什么是test point

Test point指的是在電路或芯片設計中特別添加的電路元件或邏輯，以便在測試時可以輕松地檢測電路的正確性。Test point的添加有助于提高測試覆蓋率和測試效率，從而減少測試成本，加快產品上市時間。

使用test point的目的

使用test point的目的有：

1、減少確定性pattern的數量。在某些情況下，測試覆蓋率也可能會提高，但通常提高幅度很小；

2、提高random pattern resistant faults的測試覆蓋率。插入測試點是為了提高隨機性pattern控制給定故障點、觀察給定故障點或兩者兼有的概率；

3、提高ATPG期間undetected故障的覆蓋率。

Test Point Insertion****介紹

插入的test point分為control point 和observe point兩類，而其中的control point又可以分為OR control point和AND control point。

Control Point

先來看一下插入OR control point整個過程中電路的變化情況。

在做完ATPG的report中看到測試覆蓋率不滿足要求，報告中一個例化名為U1024的四輸入與門的輸出端Y有故障。分析該故障點，發現該點可以單獨控制或觀察，但當將兩種情況結合在一起時便無法檢測到。

于是，我們決定在輸出Y處插入一個OR control point，調出電路圖，發現工具將輸出端Y和一些電路基本單元通過一個或門連接在一起。

做完Scan后，再次調出電路圖，發現左下角的SFF被連接至Scan Chain了。

OR control point的工作原理為：先將Scan_en信號置為1，通過Scan chain向F1024配值為1。當需要控制Y的值時，可以將test_point_en信號置1，這樣就可以將最右側或門的一個輸入端口控制為1，便可以將輸出控制為1。

AND control point的工作原理與OR control point類似，只是電路結構稍有不同，在此不作過多贅述。

Observe Point

再來介紹一下插入observe point整個過程中的電路變化。假設上述U1024四輸入與門的輸入端A0無法觀測。于是，我們在輸入端A0處插入一個observe point后，調出電路圖。

做完Scan后，再次調出電路圖，同樣發現右側的SFF被連接至Scan Chain了。

Observe point的工作原理為：將test_point_en信號置1，便可以將A0處的值通過與門傳遞至F0001的D端，再將Scan_en信號置0，將A0處的值暫存在F0001中。最后將Scan_en信號置1，通過Scan chain將值傳播出去，實現了對輸入端A0觀測的目的。

總結

插入test point 可能對電路帶來的一些不利影響：

1、在設計中插入 test point 可能需要占用更多的空間，因為需要添加額外的電路或信號線路，這可能會導致芯片大小的增加，從而增加成本和復雜性；

2、在設計中插入 test point 可能會影響性能，因為需要添加額外的電路或信號線路，這可能會引入噪聲或延遲，從而影響芯片的性能。