良好的開(kāi)關(guān)電源必須符合所有功能規(guī)格、保護(hù)特性、安全規(guī)范（如UL、CSA、VDE、DEMKO、SEMKO，長(zhǎng)城等等之耐壓、抗燃、漏電流、接地等安全規(guī)格）、電磁兼容能力（如FCC、CE等之傳導(dǎo)與幅射干擾）、可靠性（如老化壽命測(cè)試）、及其他特定需求等。

　　開(kāi)關(guān)電源包括下列之型式：

　　·AC-DC：如個(gè)人用、家用、辦公室用、工業(yè)用（電腦、周邊、傳真機(jī)、充電器）

　　·DC-DC：如可攜帶式產(chǎn)品（移動(dòng)電話、筆計(jì)本電腦、攝影機(jī)，通信交換機(jī)二次電源）

　　·DC-AC：如車(chē)用轉(zhuǎn)換器（12V～115/230V） 、通信交換機(jī)振鈴信號(hào)電源

　　·AC-AC：如交流電源變壓器、變頻器、UPS不間斷電源

　　開(kāi)關(guān)電源的設(shè)計(jì)、制造及品質(zhì)管理等測(cè)試需要精密的電子儀器設(shè)備來(lái)模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)之各項(xiàng)特性（亦即為各項(xiàng)規(guī)格），并驗(yàn)證能否通過(guò)。開(kāi)關(guān)電源有許多不同的組成結(jié)構(gòu)（單輸出、多輸出、及正負(fù)極性等）和輸出電壓、電流、功率之組合，因此需要具彈性多樣化的測(cè)試儀器才能符合眾多不同規(guī)格之需求。

　　電氣性能（Electrical Specifications）測(cè)試

　　當(dāng)驗(yàn)證電源供應(yīng)器的品質(zhì)時(shí)，下列為一般的功能性測(cè)試項(xiàng)目，詳細(xì)說(shuō)明如下：

　　*功能（Functions）測(cè)試：

　　·輸出電壓調(diào)整（Hold-on Voltage Adjust）

　　·電源調(diào)整率（Line Regulation）

　　·負(fù)載調(diào)整率（Load Regulation）

　　·綜合調(diào)整率（Combine Regulation）

　　·輸出漣波及雜訊（Output Ripple & Noise， RARD）

　　·輸入功率及效率（Input Power， Efficiency）

　　·動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載（Dynamic or Transient Response）

　　·電源良好/失效（Power Good/Fail）時(shí)間

　　·起動(dòng)（Set-Up）及保持（Hold-Up）時(shí)間

　　*保護(hù)動(dòng)作（Protections）測(cè)試：

　　·過(guò)電壓保護(hù)（OVP， Over Voltage Protection）

　　·短路保護(hù)（Short）

　　·過(guò)電流保護(hù)（OCP， Over Current Protection）

　　·過(guò)功率保護(hù)（OPP， Over Power Protection）

　　*安全（Safety）規(guī)格測(cè)試：

　　·輸入電流、漏電電流等

　　·耐壓絕緣： 電源輸入對(duì)地，電源輸出對(duì)地；電路板線路須有安全間距。

　　·溫度抗燃：零組件需具備抗燃之安全規(guī)格，工作溫度須於安全規(guī)格內(nèi)。

　　·機(jī)殼接地：需於0.1歐姆以下，以避免漏電觸電之危險(xiǎn)。

　　·變壓輸出特性：開(kāi)路、短路及最大伏安（VA）輸出

　　·異常測(cè)試：散熱風(fēng)扇停轉(zhuǎn)、電壓選擇開(kāi)關(guān)設(shè)定錯(cuò)誤

　　*電磁兼容（Electromagnetic Compliance）測(cè)試：

　　電源供應(yīng)器需符合CISPR 22、CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度，電源供應(yīng)器需在以下三種負(fù)載狀況下測(cè)試：

　　每個(gè)輸出為空載、每個(gè)輸出為50%負(fù)載、每個(gè)輸出為100%負(fù)載。

　　·傳導(dǎo)干擾/免疫：經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/免疫

　　·幅射干擾/免疫：經(jīng)由磁場(chǎng)之幅射性干擾/免疫

　　*可靠性（Reliability）測(cè)試：

　　老化壽命測(cè)試：高溫（約50-60度）及長(zhǎng)時(shí)間（約8-24小時(shí)）滿載測(cè)試。

　　*其他測(cè)試：

　　·ESD：Electrostatic Discharge靜電放電（人或物體經(jīng)由直接接觸或間隔放電引起）在2-15KV之ESD脈波下，

　　待測(cè)物之每個(gè)表面區(qū)域應(yīng)執(zhí)行連續(xù)20次的靜電放電測(cè)試，電源供應(yīng)器之輸出需繼續(xù)工作而不會(huì)產(chǎn)生突波（Glitch）

