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浪涌抗擾度怎么測?我們用這個A/D轉換器試了一下

jf_pJlTbmA9 ? 來源:得捷電子DigiKey ? 作者:得捷電子DigiKey ? 2023-11-27 15:20 ? 次閱讀

作者: Alan Yang,來源: 得捷電子DigiKey微信公眾號

浪涌抗擾度測試表明,設備或設備在雷擊,或切換重載,或短路故障條件下,引起的工業電源浪涌等事件中的耐受能力。本文以ADIAD74115H舉例,如何進行浪涌抗擾度測試。

1. 浪涌抗擾度測試原理及詳細分析

首先明確測試目標:浪涌抗擾度測試旨在評估受試設備 (EUT), 在高能電源與互連線干擾(浪涌脈沖)下的性能。

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圖 1 . 浪涌抗擾度測試原理 (圖片來源于Bel Fuse)

1.1 浪涌抗擾度測試兩大主要部分:

浪涌脈沖脈沖發生器

通常通過源阻抗(例如 10 Ω 的電阻、9 μF 的串聯電容)直接耦合信號

去耦網絡(CDN)

去耦網絡(CDN)通常包含,(在抗擾度測試系統內)有助于在浪涌測試期間的保護電源或輔助設備。其中去耦網絡(CDN)中的電感,結合電源轉化器輸入電容,從而起到去耦合的作用。

然而,CDN 中使用的電感越高,預期振蕩概率就越高。相反,轉換器輸入電容越高,振蕩的概率就越低。

當 EUT 通過CDN 連接,當前設計的電源轉換器可能無法啟動或出現振蕩。在某些情況下,振蕩可能會導致 EUT 損壞。

1.2 浪涌抗擾度測試關鍵參數

直流電源的輸入電壓

結論:較高的直流電源輸入電壓,有利于測試。

根據標準 EN 50121-3-2 ,浪涌測試應在最大輸入工作電壓下執行。例如,電池電壓為 110 V 時,應以137.5 V 進行測試。

務必要確保將直流電源電壓調整到足夠高,以補償 CDN 和輸入線的損耗。

舉例:使用24 V DC/DC 轉換器,功率為300 W,CDN 串聯阻抗 0.5 Ω,CDN 電壓降將為大約 7 V。

同時,輸入電壓越高,預期振蕩概率就越低。

負載輸出電流

結論:較低的負載輸出電流,有利于測試。

輸出功率越低,從電源吸取的輸入電流就越低。當負載足夠低時,振蕩就會消失。

去耦網絡CDN的額定電流

結論:較低的去耦電感,較低的串聯電阻,較高額定電流的 CDN,發生振蕩的可能性較低。

在IEC 61000-4-5 標準中,并未指定 CDN 電感參數。因此,市場上推出了各類 CDN 設備,這導致部分測試實驗室使用具有相當高電感的 CDN,其中的 DC/DC 轉換器可能會發生振蕩。相反,有的實驗室可能使用較低電感的 CDN,且沒有觀察到不穩定性現象。CDN 的通用電感約為 1 mH(每極)。

IEC 61000-4-5 浪涌測試等級

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2. 發生振蕩的原因與可能的解決方案

無負載情況下,發生振蕩的原因

開關“SW”打開后(或電路中引入其他變化/階躍),此 LC 電路中出現頻率為“fr”的諧波振蕩。

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圖 2. 無負載情況下,發生振蕩的原因 (圖片來源于Bel Fuse)

由于能量無法及時耗散,因此能量在電容和電感之間,以恒定的幅度長久持續地振蕩。

可能的解決方案 - 引入耗散電阻

為了避免振蕩的發生,可以引入耗散電阻(比如電阻“Rdump”),則電感和電容之間的能量傳輸就會有損耗,且振蕩幅度會隨著時間的推移而減小。

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圖 3. 可能的解決方案 - 引入耗散電阻 (圖片來源于Bel Fuse)

連接了穩壓電源轉換器情況下,發生振蕩的原因

如果連接了穩壓電源轉換器而非耗散元件(如電阻負載),則幅度不會減小,而是及時放大。

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圖 4. 連接了穩壓電源轉換器情況下,發生振蕩的原因 (圖片來源于Bel Fuse)

可能的解決方案 - 引入耗散電阻

若要補償這種影響,至少需要在電路中添加耗散電阻“R”。若要耗散足夠快,“R”的值應該越小越好。

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圖5. 可能的解決方案 - 引入耗散電阻 (圖片來源于Bel Fuse)

