光學(xué)檢測作為智能制造的關(guān)鍵一環(huán)，一直以來肩負(fù)著工業(yè)制造過程中產(chǎn)品質(zhì)量、精度和性能等方面的重要保證。近年來，更是被廣泛用于消費電子、半導(dǎo)體芯片，汽車零部件等質(zhì)量檢測中，為制造業(yè)從材料分析到生產(chǎn)，再到裝配及失效分析全面賦能，向高質(zhì)量發(fā)展努力轉(zhuǎn)型。

蔡司代理三本精密儀器獲悉，在即將于上海新國際博覽中心（3月20-22日）舉辦的2024慕尼黑“上海光博會”（LASER WORLD of PHOTONICS CHINA2024）上，「質(zhì)量」專家蔡司將再度攜一眾質(zhì)量解決方案重磅登場——屆時，您將領(lǐng)略蔡司最新光學(xué)系統(tǒng)復(fù)合式檢測解決方案，，顯微分析質(zhì)量解決方案，連接器無損檢測解決方案，藍光三維光學(xué)掃描質(zhì)量解決方案等。

而更值得期待的是，展會首日，蔡司還將正式發(fā)布旗下顯微鏡家族的新品ZEISS Axio Zoom.V16，這款兼具高分辨率與高效率的蔡司數(shù)碼顯微鏡究竟將帶來哪些創(chuàng)新？3月20日上午11：00，蔡司展臺W4102，我們將現(xiàn)場為您揭曉，敬請期待！

先劇透現(xiàn)場部分精彩

看點1
復(fù)合式質(zhì)量解決方案 | 電子器材
挑戰(zhàn)：電子領(lǐng)域背板連接器測量挑戰(zhàn)
蔡司解決方案 | O-DETECT 322復(fù)合式檢測
高效光學(xué)測量 更高檢測效率
全景相機導(dǎo)航 方便編程
軟件系統(tǒng) 功能強大卻簡單易學(xué)

看點2
CT檢測質(zhì)量解決方案 | 電子產(chǎn)品
連接器產(chǎn)業(yè)鏈的測量挑戰(zhàn)（從生產(chǎn)到裝配及失效分析）
蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM | 生產(chǎn)過程
一臺設(shè)備具備多種功能包括但不限于GD&T檢測，失效分析，非破壞性測試
借助孔隙率分析功能優(yōu)化注塑工藝參數(shù)
低使用成本、低維護成本、較小占地面積（1.6㎡）
多工件批量掃描、自動化檢測腳本，有效節(jié)約人力和時間

蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM + ZEISS INSPECT X-Ray | 裝配及失效分析
在整個測量范圍內(nèi)具備可追溯的計量精度
ZEISS INSPECT X-Ray 簡便易用，功能強大
無損檢測，無需剖切
ZEISS Metrotom多樣產(chǎn)品序列滿足客戶各種需求
AMMAR 及BHC各類偽影校正功能，顯著提升圖像質(zhì)量