智能交通系統 (ITS)、乘客信息系統 (PIS) 和其他車載應用(如視頻監控和數據記錄)有時會產生不穩定的電壓供應。嵌入式 SSD 可能會受到這些不穩定輸入電壓的負面影響。
那么,輸入電壓究竟如何影響SSD的NAND閃存呢?
在這里,原始誤碼率(RBER)很重要。RBER是糾錯碼(ECC)之前的誤碼率,它反映了NAND閃存的初始可靠性。RBER 越高,NAND 閃存的可靠性越低。
為了說明這一點,下面給出了五個示例,每個示例都有0.3V的電壓波動。
圖1.我們的控制圖顯示了NAND閃存的3.3V至3.6V電源,在0.3V偏移范圍內波動。
Figure 2. When set to the standards NAND flash voltage range of 2.7V to 3.0V, the RBER is 10^(-5.850, which is in the normal range.
圖3.當接收3.6V至3.9V輸入時,REBER增加到10^-5.845。
圖4.當電壓增加到3.9V至4.2V時,RBER增加到10^(-5.832)。
圖5.當將電源電壓設置為 4.2V 至 4.5V 時,RBER 繼續增加至 10^ (-5.823)。
如前所述,一般來說,輸入電壓越高,RBER 越高,對 SSD性能的影響越大。
Renice 的 SSD 解決方案采用針對每個 SSD 的可接受電壓范圍量身定制的專用電路進行設計,可確保在極端或惡劣環境中的性能和可靠性。
審核編輯:郭婷
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