　　或中斷（Interrupt），直接ESD接觸時(shí)不應(yīng)造成過(guò)激（Overshoot）或欠激（Undershoot）之超過(guò)穩(wěn)壓范圍的狀況、及過(guò)電壓保護(hù)（OVP）、過(guò)電流保護(hù)（OCP）等。另外，於ESD放電電壓在高達(dá)25KV下，應(yīng)不致造成元件故障（Failure）。

　　·EFT：Electrical Fast Transient or burst一串切換雜訊經(jīng)由電源線或I/O線路之傳導(dǎo)性干擾（由供電或建筑物內(nèi)引起）。

　　·Surge：經(jīng)由電源線之高能量暫態(tài)雜訊干擾（電燈之閃動(dòng)引起）。

　　·VD/I：Dips and Interrupts電源電壓下降或中斷（電力分配系統(tǒng)之故障或失誤所引起，例如供電過(guò)載或空氣開(kāi)關(guān)跳動(dòng)所引起）

　　·Inrush： 開(kāi)機(jī)輸入沖擊電流，開(kāi)關(guān)電源對(duì)供電系統(tǒng)的影響

　　常規(guī)功能（Functions）測(cè)試

　　輸出電壓調(diào)整：

　　當(dāng)制造開(kāi)關(guān)電源時(shí)，第一個(gè)測(cè)試步驟為將輸出電壓調(diào)整至規(guī)格范圍內(nèi)。此步驟完成后才能確保后續(xù)的規(guī)格能夠符合。 通常，當(dāng)調(diào)整輸出電壓時(shí)，將輸入交流電壓設(shè)定為正常值（115Vac或230Vac），并且將輸出電流設(shè)定為正常值或滿載電流，然後以數(shù)字電壓表測(cè)量電源供應(yīng)器的輸出電壓值并調(diào)整其電位器（VR）直到電壓讀值位於要求之范圍內(nèi)。

　　電源調(diào)整率：

　　電源調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器於輸入電壓變化時(shí)提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。此項(xiàng)測(cè)試系用來(lái)驗(yàn)證電源供應(yīng)器在最?lèi)毫又娫措妷涵h(huán)境下，如夏天之中午（因氣溫高，用電需求量最大）其電源電壓最低；又如冬天之晚上（因氣溫低，用電需求量最小）其電源電壓最高。在前述之兩個(gè)極端下驗(yàn)證電源供應(yīng)器之輸出電源之穩(wěn)定度是否合乎需求之規(guī)格。

　　為精確測(cè)量電源調(diào)整率，需要下列之設(shè)備：

　　·能提供可變電壓能力的電源，至少能提供待測(cè)電源供應(yīng)器的最低到最高之輸入電壓范圍。

　　·一個(gè)均方根值交流電壓表來(lái)測(cè)量輸入電源電壓，眾多的數(shù)字功率計(jì)能精確計(jì)量V A W PF。

　　·一個(gè)精密直流電壓表，具備至少高於待測(cè)物調(diào)整率十倍以上，一般應(yīng)用5位以上高精度數(shù)字表。

　　·連接至待測(cè)物輸出的可變電子負(fù)載。

　　*測(cè)試步驟如下：於待測(cè)電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定後，分別於低輸入電壓（Min），正常輸入電壓（Normal），及高輸入電壓（Max）下測(cè)量并記錄其輸出電壓值。

　　電源調(diào)整率通常以一正常之固定負(fù)載（Nominal Load）下，由輸入電壓變化所造成其輸出電壓偏差率（deviation）的百分比，如下列公式所示：

　　V0（max）-V0（min） / V0（normal）

　　電源調(diào)整率亦可用下列方式表示之：於輸入電壓變化下，其輸出電壓之偏差量須於規(guī)定之上下限范圍內(nèi)，即輸出電壓之上下限絕對(duì)值以內(nèi)。

　　負(fù)載調(diào)整率：

　　負(fù)載調(diào)整率的定義為開(kāi)關(guān)電源於輸出負(fù)載電流變化時(shí)，提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。此項(xiàng)測(cè)試系用來(lái)驗(yàn)證電源在最?lèi)毫又?fù)載環(huán)境下，如個(gè)人電腦內(nèi)裝置最少之外設(shè)卡且硬盤(pán)均不動(dòng)作（因負(fù)載最少，用電需求量最小）其負(fù)載電流最低和個(gè)人電腦內(nèi)裝置最多之外設(shè)卡且硬盤(pán)在動(dòng)作（因負(fù)載最多，用電需求量最大）其負(fù)載電流最高的兩個(gè)極端下驗(yàn)證電源供應(yīng)器之輸出電源之穩(wěn)定度是否合乎需求之規(guī)格。

