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中圖儀器

深圳市中圖儀器股份有限公司是一家高新技術(shù)企業(yè),致力于全尺寸鏈精密測(cè)量儀器及設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

2.8k 內(nèi)容數(shù) 99w+ 瀏覽量 64 粉絲

國產(chǎn)粗糙度輪廓儀品牌

型號(hào): SJ5730系列
品牌: 中圖儀器(中圖儀器)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 注釋 更多詳細(xì)產(chǎn)品信息,請(qǐng)聯(lián)系我們獲取

--- 產(chǎn)品詳情 ---

中圖儀器SJ5730國產(chǎn)粗糙度輪廓儀品牌是一款集成表面粗糙度和輪廓測(cè)量的高精度測(cè)量儀器,具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測(cè)量范圍,分辨率達(dá)到0.1nm,是大曲面測(cè)量(軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、光學(xué)鏡片)領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測(cè)量的利器。

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SJ5730國產(chǎn)粗糙度輪廓儀品牌采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高穩(wěn)定性氣浮隔振系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)對(duì)球面及非球面光學(xué)元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測(cè)量和分析。同時(shí)具備球面、弧面、非球面輪廓參數(shù)評(píng)價(jià)功能,能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業(yè)的測(cè)量需求。

 

產(chǎn)品功能

1.一次測(cè)量可同時(shí)評(píng)定粗糙度及輪廓參數(shù),分析評(píng)定R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)等微觀粗糙度參數(shù)及倒角、R角、直線度、位置尺寸、角度的宏觀輪廓參數(shù);

2.表面粗糙度評(píng)定: R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數(shù)評(píng)定;

3.圓球類零件輪廓及粗糙度參數(shù)測(cè)量評(píng)定;

4.表面輪廓評(píng)定:評(píng)定任何點(diǎn)/線間距、兩線夾角、圓弧半徑、直徑等幾何量尺寸參量,并可對(duì)輪廓進(jìn)行直線度、圓度、輪廓度、平行度、位置度、垂直度等分析,重新分析和測(cè)量的操作簡潔高效;

5.尺寸標(biāo)注:半徑、兩圓中心距離、X/Z尺寸、斜邊、兩線夾角、直線相交、直線與圓弧相交、圓弧與圓弧相交、尺寸標(biāo)注線大小修改、線偏移、局部輪廓放大和調(diào)平等;

6.測(cè)量記錄采用集中式數(shù)據(jù)庫管理,可按被測(cè)件類型、生產(chǎn)單位、出廠編號(hào)、檢測(cè)員、送檢單位、設(shè)備編號(hào)、檢定日期和有效日期等查詢和管理測(cè)量記錄;

7.輸出多種格式報(bào)表(.doc,.docx,.xlsx,.pdf),并支持自定義報(bào)表,定制測(cè)量記錄報(bào)表,可批量打印記錄表,具有數(shù)據(jù)備份和還原數(shù)據(jù)庫功能;

8.具備自動(dòng)找拐點(diǎn)功能,能按照程序設(shè)置進(jìn)行X軸自動(dòng)找拐點(diǎn);

9.成熟簡單的標(biāo)定,儀器自帶高精度組合標(biāo)定臺(tái),可對(duì)儀器的精度和測(cè)針磨損進(jìn)行精確補(bǔ)償;

10.可進(jìn)行DXF(CAD)格式圖紙導(dǎo)入,進(jìn)行理論圖紙與測(cè)量結(jié)果比對(duì)分析,可提供直觀圖形對(duì)比;

11.可導(dǎo)出坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)(.TXT)等格式,可讀取到Excel或者CAD軟件內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析及標(biāo)準(zhǔn)輪廓比對(duì);

12.可對(duì)多次測(cè)量的輪廓曲線匹配后進(jìn)行分析測(cè)量重復(fù)性。

 

用于圓錐滾子軸承表面微觀輪廓Pt及粗糙度測(cè)量

 

應(yīng)用行業(yè)

SJ5730國產(chǎn)粗糙度輪廓儀品牌廣泛應(yīng)用于精密機(jī)械加工、汽車、軸承、機(jī)床、模具、精密五金等行業(yè)。

 

應(yīng)用領(lǐng)域

對(duì)零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測(cè)量,尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度檢測(cè),如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)、微觀輪廓度參數(shù)的測(cè)量。同時(shí)儀器還可對(duì)各種精密零件輪廓度、波紋度進(jìn)行測(cè)量,對(duì)形狀參數(shù)進(jìn)行分析。

