白光干涉儀是什么？
白光干涉儀SuperView W1系列采用增加相位掃描干涉技術，是專為準確測量表面輪廓、粗糙度、臺階高度和其他表面參數而設計的微納米測量系統。
中圖儀器SuperView W1白光干涉儀
產品特點
1、非接觸式測量：避免物件受損。
2、三維表面測量：表面高度測量范圍為1nm-10mm。
3、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。
4、納米級分辨率：垂直分辨率可以達到0.1nm。
6、掃描儀：采用閉環控制系統。
7、工作臺：氣動裝置、抗震、抗壓。
8、測量軟件：基于windows操作系統的用戶界面，強大而快速的運算。
應用領域
1、TFT產業
2、半導體
3、MEMS
4、高校科研
5、精密加工
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白光干涉儀
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