　　*所需的設(shè)備和連接與電源調(diào)整率相似，唯一不同的是需要精密的電流表與待測(cè)電源供應(yīng)器的輸出串聯(lián)。示：

　　測(cè)試步驟如下：於待測(cè)電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定後，測(cè)量正常負(fù)載下之輸出電壓值，再分別於輕載（Min）、重載（Max）負(fù)載下，測(cè)量并記錄其輸出電壓值（分別為Vmax與Vmin），負(fù)載調(diào)整率通常以正常之固定輸入電壓下，由負(fù)載電流變化所造成其輸出電壓偏差率的百分比，如下列公式所示：

　　V0（max）-V0（min） / V0（normal）

　　負(fù)載調(diào)整率亦可用下列方式表示：於輸出負(fù)載電流變化下，其輸出電壓之偏差量須於規(guī)定之

　　上下限電壓范圍內(nèi)，即輸出電壓之上下限絕對(duì)值以內(nèi)。

　　綜合調(diào)整率：

　　綜合調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器於輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化時(shí)，提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。這是電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合，此項(xiàng)測(cè)試系為上述電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合，可提供對(duì)電源供應(yīng)器於改變輸入電壓與負(fù)載狀況下更正確的性能驗(yàn)證。 綜合調(diào)整率用下列方式表示：於輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化下，其輸出電壓之偏差量須於規(guī)定之上下限電壓范圍內(nèi)（即輸出電壓之上下限絕對(duì)值以內(nèi)）或某一百分比界限內(nèi)。

　　輸出雜訊（PARD）：

　　輸出雜訊（PARD）系指於輸入電壓與輸出負(fù)載電流均不變的情況下，其平均直流輸出電壓上的周期性與隨機(jī)性偏差量的電壓值。輸出雜訊是表示在經(jīng)過(guò)穩(wěn)壓及濾波後的直流輸出電壓上所有不需要的交流和噪聲部份（包含低頻之50/60Hz電源倍頻信號(hào)、高於20 KHz之高頻切換信號(hào)及其諧波，再與其他之隨機(jī)性信號(hào)所組成）），通常以mVp-p峰對(duì)峰值電壓為單位來(lái)表示。 一般的開(kāi)關(guān)電源的規(guī)格均以輸出直流輸出電壓的1%以內(nèi)為輸出雜訊之規(guī)格，其頻寬為20Hz到20MHz（或其他更高之頻寬如100MHz等）。 開(kāi)關(guān)電源實(shí)際工作時(shí)最?lèi)毫拥臓顩r（如輸出負(fù)載電流最大、輸入電源電壓最低等），若電源供應(yīng)器在惡劣環(huán)境狀況下，其輸出直流電壓加上雜訊後之輸出瞬時(shí)電壓，仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不超過(guò)輸出高低電壓界限情形，否則將可能會(huì)導(dǎo)致電源電壓超過(guò)或低於邏輯電路（如TTL電路）之承受電源電壓而誤動(dòng)作，進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。

　　例如5V輸出，其輸出雜訊要求為50mV以內(nèi)（此時(shí)包含電源調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、動(dòng)態(tài)負(fù)載等其他所有變動(dòng)，其輸出瞬時(shí)電壓應(yīng)介於4.75V至5.25V之間，才不致引起TTL邏輯電路之誤動(dòng)作）。在測(cè)量輸出雜訊時(shí)，電子負(fù)載的PARD必須比待測(cè)之電源供應(yīng)器的PARD值為低，才不會(huì)影響輸出雜訊之測(cè)量。同時(shí)測(cè)量電路必須有良好的隔離處理及阻抗匹配，為避免導(dǎo)線上產(chǎn)生不必要的干擾、振鈴和駐波，一般都采用雙同軸電纜并以50Ω於其端點(diǎn)上，并使用差動(dòng)式量測(cè)方法（可避免地回路之雜訊電流），來(lái)獲得正確的測(cè)量結(jié)果。

