雙單色光學系統

分光光度計，是將白光用光譜元件（如棱鏡和衍射光柵）分成單色光然后照射到樣品上，通過檢測透射光和反射光來測量材料?的光學特性。應用領域包括材料、環境、制藥和生物技術等學術和工業領域，根據其應用和要求精度的差異，已經開發了各種設備。

大的分類有兩種設備，單光束和雙光束設備。其中雙光束型分光光度計由于具有高穩定性，深受廣大用戶的青睞。在雙光束中，有搭載單個光譜元件的單單色器型設備，也有搭載兩個光譜元件的雙單色器型設備。

雙單色器型設備雜散光較少，更適合要求高精度的光學薄膜的光譜特性測定。另外，根據可檢測的波長范圍分為紫外可見分光光度計（一般為190nm～900nm）、紫外可見近紅外分光光度計（一般為190nm～3,300nm）。作為光學材料特性評價裝置的UH4150AD+ 屬于雙光束、雙單色器型紫外可見近紅外分光光度計。

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平行光束

分光光度計能夠獲得不同波長下的透過率和反射率光譜。反射測定分為適應入射角的正反射、擴散反射（漫反射）、及包括正反射和擴散反射的全反射，光學材料由于樣品表面為鏡面，具有適應入射角的光學功能，因此用到的正反射測定相對較多。

在測定固體樣品的正反射時，入射角很重要。對于聚集光束，入射角會隨焦距的變化而變化，從而造成導電多層膜和棱鏡等光學薄膜預測值和實際值產生差異。

對于平行光束，所有樣品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度測定正反射。

另外，平行光束對于擴散性評價（霧度）、鏡頭透過率測定也是有效的。UH4150系列可實現無限接近平行的入射光，可實現高精度測量。

01支持近紅外區域的測光范圍 7Abs

用于最新相機和傳感器的帶通濾波器含有遮光性能低于 6 Abs(透射率0.0001%)至7Abs(透射率 0.00001%)的光學薄膜。 該產品通過改進低透射率測光時的信號處理，支持近紅外區域的透射率為之前的1/100的7 Abs 的測光范圍。使得即使在以前無法測量的近紅外區域的微弱透射率條件下也能進行高精度測量。

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配備新的高靈敏度冷卻型InGaAs半導體檢測器

本次的新產品安裝了更靈敏的冷卻型InGaAs*3半導體檢測器。與之前的型號*4相比，在低透射率下實現有效的低噪聲測量，從而能夠獲得更準確的測量數據。

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多功能掃描提高處理能力

測定僅傳輸特定波長并切割不需要的波長范圍的帶通濾光片時，由于濾光片包含了高透過率和低透過率的波長范圍，學者們一直都是按照低透過率的掃描速度進行全部波長范圍的掃描，所以花費時間較長。

現在，通過搭載新的多掃描功能，每次的測定可以根據不同的波長范圍分別設定掃描速度等測試條件。（如下圖）為多掃描功能的設定畫面和測試結果。按照透過率變化的5個波長范圍進行了測定條件的設定。之前需要15分鐘的檢測通過多掃描功能只需要6分半就能完成，大大縮減了檢測時間。