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中圖儀器

深圳市中圖儀器股份有限公司是一家高新技術(shù)企業(yè),致力于全尺寸鏈精密測量儀器及設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

2.8k 內(nèi)容數(shù) 99w+ 瀏覽量 64 粉絲

一體型粗糙度輪廓測量儀

型號: SJ5800
品牌: 中圖儀器(中圖儀器)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 注釋 如有疑問或需要更多詳細(xì)信息,請隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢。

--- 產(chǎn)品詳情 ---

中圖儀器SJ5800一體型粗糙度輪廓測量儀可實(shí)現(xiàn)對軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。它采用超高精度納米衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),可以對零件表面,尤其是大范圍曲面,如圓弧面和球面、異型曲面等進(jìn)行檢測,是大曲面測量(軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子)領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測量的利器。

1.jpg

專業(yè)軸承測量、高穩(wěn)定、高精密

1.SJ5800一體型粗糙度輪廓測量儀具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍,專業(yè)測試軸承內(nèi)外側(cè)。可選專業(yè)軸承夾具和滾子分析,方便測試。

2.分辨率最高達(dá)到0.1nm,系統(tǒng)殘差小于3nm。

3.超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、特殊紅寶石轉(zhuǎn)軸系統(tǒng)提供轉(zhuǎn)動(dòng)的超高靈敏度及測量精度。

4.高穩(wěn)定的驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì),確保了驅(qū)動(dòng)運(yùn)行過程中不產(chǎn)生任何的振動(dòng)及干擾,保障了系統(tǒng)掃描運(yùn)動(dòng)精度。

5.精度標(biāo)定臺能對儀器的參數(shù)和測針針尖磨損進(jìn)行修正補(bǔ)償,使其滿足高精度輪廓測量。

操作靈活、智能、簡單

1.輪廓和粗糙度一體測量,無需切換模塊。

2.測針一鍵拔插,特殊設(shè)計(jì)的高剛性拔插結(jié)構(gòu),無需鎖螺釘,方便快捷、穩(wěn)定可靠。

3.各個(gè)運(yùn)動(dòng)軸都有進(jìn)行硬件及軟件保護(hù),降低人員因操作失誤帶來的測針及儀器損傷。

4.帶舵機(jī)結(jié)構(gòu),可防止掃描陡坡時(shí)的快速下墜。

5.智能恒測力系統(tǒng),0.5-3mN 測力檔位可調(diào),降低了測力變化引起的測量誤差,適合測量各類軟、硬性工件。

6.組合調(diào)節(jié)控制手柄可快速完成載物臺平移,X軸和Z軸定位,測桿上下擺動(dòng)及速度分級調(diào)節(jié)功能。

7.根據(jù)GB/T、ISO、JIS等標(biāo)準(zhǔn),自動(dòng)評價(jià)粗糙度。

8.軟件操作界面簡潔直觀,任何人都能輕松設(shè)定和測量。

自動(dòng)、批量、快速測量

1.對于簡單的工件只需要設(shè)置測量長度即可一鍵測量;

對于復(fù)雜的工件,對工件任意位置進(jìn)行分段測量,并做成模板便于輪廓批量測量。

2、CNC固定坐標(biāo)系模式下,可快速精確地進(jìn)行輪廓批量測量。

3.自動(dòng)保存測量結(jié)果,測量完成后可輸出測量報(bào)告,形式多樣。

2.jpg

SJ5800一體型粗糙度輪廓測量儀通過超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能伺服驅(qū)動(dòng)電機(jī)保證測量的超高穩(wěn)定性及直線度,采用超高精度納米衍射光學(xué)轉(zhuǎn)軸測量系統(tǒng)及高精度直線光柵X軸建立工件表面輪廓的二維坐標(biāo),計(jì)算機(jī)采用高精度標(biāo)定系統(tǒng)對采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行修正標(biāo)定,最終還原出工件輪廓信息并以曲線圖顯示出來,通過軟件提供的分析工具可對輪廓及微觀輪廓進(jìn)行各種粗糙度參數(shù)、輪廓參數(shù)分析。

軸承輪廓測量.jpg

軟件測量功能

1.創(chuàng)建坐標(biāo):點(diǎn)線、兩點(diǎn) X、兩線等工件坐標(biāo)系。

2.量測工具:矩形框選提取最高點(diǎn)、矩形框選提取矩形框選提取中心點(diǎn)、自動(dòng)矩形取多點(diǎn)提取線、自動(dòng)點(diǎn)捕捉取多點(diǎn)提取線、自動(dòng)矩形提取螺紋中徑線、扇形框選提取弧/圓等。

3.構(gòu)建特征:交點(diǎn)、中心點(diǎn)、角平分線、切線、兩線內(nèi)切圓、二次取樣、垂線、平行線、特征偏移、兩圓弧內(nèi)切圓、直線旋轉(zhuǎn)等。

4.可測幾何量:點(diǎn)、線、圓(圓心坐標(biāo)、半徑、直徑)、圓弧、中心、角度、垂線、線到線的距離、線到圓的距離、X/Z坐標(biāo)夾角、坐標(biāo)差、兩點(diǎn)之間總過程距離、面積等。