　　輸入功率與效率：

　　電源供應(yīng)器的輸入功率之定義為以下之公式：

　　True Power = Pav（watt） = V1 Ai dt = Vrms x Arms x Power Factor

　　即為對(duì)一周期內(nèi)其輸入電壓與電流乘積之積分值，需注意的是Watt≠VrmsArms而是Watt=VrmsArmsxP.F.，其中P.F.為功率因素（Power Factor），通常電源供應(yīng)器的功率因素在0.6～0.7左右，而大功率之電源供應(yīng)器具備功率因素校正器者，其功率因素通常大於0.95，當(dāng)輸入電流波形與電壓波形完全相同時(shí)，功率因素為1，并依其不相同之程度，其功率因素為1～0之間。

　　電源供應(yīng)器的效率之定義為：

　　ΣVout x lout / True Power （watts）

　　即為輸出直流功率之總和與輸入功率之比值。通常個(gè)人電腦用電源供應(yīng)器之效率為65%～80%左右。效率提供對(duì)電源供應(yīng)器正確工作的驗(yàn)證，若效率超過(guò)規(guī)定范圍，即表示設(shè)計(jì)或零件材料上有問(wèn)題，效率太低時(shí)會(huì)導(dǎo)致散熱增加而影響其使用壽命。 由於近年來(lái)對(duì)於環(huán)保及

　　能源消耗愈來(lái)愈重視，如電腦能源之星「Energy Star」對(duì)開(kāi)關(guān)電源之要求：於交流輸入功率為30Wrms時(shí)，其效率需為60%以上（即此時(shí)直流輸出功率必須高於18W）；又對(duì)於ATX架構(gòu)開(kāi)關(guān)電源於直流失能（DC Disable）狀態(tài)其輸入功率應(yīng)不大於5W。因此交流功率測(cè)試儀表需要既精確又范圍寬廣，才能合乎此項(xiàng)測(cè)試之需求。

　　動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載

　　一個(gè)定電壓輸出的電源，於設(shè)計(jì)中具備反饋控制回路，能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由於實(shí)際上反饋控制回路有一定的頻寬，因此限制了電源供應(yīng)器對(duì)負(fù)載電流變化時(shí)的反應(yīng)。若控制回路輸入與輸出之相移於增益（Unity Gain）為1時(shí)，超過(guò)180度，則電源供應(yīng)器之輸出便會(huì)呈現(xiàn)不穩(wěn)定、失控或振蕩之現(xiàn)象。實(shí)際上，電源供應(yīng)器工作時(shí)的負(fù)

　　載電流也是動(dòng)態(tài)變化的，而不是始終維持不變（例如硬盤(pán)、軟驅(qū)、CPU或RAM動(dòng)作等），因此動(dòng)態(tài)負(fù)載測(cè)試對(duì)電源供應(yīng)器而言是極為重要的。可編程序電子負(fù)載可用來(lái)模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)最?lèi)毫拥呢?fù)載情況，如負(fù)載電流迅速上升、下降之斜率、周期等，若電源供應(yīng)器在惡劣負(fù)載狀況下，仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過(guò)高激（Overshoot）或過(guò)低（Undershoot）情形，否則會(huì)導(dǎo)致電源之輸出電壓超過(guò)負(fù)載元件（如TTL電路其輸出瞬時(shí)電壓應(yīng)介於4.75V至5.25V之間，才不致引起TTL邏輯電路之誤動(dòng)作）之承受電源電壓而誤動(dòng)作，進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。

　　電源良好/失效時(shí)間（Power Good、Power Fail或Pok）

　　電源良好信號(hào)，簡(jiǎn)稱PGS（Power Good Signal或Pok High），是電源送往電腦系統(tǒng)的信號(hào)，當(dāng)其輸出電壓穩(wěn)定後，通知電腦系統(tǒng)，以便做開(kāi)機(jī)程序之 C 而電源失效信號(hào)（Power Fail或Pok Low）是電源供應(yīng)器表示其輸出電壓尚未達(dá)到或下降超過(guò)於一正常工作之情況。 以上通常由一「PGS」或「Pok」信號(hào)之邏輯改變來(lái)表示，邏輯為「1或High」時(shí)，表示為電源良好（Power Good），而邏輯為「0或Low」時(shí)，表示為電源失效（Power Fail），請(qǐng)叁考圖5之時(shí)序圖：

　　電源的電源良好（Power Good）時(shí)間為從其輸出電壓穩(wěn)定時(shí)起到PGS信號(hào)由0變?yōu)?的時(shí)間，一般值為100ms到2000ms之間。 電源的電源失效（Power Fail）時(shí)間為從PGS信號(hào)由由1變?yōu)?的時(shí)間起到其輸出電壓低於穩(wěn)壓范圍的時(shí)間，一般值為1ms以上。的電子負(fù)載可直接測(cè)量電源良好與電源失效時(shí)間，并可設(shè)定上下限，做為是否合格的判別。

