汽車中蓬勃發(fā)展的電子內(nèi)容已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了許多創(chuàng)新，以幫助提高汽車的安全性和舒適性，同時優(yōu)化汽車的總體成本。這使得芯片的設(shè)計具有高集成度和增加的嵌入式存儲器內(nèi)容，允許在單個器件中實(shí)現(xiàn)多種功能。然而，汽車電子的快速增長在制造，維護(hù)方面帶來了多重挑戰(zhàn)。 ，以及對此類系統(tǒng)的支持。由于惡劣的環(huán)境和物理空間限制，汽車電子元件應(yīng)設(shè)計為具有極高的可靠性，并且易于支持和維護(hù)。另一個挑戰(zhàn)是通過顯著提高制造產(chǎn)量來實(shí)現(xiàn)這些大批量產(chǎn)品的較低規(guī)模經(jīng)濟(jì)，而制造產(chǎn)量主要由芯片內(nèi)的嵌入式存儲器控制。

據(jù)SAE（汽車工程師協(xié)會）報道，汽車中的電子內(nèi)容正在增長，到2010年接近40％的汽車成本將在電子產(chǎn)品中。典型的汽車電子設(shè)備包括多個電子控制單元（ECU），以解決從發(fā)動機(jī)管理，排放和安全控制到駕駛員信息系統(tǒng)（例如儀表板儀表和導(dǎo)航控制）的各種功能。電子設(shè)備的安全性和可靠性至關(guān)重要，因?yàn)樗鼈冊趷毫拥沫h(huán)境條件下運(yùn)行 - 40至300℃。這種性能需要強(qiáng)大的設(shè)計和制造流程，以確保在極端條件下運(yùn)行。

汽車行業(yè)在電子子系統(tǒng)的設(shè)計，制造和服務(wù)方面面臨著多重挑戰(zhàn)。設(shè)計和制造工程團(tuán)隊在保持最高質(zhì)量的產(chǎn)品的同時，面臨著最小化設(shè)計和制造測試成本的相互矛盾的要求。對幾個電子模塊的有限訪問給維修技術(shù)人員帶來了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)并增加了維護(hù)成本。

BIST 在過去十年中，芯片設(shè)計人員已開始采用結(jié)構(gòu)化測試方法來解決其中的一些挑戰(zhàn)。內(nèi)置自測試（BIST）是許多大型設(shè)計中部署的關(guān)鍵測試方法之一，用于測試芯片內(nèi)的邏輯和嵌入式存儲器。它涉及在設(shè)計中嵌入BIST邏輯，以自動生成測試并驗(yàn)證設(shè)計是否存在制造缺陷，從而避免完全外部測試生成。

在汽車電子生命周期的每個階段進(jìn)行經(jīng)濟(jì)性測試至關(guān)重要BIST，在制造過程中可以大大降低測試成本。 BIST在最小化維護(hù)開銷方面也有助于該領(lǐng)域。例如，ECU可以被編程為定期運(yùn)行自檢（由嵌入式BIST供電），可以在控制面板上進(jìn)行監(jiān)控。這避免了訪問每個ECU的需要，其中一些ECU可能位于難以到達(dá)的汽車區(qū)域。

隨著汽車電子技術(shù)的復(fù)雜化，增加了越來越多的智能，為儀表板帶來了更多信息。這意味著增加電子產(chǎn)品中的嵌入式存儲器內(nèi)容由于嵌入式存儲器會極大地影響芯片的整體良率，因此必須采用強(qiáng)大的測試和修復(fù)方法，以便以最佳的產(chǎn)量生產(chǎn)出高質(zhì)量的芯片。

備件

備件b》在存儲器中獲得產(chǎn)量提高的一種方法是在制造維修期間使用冗余或備用元件。從歷史上看，嵌入式存儲器已經(jīng)可以自我測試但不可修復(fù)。對于給定的存儲器，可以使用足夠的量和適當(dāng)類型的冗余元件來修復(fù)嵌入式存儲器。但是，確定適合給定內(nèi)存的內(nèi)容需要內(nèi)存設(shè)計知識和所考慮的過程節(jié)點(diǎn)的故障歷史信息。

僅此一項(xiàng)是一項(xiàng)挑戰(zhàn)，但提供正確的冗余元素并不完全解決這個問題。了解如何檢測和定位內(nèi)存缺陷并分配冗余元素需要制造缺陷分布知識。借助嵌入式邏輯，我們可以通過冗余測試和修復(fù)存儲器，從而提高制造良率。