我們身處在一個方便的時代，各種消費性電子產品，手機、電腦屏幕、數位點餐機等等。而這些產品的背后，都有看不到的電在驅使著神奇的科技。

而在看不到，摸不著的電力世界中。我們一向需要從碳棒測量、示波器呈現、最終到人眼觀察我們想看見的波形信號。這種感覺就像強制玩傳聲游戲，一個傳一個的情況下拿到最后的信息。如果中間有人傳錯了，我們就會解讀到錯誤的信息，產生錯誤的行為。這本質上就是一種資源的浪費。

那實際上錯誤的狀況，會是如何呢？

Vgs測量：

圖一：Vgs ON spike

圖二：Vgs OFF spike

圖一、二顯示波形于示波器上，但可以看到Vgs都大于30V，等于超過datasheet定義的Vgs電壓上限值。理論上來說會MOS應該要損壞，或者用料上并無MOS可以符合這個條件的使用。但此現象其實很多時候都源自于示波器碳棒的設置誤判問題。碳棒可能會因為測量點、接觸點、準位點、地線長度、靠近磁性元件干擾等各式各樣的設置問題而讓示波器波無法呈現出真實的樣貌。

圖三：差動碳棒配置

圖四：錯誤的測量方式：焊接MOS點為PCB版

為避免這樣的狀況發生，碳棒的接觸上需要注意以短、明確接線、不纏繞或者靠近切換信號源為重點。

圖五&圖六：正確的測量方式：焊接MOS點為外殼點（Housing point）

（圖七、圖八：MOS正常測量下無splike波形）

（圖九：測量點定義）

總結：

1）對于Mosfet，請嘗試在外殼點（Housing point）測量波形（外殼和焊點的區別）。

2）對于Probe，請盡量縮短探棒量測量測線回路面積。它可以避免接收到其他的干擾信號。