　　啟動(dòng)時(shí)間（Set-Up Time）與保持時(shí)間（Hold-Up Time）

　　啟動(dòng)時(shí)間為電源供應(yīng)器從輸入接上電源起到其輸出電壓上升到穩(wěn)壓范圍內(nèi)為止的時(shí)間，以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例，啟動(dòng)時(shí)間為從電源開(kāi)機(jī)起到輸出電壓達(dá)到4.75V為止的時(shí)間。

　　保持時(shí)間為電源供應(yīng)器從輸入切斷電源起到其輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時(shí)間，以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例，保持時(shí)間為從關(guān)機(jī)起到輸出電壓低於4.75V為止的時(shí)間，

　　一般值為17ms或20ms以上，以避免電力公司供電中於少了半周或一周之狀況下而受影響。

　　其他

　　·Power Up delay：+5/3.3V 的上升時(shí)間（由10%上升到90%電壓之時(shí)間）

　　·Remote ON/OFF Control：遙控「開(kāi)」或「關(guān)」之控制

　　·Fan Speed Control/Monitor：散熱風(fēng)扇之轉(zhuǎn)速「控制」及「監(jiān)視」

　　保護(hù)功能測(cè)試

　　過(guò)電壓保護(hù)（OVP）測(cè)試

　　當(dāng)電源供應(yīng)器的輸出電壓超過(guò)其最大的限定電壓時(shí)，會(huì)將其輸出關(guān)閉（Shutdown）以避免損壞負(fù)載之電路元件，稱為過(guò)電壓保護(hù)。過(guò)電壓保護(hù)測(cè)試系用來(lái)驗(yàn)證電源供應(yīng)器當(dāng)出現(xiàn)上述異常狀況時(shí)（當(dāng)電源供應(yīng)器內(nèi)部之回授控制電路或零件損壞時(shí)，有可能產(chǎn)生異常之輸出高電

　　壓），能否正確地反應(yīng)。 過(guò)電壓保護(hù)功能對(duì)於一些對(duì)電壓敏感的負(fù)載特別重要，如CPU、記憶體、邏輯電路等，因?yàn)檫@些貴重元件若因工作電壓太高，超過(guò)其額定值時(shí)，會(huì)導(dǎo)致永久性的損壞，因而損失慘重。電源供應(yīng)器於過(guò)電壓情形發(fā)生時(shí)，其輸出電壓波形如圖7所示。

　　短路保護(hù)測(cè)試

　　當(dāng)電源供應(yīng)器的輸出短路時(shí)，則電源供應(yīng)器應(yīng)該限制其輸出電流或關(guān)閉其輸出，以避免損壞。短路保護(hù)測(cè)試是驗(yàn)證當(dāng)輸出短路時(shí)（可能是配線連接錯(cuò)誤，或使用電源之元件或零組件故障短路所致），電源供應(yīng)器能否正確地反應(yīng)。

　　過(guò)電流保護(hù)OCP測(cè)試

　　當(dāng)電源供應(yīng)器的輸出電流超過(guò)額定時(shí)，則電源供應(yīng)器應(yīng)該限制其輸出電流或關(guān)閉其輸出，以避免負(fù)載電流過(guò)大而損壞。又若電源供應(yīng)器之內(nèi)部零件損壞而造成較正常大的負(fù)載電流時(shí)，則電源供應(yīng)器也應(yīng)該關(guān)閉或限制其輸出，以避免損壞或發(fā)生危險(xiǎn)。過(guò)電流保護(hù)測(cè)試是驗(yàn)證當(dāng)上述任一種狀況發(fā)生時(shí)，電源供應(yīng)器能否正確地反應(yīng)。

　　過(guò)功率保護(hù)OPP測(cè)試

　　當(dāng)電源的輸出功率（可為單一輸出或多組輸出）超過(guò)額定時(shí)，則電源應(yīng)該限制其輸出功率或關(guān)閉其輸出，以避免負(fù)載功率過(guò)大而損壞或發(fā)生危險(xiǎn)。又若電源內(nèi)部零件損壞而造成較正常大的負(fù)載功率時(shí)，則電源也應(yīng)該關(guān)閉或限制其輸出，以避免損壞。 過(guò)功率保護(hù)測(cè)試是驗(yàn)證當(dāng)上述任一種狀況發(fā)生時(shí)，電源能否正確地反應(yīng)。 本項(xiàng)測(cè)試通常包含兩組或數(shù)組輸出功率之功率限制保護(hù)，因此較上述單一輸出之保護(hù)測(cè)試（OVP、OCP、Short等）稍具變化。