CH系列影像測量儀針對接觸式測量無法實現接觸的特征,它可以通過光學放大及光強調節進行測量,如微型特征,深槽內特征及接觸易變形材料或薄件等,具有測量手段多、靈活性強、非接觸等特點。在卡尺、角度尺難以測到的部位,都可以通過光學放大及光強調節進行測量。
影像測量儀可以測高度尺寸嗎?當然可以。
CH系列影像測量儀是非接觸式測高,可以選擇Z軸自動的機型,使用Z軸自動對焦來測高,既方便又能減少人為操作的誤差,保證任何人測量的結果一致。以非接觸式的光學測量為主,接觸式測量為輔,各傳感器的快速切換,可以進行全且準的測量任務。光學測量針對接觸式測量無法實現接觸的特征,可通過光學放大及光強調節進行測量,如微型特征,深槽內特征及接觸易變形材料或薄件等。
CH系列影像測量儀6.5X電動變倍高分辨率鏡頭和大視野鏡頭組合測量,表面光、透射光、同軸光分段編程控制,鑄就強大的毛邊、弱邊抓取功能,清晰呈現工件真實邊緣,實現精準測量。
光學測頭平面度測量測量實例
電路板測量手提電腦鍵盤測量陶瓷元件平面度測量
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