電阻“R”的并聯(左圖),會在直流條件下導致額外顯著耗散。因此,最好串聯電阻“Rs”和電容器“Cs”(右圖),以更有效地抑制振蕩。

3. 減輕浪涌測試期間振蕩的可用解決方案比較

除了引入耗散電阻之外,我們還可以通過調整輸入電容或者限制轉換器調節環路帶寬,來減輕浪涌測試期間振蕩。下面是三種方案的比較:

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4. ADI AD74115H浪涌測試實例

根據IEC 61000-4-5工業環境標準:

浪涌為兩種波形的組合波:

上升時間1.2μs與50μs脈寬開路電壓
上升時間8μs與20μs脈寬短路電流

DUT(被測器件)在每個額定值下經受五次正浪涌和五次負浪涌。

每個浪涌之間的間隔為1分鐘。對AD74115H輸出電纜進行浪涌測試,該電纜被視為DUT的非屏蔽非對稱操作互連線。浪涌通過去耦網絡CDN 117施加到I/O和傳感器

CDN(去耦網絡)不影響DUT的指定功能條件。DUT和CDN之間的互連線路長度應小于等于2m。

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圖6. ADI AD74115H浪涌測試實例 (圖片來源于ADI)

4.1 硬件配置
為了確保I/O口和傳感器引腳以及用于內部數字輸出FET的完整性。
浪涌測試期間測試對象,需要測試下面這些特定對象:

電壓輸出(以及通過重新配置ADC輸入節點的電壓輸入)

內部數字輸出

傳感器引腳sense_EXT1和sense_EXT 2

浪涌相較于IO_N(AGND)一次一個地耦合到每個端子。所有測試對象均使用非屏蔽電纜。

對于電壓輸出測試對象,將6V配置為連接在IO_P和IO_N之間的100kΩ負載的輸出。測量(電壓輸入)被配置為IO_P至IO_N,范圍為0 V至12 V。

SENSE_EXT1和SENSE_EXT 2節點被選為診斷節點,并被配置為0 V到12 V范圍內ADC的輸入。兩個串聯的AA電池被用作每個SENSE_EXTx引腳的3.1 V輸入。

對于內部數字輸出,在IO_P和IO_N之間連接1 kΩ負載電阻器。該測量值被配置為對流過內部RSET的電流進行內部診斷。

4.2 軟件配置
使用的軟件是AD74115H評估板提供的評估軟件。在每次測試開始時,進行預測試配置。在放電之前,執行前測量流程。放電后,執行后測量流程。

預測試配置

重置DUT
清除警報狀態寄存器
配置信道
配置ADC測量節點
配置ADC采樣率為20 SPS

前測量與后測量流程

讀取并存儲警報狀態寄存器
清除警報狀態寄存器
讀取ADC數據
將數據保存到文件

4.3 性能表現總結
下表總結了浪涌試驗結果。對于數字輸出測試對象,不記錄偏差,因為精度取決于負載。測試驗證了數字輸出沒有意外關閉。警報狀態寄存器中的ADC轉換錯誤位在每次測試后設置。ADC誤差表示飽和誤差(ADC測量讀數為滿刻度),表明在測試引腳上觀察到>12 V的浪涌電壓。

wKgZomVdeBqAS1r7AACjce20TWM520.png

常見的防止浪涌電流的元器件

電阻
對于小功率電源(最多幾瓦),增加一個串聯電阻,是一個簡單和實用的解決方案,以限制浪涌電流。但限制浪涌電流的的電阻會造成功率損耗,不適合大功率設備。

熱敏電阻
熱敏電阻是一種阻值隨溫度變化而發生較大變化的電阻元件,他們通常作為電流限制器。

熱敏電阻分為兩類:

正溫度系數(PTC)熱敏電阻

負溫度系數(NTC)熱敏電阻

浪涌電流限制器
這些浪涌電流限制器可用于各種配置和保護涂層,以適應幾乎所有應用。一般來說,串珠式熱敏電阻具有高穩定性和可靠性,響應時間快,在高溫下運行。磁盤和芯片類型通常比串珠式的大,因此它們的響應時間相對較慢。然而,它們通常具有更高的耗散常數,因此在測量、控制和補償應用中能夠更好地處理功率。他們通常成本較低,更容易更換的特點。

總結

浪涌抗擾度測試儀能模擬雷擊和開關操作產生瞬態過電壓干擾波,評估各種設備的抗電磁干擾能力是否滿足要求。對于測量不同的受試設備,還需要留意受試設備自身的特點,增加合適的測試對象與流程,才能確保受試設備各個部分的信號完整性。

審核編輯 黃宇

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