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芯片失效分析
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原文標題:【半導光電】關于芯片失效分析方法的討論
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設計工程師不斷改進或者修復芯片的設計,使之與設計規范更加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評估不同測試向量的有效性,為生產測試提供必要的補充,為驗證測試流程優化提供必要的信息基礎。
發表于 01-07 17:20
常用的芯片失效分析方法
設計工程師不斷改進或者修復芯片的設計,使之與設計規范更加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評估不同測試向量的有效性,為生產測試提供必要的補充,為驗證測試流程優化提供必要的信息基礎。
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