5.形位公差:直線度、圓度、平行度、垂直度、同軸度、位置度、輪廓度等形位公差評定。

6.快速工具:坐標(biāo)標(biāo)注、兩線交點(diǎn)、兩線夾角、螺牙框選取交點(diǎn)標(biāo)注、臺階高、滾珠絲桿、框選Pt、溝槽寬度、偏移點(diǎn)與輪廓相交直線、偏移直線與輪廓相交點(diǎn)、基邊/基點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)等特殊工具快速測量。

7.具備自動(dòng)找拐點(diǎn)功能,能按照程序設(shè)置進(jìn)行X軸自動(dòng)找拐點(diǎn)。

8.表面粗糙度評定: R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數(shù)。

9.支持公差設(shè)置、合格判定。

10.支持點(diǎn)cnc .xml .dxf 共3種格式的輪廓對比,如標(biāo)準(zhǔn)輪廓中有標(biāo)注,可自動(dòng)計(jì)算出對應(yīng)標(biāo)注結(jié)果。

11.支持輪廓掃描數(shù)據(jù)的修改,包括刪除異常點(diǎn)來進(jìn)行分析。

12.支持多條記錄按照統(tǒng)一基準(zhǔn)進(jìn)行拼接分析功能。

13.支持輪廓特征、標(biāo)注特征、形位公差的顏色自定義管理。

 

典型應(yīng)用

典型應(yīng)用有.jpg

 

部分技術(shù)參數(shù)

型號

SJ5800-100

 

輪廓參數(shù)

 

測量范圍

X軸0~100mm
立柱軸0~300mm
Z軸

±6mm(標(biāo)準(zhǔn)測桿)

(±12mm:兩倍標(biāo)準(zhǔn)測桿)

 

 

 

 

 

粗糙度參數(shù)

 

 

 

 

 

 

粗糙度測量參數(shù)

R粗糙度:

Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ;

Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr;

核心粗糙度Rcore: 

Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;

P輪廓參數(shù):

Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;

W波紋度輪廓參數(shù):

Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;

Motif參數(shù):R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;

符合標(biāo)準(zhǔn):

GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002,

DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982,

ISO 1302:2002;

儀器尺寸(長×寬×高)600×350×850mm
儀器總重量約95Kg

懇請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

 

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    激光干涉儀檢測機(jī)床的方法(以線性檢測為例)1.進(jìn)行線性測量的一般步驟(1)安裝設(shè)置激光干涉儀(2)將激光束與被測量的軸校準(zhǔn)(3)啟動(dòng)測量軟件,并輸入相關(guān)參數(shù)(如材料膨脹系數(shù))。(4)在機(jī)床上輸入測量程序,啟動(dòng)干涉儀測量,并記錄數(shù)據(jù)。(5)用測量軟件分析測量數(shù)據(jù),生產(chǎn)補(bǔ)償文件。線性測量應(yīng)用2.光束快速準(zhǔn)直步驟(1)沿著運(yùn)動(dòng)軸將反射鏡與干涉鏡分開。(2)移動(dòng)機(jī)床工作臺,當(dāng)光束離開光靶外圓時(shí)停止移動(dòng),垂
  • 白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀):揭秘測量坑的形貌的利器!2023-10-26 10:47

    SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來提高測量的精度和效率,揭秘并測量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持。
  • 納米級測量儀器:窺探微觀世界的利器2023-10-11 13:49

    納米級測量儀器在納米科技研究領(lǐng)域中扮演著重要的角色。通過共聚焦顯微鏡、光學(xué)輪廓儀等的運(yùn)用,科研人員們能夠更加深入地了解納米世界的奧秘。
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  • 微納共聚焦顯微鏡:檢測摩擦學(xué)研究的重難點(diǎn)2023-09-22 09:13

    針對磨損區(qū)域較大、坡度也較為陡峭的生物摩擦和流體摩擦領(lǐng)域,采用中圖VT6000系列共聚焦顯微鏡更加匹配,其遠(yuǎn)勝于光學(xué)3D表面輪廓儀的大角度測量能力和超景深觀察功能,能夠輕松勝任磨損較為嚴(yán)重的表面形貌檢測,從而幫助研究人員更加精準(zhǔn)的掌握磨損量評價(jià)數(shù)據(jù)。
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  • 先進(jìn)封裝廠關(guān)于Bump尺寸的管控2023-09-06 14:26

    BumpMetrologysystem—BOKI_1000在半導(dǎo)體行業(yè)中,Bump、RDL、TSV、Wafer合稱先進(jìn)封裝的四要素,其中Bump起著界面互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用。Bump是一種金屬凸點(diǎn),從倒裝焊FlipChip出現(xiàn)就開始普遍應(yīng)用,Bump的形狀有多種,常見的為球狀和柱狀,也有塊狀等其他形狀,下圖所示為各種類型的Bump。Bump起著界面之間的電氣互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用,從Bondwire
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