IR(Insulation Resistance,絕緣電阻)是電容器中的電介質(zhì)材料電阻漏電流的程度。它是電介質(zhì)材料本身的電阻*1。IR可通過漏電流來測量。知道漏電流和外加電壓,即可根據(jù)歐姆定律計算絕緣電阻。測量漏電流有兩種基本方式。首先,用一個與電容器和電壓源串聯(lián)的電流表(圖1)。
圖1: 與電容器串聯(lián)的電表
其次,用一個與電阻器并聯(lián)的伏特計,然后串聯(lián)連接到電容器和電壓源(圖2)。
圖2: 帶電阻的并聯(lián)伏特計,并且串聯(lián)到電容器
第一個方法通常適用于小于1uF的電容器。低電容量電容器具有低漏電流,因此,低電流電表可以準確測量電流。如果漏電流高,由于充電電容器的噪音和不穩(wěn)定性,電表將不能準確測量。因此,對于高容値電容器應使用第二種方法。
原文標題:如何測量電容器的絕緣電阻?
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