電子設備本身有不同類型的噪聲源,包括熱噪聲、散粒噪聲、白噪聲和1/f(閃爍)噪聲。1/f噪聲是電流(ISD)或功率(PSD)譜密度與頻率成反比的低頻電子噪聲。許多類型的電子元件都表現出1/f噪聲,包括半導體器件、某些類型的電阻器、石墨烯等二維材料,甚至化學電池。器件尺寸越來越小,噪聲成為限制器件靈敏度的關鍵因素;除了熱噪聲外,1/f噪聲就成為衡量材料和器件性能的一個關鍵指標;實際工作中我們會通過嘗試不同的工藝或器件結構來降低1/f噪聲。
器件的1/f噪聲是通過測量電流作為時間的函數,然后將數據轉換為頻域來確定的。快速傅里葉變換(FFT)是一種將時域數據轉換為頻域數據的常用方法。
泰克的半導體參數分析儀4200A可以通過SMU或PMU測試電流,主機軟件包含FFT功能,可以將時域波形轉換為頻域波形,讓我們方便進行1/f噪聲測試。
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直播預告
本期云上大講堂,泰克高級應用工程師 趙凱將為大家介紹:
■1/f噪聲的概念和測試方法
■使用4200A進行1/f噪聲測試
?測試系統的底噪
?1/f噪聲測試頻率范圍的設定
?SMU和PMU測試示例
?提升1/f噪聲測試精度的方法
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直播日程安排
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時間
2023年7月27日(周四)1430
1410 |
1/f噪聲測試方案詳解 |
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1520 |
互動答疑 |
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1530 |
搶答有獎 |
講師介紹
趙凱
泰克高級應用工程師
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原文標題:7月27日|泰克云上大講堂—1/f噪聲測試方案詳解
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