導讀

1月11日至12日，備受矚目的后摩爾器件研討會在杭州順利召開。廣電計量作為唯一的第三方檢測機構受邀參會，并攜半導體全產業鏈綜合技術解決方案亮相。公司黨委副書記、總經理明志茂為大會優秀poster獲獎者頒獎。

活動由西安電子科技大學杭州研究院、北京大學、杭州電子科技大學聯合舉辦。多位院士聽取了多個國家級項目的匯報并進行了審核，圍繞后摩爾時代芯片領域的關鍵問題展開深入探討與交流。

“后摩爾時代新器件基礎研究”面向芯片自主發展的國家重大戰略需求，以芯片的基礎問題為核心，旨在發展后摩爾時代新器件和計算架構，突破芯片算力瓶頸，促進我國芯片研究水平的提升，支撐我國在芯片領域的發展與創新。

會議期間，來自清華大學、北京大學、中國科學院微電子研究所等院校的20多位專家學者，圍繞高能效的憶阻器存算一體芯片研究、突破異質集成的新材料和器件原理研究等項目進行匯報分享。經過專家組的嚴格評審，大會最終評選出15份優秀poster，并為其頒發榮譽證書。廣電計量黨委副書記、總經理明志茂與中科院院士楊德仁受邀共同為獲獎者頒獎。

明志茂表示，廣電計量是全國綜合實力領先的國有三方計量檢測上市集團公司，面向國家戰略性產業、國家科技創新、國家質量保障等方面積極開展布局，建有院士工作站、技術研究院，深度參與半導體全產業鏈建設，誠摯邀請各科研院所、高校專家聯合開展技術攻關，共同推動中國半導體產業高質量發展。

本次活動，廣電計量攜半導體綜合技術解決方案亮相，并發布廣電計量先進集成電路可靠性評價技術數智化項目，聯動高校、科研院所、企業等產業鏈各方力量，聚焦先進集成電路數字孿生建模、人工智能光模塊、宇航級芯片等方向的尖端領域聯合開展科研攻關，共同為半導體自主可控貢獻技術力量。

在半導體領域，廣電計量是全產業鏈一站式綜合技術解決方案提供商，聚焦高功率、高速度、高集成和高算力的先進半導體及超大規模集成電路國產自主可控需求，形成以博?、專家為核心的人才隊伍，打造8個專項實驗室及1個功能安全認證中心，構建性能功能測試、可靠性及失效機理分析評估、芯片設計與制程分析、質量等級認證、功能安全評估和量產與批產測試篩選等全棧式技術咨詢服務，可應用在集成電路設計、晶圓制造、封裝、元器件應用等全產業鏈環節。