FOOT CYLINDRICAL 1.57" DIA BLACK
1970-01-01 08:00:00
Introduction Atomic Force Microscopy (AFM) is a powerful, non-destructive technique that can
2010-08-11 09:12:00
8 Ever since its invention, atomic force microscopy (AFM) has revolutionized the field of interfacial
2010-08-02 11:56:237 ; Atomic-resolution imaging of a small sample area using AFM or STM scanners• Allows simple point-and-shoot AFM i
2010-08-09 10:40:1914 OverviewThe Agilent 5400 SPM/AFM is a high-precision instrument engineered to provide ease of use
2010-07-30 22:09:4214 電子發燒友網為你提供Maxim(Maxim)MAX14915AFM+T相關產品參數、數據手冊，更有MAX14915AFM+T的引腳圖、接線圖、封裝手冊、中文資料、英文資料，MAX14915AFM+T真值表，MAX14915AFM+T管腳等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2023-02-09 19:59:41
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2023-02-09 19:45:47
顯微鏡的STM原理與AFM工作原理
STM概述
1982年，國際商業機器公司蘇黎世實驗室的G..Binnig和HeinrichRohrer及其同事們共同研
2009-11-18 09:47:17
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high-resolution atomic force micro-scope (AFM) with the direct optical view-ing capability of an inverted optical micro-
2010-08-01 12:38:458 電子發燒友網為你提供Maxim(Maxim)MAX14916AFM+相關產品參數、數據手冊，更有MAX14916AFM+的引腳圖、接線圖、封裝手冊、中文資料、英文資料，MAX14916AFM+真值表，MAX14916AFM+管腳等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2023-02-09 19:46:27
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2023-02-09 19:41:09
膠體、聚合物、凝膠、乳液和液晶等軟材料廣泛用于各種科學和工業應用。原子力顯微鏡(AFM)具有很高的力分辨率，長期以來一直用于軟材料的力學性能分析。
2022-04-06 11:48:541670 AFM 是利用原于問力測定試料表面狀志的高新技術 如果用銳利的探針接近試料表面就會象圖t所示·最韌出現引力- 而后出現斥力， 這兩種力統稱為原子間力 其中的斥力， 對
2010-09-02 15:28:4130 AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環節上提供全自動操作平臺。新開發的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量
2022-08-11 19:31:30
原子力顯微鏡（AFM）是唯一的一種能夠在空氣、真空或者兩者間緩沖環境下提供亞納米級別分辨率影像的一種顯微技術。這個強大的顯微鏡技術能夠幫助研究人員觀察原子，獲取前所未有的原子級別的影響，幫助
2017-02-08 20:19:32555 AFM3020氣體流量采集傳感器驅動程序+數據手冊。內含完整項目STM32F103程序，采集的數據通過IIC屏幕顯示出來。
2022-06-08 09:45:259 AFM控制器是一種全數字化且結構緊湊的新一代直流調速裝置，整個控制器的控制與調節全部是由32位微處理器來完成。裝置本身具有完善的故障診斷及報警功能，可以完成對被控功率橋功率元器件的檢測及脈沖電纜
2021-03-26 09:03:011626 
Introduction DNA microarrays have proven to be invaluable tools in both clinical and research settings for gene expression analysis, genotyping and to identify mutants in cell populations or tissue samples because t
2010-08-10 11:29:296 IntroductionAFM probes can be transformed into sensitive, chemically selective biosensors by attaching ligand molecules to the tips of the probes. Single-molecule molecular recognition force microscopy (MRFM) is an
2010-08-05 09:25:483 Nanotechnology focuses on low-cost, high-throughput, directed synthesis of structures and devices at the nanoscale in order to address the requirements of a variety of applications. Microelectronics, for instance, offer
2010-08-04 13:54:218 依賴于使用原子力顯微鏡(AFM)進行納米切割技術的控制原理，可用于制造具有幾微米數量級的恒定切割深度的凹槽。線性位移傳感器、反饋控制系統和壓電致動器一起運行，可以在加工過程中保持恒定的法向切削力
2023-03-29 16:24:52271 
Features and Benefits • Scientifi c-grade instrument delivers atomic resolution • New design provides improved performance • New electronics and techniques offer high-resolution KFM/EFM
2010-08-12 09:58:159 Features and Benefits• Highly modular system affords utmost fl exibility• Unrivaled environmental and temperature control• Superior scanning in fl uids, gases, or ambient conditions
2010-08-02 11:26:4624 Features and Benefits•High-performance atomic forcemicroscope designed for multi-ple-user labs and educationalenvironments•Cost-effective, modular solutionoffers easy upgrade path•Single multip
2010-08-01 13:06:3712 Atomic Force Spectroscopy (AFM) is a powerful technique that can be used to quantify the elastic
2010-08-11 09:08:268 IntroductionAtomic force microscopy (AFM) isa powerful characterization toolfor polymer science
2010-08-03 12:59:0511 High resolution images of pat-terned liquid surfaces have beenacquired without inducing eithercapillary wetting (“bridging”) orstrong perturbations of the liquidsurface profile. Using a 5500 AFMsystem with Mac M
2010-08-02 11:47:2411 當一束平行光束照射到具有周期性結構特征的物體時，便產生衍射現象。除零級衍射束外，還有各級衍射束，經過透鏡的聚焦作用，在其后焦面上形成衍射振幅的極大值，每一個振幅的極大值又可看作次級相干源，由它們發出次級波在像平面上相干成像。在透射電鏡中，用電子束代替平行入射光束，用薄膜狀的樣品代替周期性結構物體，就可重復以上衍射成像過程。
2019-01-22 17:23:068600
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