數(shù)字設(shè)計(jì)的測(cè)試通常需要一個(gè)或多個(gè)數(shù)字信號(hào)，而某些信號(hào)非常難以生成。模式發(fā)生器是專(zhuān)為解決這個(gè)問(wèn)題而設(shè)計(jì)的。測(cè)試某種設(shè)備需要在該設(shè)備中采用任何一種數(shù)字激勵(lì)信號(hào)，模式發(fā)生器大都可以提供這些信號(hào)。另外，工程師可以使用模式發(fā)生器來(lái)將數(shù)字模式集成在整個(gè)測(cè)試序列的任何位置。另外，模式發(fā)生器還非常適合于半導(dǎo)體電子測(cè)試等應(yīng)用，這些應(yīng)用需要模式激勵(lì)數(shù)據(jù)進(jìn)行故障測(cè)試，并且數(shù)字系統(tǒng)通過(guò)用戶(hù)定義的控制算法運(yùn)行。在軟件方面，模式發(fā)生器可以用作調(diào)試工具，軟件工程師可以用它來(lái)開(kāi)發(fā)針對(duì)待測(cè)設(shè)備（DUT）的應(yīng)用。

　　數(shù)字激勵(lì)信號(hào)可能在數(shù)字控制系統(tǒng)等其它應(yīng)用中丟失。對(duì)于這種應(yīng)用，可能需要多個(gè)變寬的數(shù)字激勵(lì)信號(hào)，并要求具有足夠內(nèi)存以產(chǎn)生必要位的流模式。在這種情況下適合采用模式發(fā)生器，這是因?yàn)樗梢员慌渲脼橐粋€(gè)字節(jié)、字和長(zhǎng)字的寬度，從而實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)達(dá) 32 位或 6？位的通道，具體位數(shù)取決于儀器。另外，如果需要更多通道或扇出，可以使系統(tǒng)連接更多的發(fā)生器。相比之下，具有一位或雙位輸出通道的函數(shù)任意波發(fā)生器無(wú)法提供所需的扇出功能（除非以測(cè)試系統(tǒng)成本為代價(jià)）。圖 1 顯示了由模式發(fā)生器激勵(lì)的待測(cè)設(shè)備的概念框圖。