前言
高速設(shè)計需要考慮很多因素,比如板材、疊層、傳輸線、串?dāng)_控制等等,在高帶寬場景中銅箔粗糙度是影響SI性能的關(guān)鍵因素之一。
銅箔介紹及粗糙度
銅箔介紹
銅箔是PCB主要金屬導(dǎo)電材料,銅箔表面并不理想光滑而是具有粗糙的結(jié)構(gòu),實際加工中有意粗糙化銅箔表面,以使銅箔在高溫和壓力下粘附到相鄰介質(zhì)上,高速信號就好像沿著銅箔表面高低起伏的連綿山丘傳輸一樣。銅箔光滑的一面稱為光面(Drum Side),另一面是粗糙面,稱為毛面(Matte Side)。
銅箔類型按照制作工藝可以分為電解銅箔和壓延銅箔,電解銅箔主要應(yīng)用硬線路板上。壓延銅箔主要用在對彎曲、拉伸強度有較高要求的撓性板上。
銅箔按性能大致有以下常見類型:
標(biāo)準(zhǔn)銅箔STD、高溫延伸性銅箔HTE、反轉(zhuǎn)銅箔RTF、低輪廓銅箔VLP、超低輪廓銅箔HVLP、超薄銅箔ULP。
趨膚效應(yīng)及粗糙度
趨膚效應(yīng)使高速信號電流呈現(xiàn)出向傳輸線表面集中的趨勢,如果趨膚深度比銅箔粗糙度小,則大部分電流將在銅箔的粗糙結(jié)構(gòu)中傳播,會導(dǎo)致串聯(lián)電阻和導(dǎo)體損耗增加,銅箔粗糙度如果沒有良好控制則會嚴重影響傳輸線阻抗和損耗,降低高速信號SI性能。
粗糙度量化指標(biāo)有多種形式,常見的有:
Ra:在取樣長度L內(nèi)輪廓偏距絕對值的算術(shù)平均值,適用于銅箔光面
Rz:在取樣長度內(nèi)5個最大的輪廓峰高的平均值與5個最大的輪廓谷深的平均值之和,適用于銅箔毛面
Rq:均方根值RMS
粗糙度模型
常見粗糙度模型有Hammerstad模型、Hemisphere模型以及Huray模型。
1、Hammerstad模型簡單,該模型是基于鋸齒形式同時假設(shè)信號沿著表面?zhèn)鞑ィ菍Ω叽植诙茹~箔擬合較差,在低頻段擬合較好。
2、Hemisphere模型在高頻段擬合較好,但是低頻段擬合較差。模型有三種建模方法(L1L2L3),區(qū)別在于模型精細化程度,以獲得不同的建模精度。
3、Huray模型使用雪球堆疊成金字塔型更接近實際情況,在整個頻段擬合較好。
huray模型有兩種建模方法:
a) Huray Snowball Surface Roughness Model:特點是雪球非均勻分布,需要獲取粗糙度因子the roughness factor 和雪球半徑ball radius詳細參數(shù)才能精確建模,這些參數(shù)不易從廠家獲取。
b)Cannonball-Huray Surface Roughness Model:可以看作簡化的hury模型,它的基本結(jié)構(gòu)是由14個雪球堆疊成一個三層金字塔,從bottom到top層依次有9、4和1個雪球均勻分布堆疊而成,根據(jù)廠家datasheet中的參數(shù)可以很容易完成建模。
使用SIDesigner進行
粗糙度建模及仿真分析
使用SIDesigner中的transmissionline控件,用戶可以為傳輸線建立粗糙度模型。如圖所示,有四種粗糙度模型可供選擇,即Hammerstad&Jensen、Multilevel Hemispherical、Hury Snowball和Simplified Hury Snowball。
基本操作步驟如下:
1、原理圖上放TML控件
2、打開TML編輯對話框,勾選粗糙度,打開粗糙度設(shè)置對話框
3、選擇粗糙度模型,進行相應(yīng)參數(shù)設(shè)置
4、點擊Analyze進行快速電氣特性分析,查看阻抗
5、點擊Calculation進行S參數(shù)掃描分析,輸出損耗波形
綜上可知,巨霖SIDesigner可以提供高速信號完整性解決方案,支撐客戶當(dāng)下和未來高速設(shè)計仿真需求。通過簡單易用的操作界面,用戶可以方便地進行銅箔粗糙度建模,快速評估銅箔粗糙度對傳輸線和系統(tǒng)SI的影響,提早發(fā)現(xiàn)設(shè)計隱患,可靠評估系統(tǒng)SI設(shè)計方案,為未來產(chǎn)品化落地打下堅實基礎(chǔ)。
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原文標(biāo)題:銅箔粗糙度及仿真應(yīng)用
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