- GaN Systems提供RC熱阻模型,使客戶能夠使用SPICE進行詳細的熱模擬。
- 模型基于有限元分析(FEA)熱模擬創建,并已由GaN Systems驗證。
- 選擇了考爾(Cauer)模型,使客戶能夠通過添加界面材料和散熱片將其熱模型擴展到其系統中。
附詳細文檔免費下載:
*附件:基于RC熱阻SPICE模型的GaNPX?和PDFN封裝的熱特性建模.pdf
基于RC熱阻SPICE模型的GaNPX?和PDFN封裝的熱特性建模總結
一、概述
- ?目的?:提供RC熱阻模型,使客戶能夠使用SPICE進行詳細的熱仿真。
- ?模型基礎?:基于有限元分析(FEA)熱仿真創建,并經GaN Systems驗證。
- ?模型選擇?:采用考爾(Cauer)模型,允許客戶通過添加界面材料和散熱片來擴展熱模型至其系統。
- ?獲取途徑?:GaN Systems器件的RC熱阻模型可在數據表中獲取。
二、RC網絡定義
三、GaNPX?和PDFN封裝的RC模型結構
- ?GaNPX?封裝?:由4層材料構成,包括GaN層、Si層、附著層和Cu基層。各層熱阻和熱容根據公式計算得出。
- ?PDFN封裝?:熱阻網絡同樣由多層構成,重點優化焊盤與PCB之間的界面熱阻。
- ?模型應用?:考爾模型反映了設備的真實物理結構,允許添加額外的Rθ和Cθ來模擬熱界面材料(TIM)或散熱片。
四、如何在SPICE仿真中使用RC模型
- ?SPICE網表示例?: textCopy Code
Rth_1 T11 TJ {0.011} Cth_1 0 TJ {4.25e-5} Rth_2 T22 T11 {0.231} Cth_2 0 T11 {2.96e-3} ...
- ?連接?:將TC連接到等于外殼溫度的電壓源,讀取V(TJ)以測量結溫。
五、SPICE仿真示例
- ?驗證功能?:使用簡單的升壓轉換器電路驗證RC熱模型的功能。
- ?波形展示?:瞬態熱仿真顯示結溫和外殼溫度的時間常數。
- ?開關瞬態?:展示在開通和關斷期間,VDS、ID、TJ和外殼溫度的變化。
六、結論
- 通過FEA瞬態熱仿真和SPICE仿真之間的比較,驗證了RC熱阻模型的有效性。
- 提供了詳細的熱特性建模方法,有助于優化GaNPX?和PDFN封裝的熱設計。
此總結涵蓋了基于RC熱阻SPICE模型的GaNPX?和PDFN封裝的熱特性建模的關鍵信息,旨在為讀者提供一個清晰、有條理的框架,以理解和應用該文件中的知識。
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