整流橋堆

Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka;

(7) 二極管類:三相整流橋堆

Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka;

(8) 三極管類:三極管

Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、 Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr (選配)、Ts (選配)、Value_process;

(9) 三極管類:雙向可控硅

Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、 Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm;

(10)三極管類:單向可控硅

Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、 Vtm;

(11)三極管類:MOSFET

Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、 Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ;

(12)三極管類:雙 MOSFET

Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、 Coss、Crss;

(13)三極管類:JFET

Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、 Ciss、Crss、Coss;

(14)三極管類:IGBT

Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss;

(15)三極管類:三端開關(guān)功率驅(qū)動器

Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt;

(16)三極管類:七端半橋驅(qū)動器

Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt;

(17)三極管類:高邊功率開關(guān)

Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt;

(18)保護(hù)類:壓敏電阻

Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr ;

(19)保護(hù)類:單組電壓保護(hù)器

Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;

(20)保護(hù)類:雙組電壓保護(hù)器

Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;

(21)穩(wěn)壓集成類:三端穩(wěn)壓器

Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、 ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk;

(22)穩(wěn)壓集成類:基準(zhǔn) IC(TL431)

Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka;

(23)穩(wěn)壓集成類:四端穩(wěn)壓

Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、 Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk;

(24)穩(wěn)壓集成類:開關(guān)穩(wěn)壓集成器選配;

(25)繼電器類:4 腳單刀單組、5 腳單刀雙組、8 腳雙組雙刀、8 腳雙組四刀、固態(tài)繼電器

Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton(選配)、Toff(選配);

(26)光耦類:4 腳光耦、6 腳光耦、8 腳光耦、16 腳光耦

審核編輯 黃宇

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