--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 臺 1
--- 產(chǎn)品詳情 ---
日本santec多端口光功率計MPM-210H
MPM-210H / MPM-211、212、213、215
多端口光器件光學(xué)特性的高速測量
可進行高速測量(每個端口最多 100 萬個記錄點)
一臺設(shè)備最多可測量20個端口(可同時使用多臺設(shè)備)
功率計模塊 (MPM-211 / 212/215)
電流表模塊 (MPM-213)
MPM-210H 非常適合對多端口光學(xué)組件(例如波長選擇開關(guān) (WSS) 和 AWG 模塊)進行插入損耗和 WDL/PDL 測量。通過與配備功率監(jiān)視器輸出的可調(diào)光源(TSL 系列)組合,可以實時消除光源的光輸出波動,并進行高精度的損耗測量。
有關(guān)光學(xué)表征系統(tǒng)的更多信息,請參閱掃描測試系統(tǒng) 。
特征
高速測量
每個
端口最多可進行 100 萬點的記錄采樣 每個端口配備兩個存儲器,即使在記錄期間也可以讀取
最高 100 kHz 的高速采樣是可能的
高動態(tài)范圍
-80 ~ + 10dBm (MPM-211 / 212)
-70 ~ + 5dBm (MPM-215)
高動態(tài)范圍(在記錄模式下)
50dB / 掃描 (MPM-211 / 212)
70dB / 掃描 (MPM-215)
電流表模塊 (MPM-213)
輸入功率范圍 --70 至 + 10 dBmA
配備模擬輸出(MPM-212)
最多可安裝5個模塊(最多可同時測量20個端口)
波長范圍 1250-1650 nm
MPM-210H 是 MPM-210 的向上兼容型號
運用
光功率測量
IL/WDL/PDL 測量(掃頻測試系統(tǒng))
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