動態

• 發布了產品 2024-08-02 16:28

  半導體熱特性試驗系統

  

  產品型號：ST-PCX 主機規格：200/W*136/D*150/H（cm） 主機質量：＜600kg 水冷卻機：105/W*56/D*116/H（cm）

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• 發布了產品 2024-08-02 16:20

  二極管正向浪涌電流測試系統

  

  產品型號：ST-IFSM_X 電壓：3KV（可擴展4.5KV/6KV/8KV/10KV等） 電流：1KA（可擴展2KA/5KA/8KA/10KA等） 浪涌電流（IFSM）：200~10KA

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• 發布了產品 2024-08-02 16:17

  晶體管正向偏置安全工作區測試系統

  

  產品型號：ST-FBSOA_X ICE電流：0~1000A VCE電壓：0~100V VGE驅動電壓：0~30V

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• 發布了產品 2024-08-02 16:14

  大功率可控硅靜態動態參數綜合測試系統

  

  產品型號：SCRD8000 陽極電壓：12V 陽極串聯電阻：12Ω 門極觸發電壓：0.3—5.00V

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• 發布了產品 2024-08-02 15:17

  可控硅門極特性測試儀

  

  產品型號：SCRD12V 陽極電壓：12V 陽極串聯電阻：62 門極觸發電壓：0.30V~4.50V@0.01V@3%0.0

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• 發布了產品 2024-08-01 15:23

  IGBT模塊動態特性測試系統

  

  產品型號：STA3500 高壓源/VCC：1500V/3300V/5000V/10KV 高流源/IC：600A/1500A/3000A/6000A/ 短路電流/Isc：3000A/6000A/10KA（5-50

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• 發布了產品 2024-08-01 15:12

  晶體管動態特性測試系統

  

  產品型號：STA1200 型號：STA1200

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• 發布了產品 2024-08-01 15:00

  IGBT模塊直流參數測試系統STD6500

  

  產品型號：STD6500 型號：STD6500

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• 發布了產品 2024-08-01 14:56

  光耦參數測試儀

  

  產品型號：STO1400 型號：STO1400

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• 發布了產品 2024-08-01 14:53

  元器件靜態參數測試儀

  

  產品型號：STD1600 型號：STD1600

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