模擬電路的穩定率問題是無處不在的，但在關鍵部位恰當地適用高質量的電阻器、電阻網絡或微調電位計，可以大大提高電路的性能、應用的長期性能，也能讓工程師放心地進行設計。
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????? 此外，如果一個經驗豐富的設計工程師把錢集中花在少數負載偏差小、環境穩定率好的器件上，通常就不必再設計額外的補償電路或溫度控制系統，往往可以收到減少整體系統成本的功效。更高的可靠性和更好的整體系統性能也是優秀產品的要素，有助于提高產品銷量和聲譽。
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????? Vishay Intertechnology公司新的高精密度Bulk Metal表貼Power Metal
????? Strip電阻器在額定功率、+70℃條件下工作2000小時，負載壽命穩定率可以達到±0.05%，-55℃～+125℃溫度范圍內、+25℃參考溫度，絕對TCR為±15PPM/℃，阻值精度為±0.1%。器件提供了1W的功率等級，在4端連接電路中的最大電流為18A。10mΩ～100mΩ阻值范圍內的產品均已供貨，無任何附加成本或額外交貨時間。
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????? CSM2512S的負載壽命穩定率比通常的檢流電阻高一個數量級(0.05%比0.5%，經過1000小時使用)。在強制性平衡電子秤、開關線性電源、功率放大器、測試儀器、橋式網絡、醫療和測試設備等應用中，參考電壓和精密檢流應用對電阻穩定率有著嚴格的要求，CSM2512S在電阻穩定率上的提高使其成為這些應用的的理想之選。此外，CSM2512S滿足EEE-INST-002(MIL-PRF
????? 55342和MIL-PRF 49465)規范對軍用和航天應用的要求。
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????? CSM2512S具有較低的溫差電動勢(EMF)，這在很多精密應用中是非常關鍵的參數。CSM2512S的全焊接結構是由Bulk
????? Metal電阻元件和鍍銅末端構成的。平整的焊接末端沿著整個電阻元件的側面，與電阻單元緊密地接觸，從而減小了溫度變化。另外，電阻元件實現了整體散熱，不會產生熱點，焊接材料與電阻元件的材料是兼容的。
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????? 這些設計要素使CSM2512S實現了很低的熱EMF(3μV/℃)，因為除了與金屬的低熱EMF保持兼容，整體的一致性和熱效率使電阻器各部分的溫差減至最小，從而確保在引腳上產生數值相等、變化方向相反的熱EMF。這個特性減少了大多數檢流或電壓參考電阻的“電池效應”，這樣在兩種不同金屬的接合處產生的寄生電壓可以減至最小，而寄生電壓對低壓檢流電阻是特別重要的參數，在直流應用中的電流電壓轉換就可以免受寄生電壓的干擾。
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????? 由于應用會導致器件發生很大的變化，僅僅是為解決在應用中碰到的電阻穩定率偏移，設計工程師就常常花冤枉錢去購買精度小于實際需要的器件。在這些應用中選用CSM2512S，就不必再為“預想的不穩定率”進行偏移補償，對CSM2512S的精度要求比其他檢流技術要寬松得多。
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????? 例如，在70℃、滿載條件下，經過2000小時，CSM2512S的變化比其他典型檢流技術小一個數量級(0.05%比1.0%)。事實上，只有Vishay的金屬箔電阻能提供完整的頂級性能參數。
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????? 例如，一項典型應用是用在雷達顯示器上的偏轉放大器，當流經檢流電阻上的電流快速增加時，波束會掃過顯示屏。產生的電壓推動著掃描波束從顯示屏的中央移動到外側邊緣，并隨波束沿著顯示屏旋轉，反復重復這一過程。掃描波束會在一個很短的時間內躍出屏幕，這個時間被用來向屏幕輸出雷達信號的識別信號，這些信號在屏幕上接續排列。在這個反復循環的過程中，流過檢流電阻的高電流會使電阻發熱和偏移，會導致掃描變形，識別雷達顯示信號的字符會由于這種不穩定而發生抖動。CSM2512S就沒有很多其他偏轉放大器電路中存在的此類問題。
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????? 過去，設計師只能購買初始精度非常高的薄膜或厚膜金屬電阻，才能保證器件在達到使用壽命以后，精度仍然保持在合理的范圍內。現在，設計師不必再如此苛刻地挑選器件，他們現在只要購買采用特別加工技術制造、具有更高負載壽命穩定率的CSM2512S電阻，就可以提高系統性能、可靠性和質量。這種改進是完全值得的。
利用表貼電阻提高負載壽命穩定率
2010年11月24日 12:03 本站整理 作者：佚名 用戶評論（0）
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