硅光子學設備的測量需要光學以及高速數字功能。我們集成的SiPh解決方案允許對位于晶片上方的光纖進行亞微米處理，從而自動優化光纖耦合位置。
硅光子學（SiPh）技術正在發現數據中心應用的早期應用，其中可能會出現汽車LIDAR等新興應用。在硅光子器件上成功測量的關鍵是探針，定位以及測試和測量技術的集成。
硅光子器件的測量需要光學和高速數字功能。我們的集成SiPh解決方案允許對位于晶片上方的光纖進行亞微米操作，自動優化光纖耦合位置。Contact Intelligence技術使用機器視覺技術自動化Theta X，Y和Z軸校準和校準，從而實現開箱即用的測量，將過去幾天，幾周或幾個月的時間縮短到幾分鐘。當與自主DC和RF結合使用時，測量選項從光學光學擴展到包括PhotoDiodes，光學調制器等。
我們的SiPhTools應用程序填補了它們之間的空白Velox和第三方應用程序，如Keysight Photonics Application Suite，也可在Probe Station PC上運行。數據通過單個接口通過中央消息服務器中心流向最終用戶的測試執行程序（例如，Keysight測試自動化平臺）。
我們的硅光子解決方案采用先進的光學對準算法與高速，高精度壓電控制相結合，可自動實現最佳的光纖耦合位置。通過Contact Intelligence實現，這一新解決方案可以快速縮短測試時間并縮短產品上市時間。新系統既可在動態工程環境中靈活運行，又可提供生產測試所需的穩定性和可重復性。
審核編輯 黃昊宇
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