ic芯片檢測(cè)的幾種主要方法
1.替代法：用好的ic芯片替換可能存在問(wèn)題的ic芯片，觀察恢復(fù)正常的時(shí)間，從而確定問(wèn)題出在哪個(gè)ic芯片上。
2.拔擲法：把ic芯片從電路板上拔下來(lái)再重新插上，觀察是否正常工作，以此來(lái)判斷ic芯片是否損壞。
3.代換法：用正常的ic芯片來(lái)替換可能存在問(wèn)題的ic芯片，觀察問(wèn)題是否解決，從而確定問(wèn)題出在哪個(gè)ic芯片上。
4.對(duì)比法：用已知正常的ic芯片和不良的ic芯片進(jìn)行對(duì)比，找出存在問(wèn)題的ic芯片。
5.示波器測(cè)試法：通過(guò)示波器來(lái)測(cè)試ic芯片的波形，從而判斷ic芯片是否正常。
否正常。
6.直流工作點(diǎn)測(cè)試法：通過(guò)對(duì)ic芯片的直流工作點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，判斷ic芯片是否正常。
審核編輯 黃宇
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