典型應(yīng)用有.jpg

 

技術(shù)參數(shù)

型號(hào)

SJ5730-100

 

輪廓參數(shù)

 

測(cè)量范圍

X軸0~100mm
立柱軸0~300mm
Z軸

±6mm(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)桿)

(±12mm:兩倍標(biāo)準(zhǔn)測(cè)桿)

 

 

 

 

 

粗糙度參數(shù)

 

 

 

 

 

 

粗糙度測(cè)量參數(shù)

R粗糙度:

Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ;

Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr;

核心粗糙度Rcore: 

Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;

P輪廓參數(shù):

Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;

W波紋度輪廓參數(shù):

Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;

Motif參數(shù):R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;

符合標(biāo)準(zhǔn):

GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002,

DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982,

ISO 1302:2002;

儀器尺寸(長×寬×高)600×350×850mm
儀器總重量約95Kg

環(huán)境條件

溫度:20±5℃;

相對(duì)濕度:10%~80%;

電源/功率:220V,50Hz,≤1.5KW(含電腦及顯示器);

振動(dòng):按照三坐標(biāo)振動(dòng)要求標(biāo)準(zhǔn),振動(dòng)速度均方根≤5um/s,振動(dòng)頻率8~100Hz;

校準(zhǔn)室內(nèi)應(yīng)無影響測(cè)量的灰塵、震動(dòng)、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強(qiáng)磁場(chǎng);

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    激光干涉儀檢測(cè)機(jī)床的方法(以線性檢測(cè)為例)1.進(jìn)行線性測(cè)量的一般步驟(1)安裝設(shè)置激光干涉儀(2)將激光束與被測(cè)量的軸校準(zhǔn)(3)啟動(dòng)測(cè)量軟件,并輸入相關(guān)參數(shù)(如材料膨脹系數(shù))。(4)在機(jī)床上輸入測(cè)量程序,啟動(dòng)干涉儀測(cè)量,并記錄數(shù)據(jù)。(5)用測(cè)量軟件分析測(cè)量數(shù)據(jù),生產(chǎn)補(bǔ)償文件。線性測(cè)量應(yīng)用2.光束快速準(zhǔn)直步驟(1)沿著運(yùn)動(dòng)軸將反射鏡與干涉鏡分開。(2)移動(dòng)機(jī)床工作臺(tái),當(dāng)光束離開光靶外圓時(shí)停止移動(dòng),垂
  • 白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀):揭秘測(cè)量坑的形貌的利器!2023-10-26 10:47

    SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來提高測(cè)量的精度和效率,揭秘并測(cè)量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持。
  • 納米級(jí)測(cè)量儀器:窺探微觀世界的利器2023-10-11 13:49

    納米級(jí)測(cè)量儀器在納米科技研究領(lǐng)域中扮演著重要的角色。通過共聚焦顯微鏡、光學(xué)輪廓儀等的運(yùn)用,科研人員們能夠更加深入地了解納米世界的奧秘。
  • 微納共聚焦顯微鏡:檢測(cè)摩擦學(xué)研究的重難點(diǎn)2023-09-22 09:13

    針對(duì)磨損區(qū)域較大、坡度也較為陡峭的生物摩擦和流體摩擦領(lǐng)域,采用中圖VT6000系列共聚焦顯微鏡更加匹配,其遠(yuǎn)勝于光學(xué)3D表面輪廓儀的大角度測(cè)量能力和超景深觀察功能,能夠輕松勝任磨損較為嚴(yán)重的表面形貌檢測(cè),從而幫助研究人員更加精準(zhǔn)的掌握磨損量評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)。
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  • 先進(jìn)封裝廠關(guān)于Bump尺寸的管控2023-09-06 14:26

    BumpMetrologysystem—BOKI_1000在半導(dǎo)體行業(yè)中,Bump、RDL、TSV、Wafer合稱先進(jìn)封裝的四要素,其中Bump起著界面互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用。Bump是一種金屬凸點(diǎn),從倒裝焊FlipChip出現(xiàn)就開始普遍應(yīng)用,Bump的形狀有多種,常見的為球狀和柱狀,也有塊狀等其他形狀,下圖所示為各種類型的Bump。Bump起著界面之間的電氣互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用,從Bondwire
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