電磁兼容性（EMC）是電子設備存在于電磁環境中而不會對該環境中的其他電子設備造成干擾或干擾的能力。

EMC通常分為兩類：

1.輻射- 電子設備發出的電磁干擾可能會對同一環境中的其他電子設備造成干擾/故障。也稱為電磁干擾（EMI）。

2.免疫/易感性- 免疫是指電子設備在電磁環境中正常運行而不會因其他電子設備發出的輻射而發生干擾/故障的能力，易感性基本上與免疫力相反，因為設備對電磁干擾的免疫力越小，它就越容易受到影響，通常抗擾度測試是不是必需的用于在澳大利亞，新西蘭，北美和加拿大銷售/分銷消費/商用型產品。

電磁兼容性排放

EMC排放進一步細分為兩類：

1.輻射排放

2.進行排放

電磁場由以下部分組成：

1.電場（電場） - 通常以伏/米（V / M）為單位測量

2.磁場（H場） - 通常以每米安培（A / m）為單位測量

電磁場的這兩個分量本身是兩個獨立的場，但不是完全獨立的現象。電場和H場彼此成直角移動。

輻射發射（E-Field）：

輻射發射是源自電子或電氣設備內部產生的頻率的電磁干擾（EMI）或干擾。輻射發射可能會帶來嚴苛的合規性問題，對于一些一般性指導，請查看我們的文章 EMC輻射發射常見問題和解決方案。輻射發射直接從設備的機箱或通過互連電纜（如信號端口，有線端口，如電信端口或電源導線）通過空氣傳播。

一個很好的例子是HDMI端口和可以從這些電纜輻射的相關EMI，我們用它作為案例研究，文章可以在這里找到; 符合EMC輻射發射測試（EMI）。在EMC測試期間，使用頻譜分析儀和/或EMI接收器以及合適的測量天線進行輻射發射測量。

EMC輻射發射測試方法

輻射發射（H場）：電磁波的磁性成分使用頻譜分析儀和/或EMI接收器以及合適的測量天線。典型的磁場天線包括環形天線，并且還包括根據CISPR 15的特定天線，例如Van Veen Loop。Van Veen環形天線基本上是三個環形天線，它們一起構成三個軸（X，Y和Z）的產品磁場發射。

傳導發射（連續和不連續）：

傳導發射是電磁干擾（EMI）或源自電子或電氣設備內部產生的頻率的干擾。然后，這些發射沿著互連的電纜傳播，例如有線端口，例如電信端口或電力導線。這些發射可以是連續的（在給定頻率下連續發射），也可以是不連續的（非常數，偶爾發生）。

在EMC測試期間，通過位于測試室內的ISN（阻抗穩定網絡）在EMI接收器上進行傳導發射測量。

電磁兼容性抗擾度
EMC抗擾度測試可以被認為是連續的或瞬態的。對產品應用連續測試以模擬現實世界中可能發生的RF接近度。瞬態現象通常是涉及能量爆發的短事件。

EMC抗擾度測試要求通常根據電磁干擾如何耦合到設備上而分開：

1.免疫，機箱端口

2.免疫，信號端口和電信端口

3.抗擾度，輸入直流電源端口

4.抗擾度，輸入交流電源端口

測試級別，干擾信號類型等取決于被測設備的類型和所應用的標準。

持續免疫測試

輻射抗擾度：RF信號發生器，放大器和天線用于產生不同頻率的電磁場。被測設備（EUT）的外殼端口和相關電纜通過輻射天線暴露在電磁場中。輻射測試信號處于特定幅度并且調制應用特定時間段。大多數需要抗擾度測試的標準都要求進行此測試。

傳導抗擾度：

在傳導抗擾度測試期間，RF信號發生器和放大器產生電磁場。該電磁場通過注入裝置（通常是CDN，或“耦合/去耦網絡”用作注入裝置）耦合到產品信號，數據或電源端口。這種傳導抗擾度測試本質上是連續的，在許多標準中稱為“射頻連續傳導”。通常，傳導抗擾度測試適用于長度超過3米的交流和直流端口和信號電纜。

工頻磁場抗擾度：
由電磁線圈產生的波動磁場在主電源頻率（50 / 60Hz）下振蕩。EUT放置在這個波動的磁場內并暴露足夠的時間以評估產品的性能。磁場抗擾度測試通常僅適用于磁敏感設備。

瞬態免疫測試：

瞬態現象是短暫的能量爆發，被測產品將在很短的時間內暴露出來。與連續抗擾性一樣，瞬態抗擾度適用于產品機箱端口，信號/數據端口和電源端口（如果適用）。

靜電放電（ESD）：

ESD脈沖直接施加到器件的外殼上，間接施加到垂直/水平耦合平面，靠近被測產品，測試水平與所應用的標準相關。有關靜電放電效果和可能的ESD兼容性解決方案的更多信息，請查看文章：靜電放電常見EMC解決方案。

電快速瞬變（EFT）/突發：

快速瞬變是一系列短脈沖，其幅度和重復頻率都很高，上升時間很短。快速瞬態現象通常由高速開關事件引起，例如感應負載中斷和繼電器觸點反彈等。通常，快速瞬態測試適用于長度超過3米的交流和直流端口和信號電纜。

浪涌：

浪涌是由高功率開關事件，磁/電感耦合甚至閃電產生的一種瞬態現象。在主電源的幾個相角處應用EUT的電源端口上的浪涌測試。通常，浪涌測試適用于交流端口，有時也適用于直流端口，某些EMC產品標準中的信號電纜長度超過30米，或者電纜可能在建筑物外部運行。有關浪涌的更多信息，請參閱我們的文章 Surges EMC測試典型問題和解決方案。

電壓驟降，短暫中斷（VDI）和電壓變化：

電壓驟降和短暫中斷測試的目的是模擬電力網絡中的故障。這些故障可能是由斷電（停電/掉電事件）或負載突然大的變化引起的。電壓變化通常由連接到電力網絡的連續變化的負載引起。電壓驟降或中斷是二維現象，其特征在于殘余電壓（指定下降之后的電源電壓）和持續時間（標稱電壓下降到產品的下降多長時間）。該測試僅適用于產品的AC輸入端口。

脈沖磁場：

與工頻磁場抗擾度測試一樣，被測產品放置在磁環內。與工頻磁場測試不同，EUT不是將EUT暴露在連續波動的磁場中（以50 / 60Hz振蕩），而是暴露于由瞬態發生器提供的磁場脈沖。磁脈沖振幅高但上升時間短，然后評估產品的性能以確保正常操作。