本文介紹了一種在測(cè)試開發(fā)過程中描述實(shí)際物理儀器和虛擬資源之間對(duì)應(yīng)關(guān)系的方法，通過這種映射方法，可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)的面向信號(hào)特性和儀器互換特性。這種方法主要用于自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)中的系統(tǒng)集成與資源描述過程中。
在以往的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)過程中，測(cè)試流程開發(fā)人員不僅需要了解被測(cè)單元的信號(hào)特性，還要對(duì)測(cè)試所用的儀器參數(shù)配置過程有所了解才能完成一個(gè)測(cè)試流程的開發(fā)過程，而且所有的流程配置參數(shù)都是針對(duì)具體的儀器所設(shè)置的，這樣就帶來了如下的一些問題：1）對(duì)流程開發(fā)人員有較高的技術(shù)要求。流程開發(fā)人員一般更加關(guān)心和擅長的是對(duì)UUT（Unit Under Test，被測(cè)對(duì)象）的信號(hào)分析和對(duì)測(cè)試流程的邏輯結(jié)構(gòu)分析，可在以往的流程配置過程中，在配置每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的同時(shí)需要對(duì)該測(cè)試點(diǎn)使用的具體儀器進(jìn)行參數(shù)配置，這就要求流程開發(fā)人員同時(shí)還要熟悉具體儀器的使用方法，對(duì)于簡單常用的儀器還容易處理，如果遇到功能復(fù)雜或者專用的儀器設(shè)備可能需要翻閱大量的使用手冊(cè)才能了解其使用過程。這樣大大分散了流程開發(fā)人員的精力，從而延長了測(cè)試開發(fā)的周期，降低了測(cè)試開發(fā)的效率。
2）當(dāng)儀器發(fā)生變化時(shí)需要作大量的修改工作。由于流程開發(fā)過程中的所有配置都是針對(duì)具體儀器完成的，當(dāng)測(cè)試儀器發(fā)生變化時(shí)，通常的情況是新儀器與原有儀器的參數(shù)配置過程完全不同，這樣就需要重新編寫新儀器的驅(qū)動(dòng)和新的儀器配置界面，并重新配置測(cè)試流程，同樣大大降低了測(cè)試開發(fā)的效率。本文介紹的這種虛實(shí)映射方法主要應(yīng)用在測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)前期過程中的系統(tǒng)集成中。