高速誤碼率測(cè)量 集成、校準(zhǔn)的應(yīng)力生成 -正弦抖動(dòng)至80 MHz -隨機(jī)抖動(dòng) -有界、不相關(guān)的抖動(dòng) -正弦干擾 XFP/XFI、OIF/CEI、光纖通道、串行ATA IO的電應(yīng)力眼測(cè)試 針對(duì)10 GbE、1、2、4和(將來)8x光纖通道、1 GbE的光學(xué)壓力眼測(cè)試 具有誤碼率相關(guān)性的集成眼圖分析 物理層測(cè)試套件，包括屏蔽測(cè)試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓和Q因子分析 按照最新標(biāo)準(zhǔn)(包括XFP/XFI和OIF-CE)的要求，按照BER 10-12進(jìn)行掩模性能評(píng)估的符合性輪廓測(cè)試 雙分析器誤差分析 -模式敏感度分析 -用于周期性抖動(dòng)識(shí)別的無誤差區(qū)間分析
--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 臺(tái) 1
--- 產(chǎn)品詳情 ---
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