Fahrettin Sarcan 教授是伊斯坦布爾大學理學院的杰出學者，擁有博士學位。他領導的研究小組專注于光電子學領域的多個重要方向，包括寬禁帶半導體的光電子應用、新型半導體材料的光學和電學性質，以及基于二維過渡金屬二硫化物的電子和光電子器件的缺陷工程。通過他的研究工作，Sarcan教授致力于推動新型材料在電子和光電子領域的應用，為該領域的科學和技術發展做出了重要貢獻。

聚焦離子束(FIB)是一種有效的工具，可用于精確的納米尺度加工。最近，它已被應用于定制功能性納米材料，如二維過渡金屬二硫化物(TMDCs)中的缺陷工程，為基于TMDCs的光電子器件提供理想的性能。然而，FIB輻照和銑削過程對這些細致、原子薄材料造成的損傷，尤其是超出FIB目標區域的擴展區域，尚未完全表征。了解側向離子束效應與二維TMDCs光學性質之間的相關性對于設計和制造高性能光電子器件至關重要。

Sarcan教授近期在Nature 2D Materials and Applications發表了文章《理解重離子的影響與使用聚焦離子束在加工大面積單層WS2時的精調其光學性質探究》 (Understanding the impact of heavy ions and tailoring the optical properties of large-area monolayer WS2 using focused ion beam)。Sarcan教授通過穩態光致發光(PL)和拉曼光譜對由鎵聚焦離子束銑削引起的大面積單層WS2的側向損傷進行了研究。通過對距離銑削位置遠的三個不同區域進行鑒定和表征，發現這三個區域的發射具有不同的波長和衰減壽命。同時，通過具有高空間分辨率的時間分辨PL光譜，Sarcan教授還發現了在銑削位置周圍出現的明亮的環形發射。Sarcan教授的研究結果為通過聚焦離子束光刻進行電荷和缺陷工程調節TMDCs的光學性質開辟了新的途徑。此外，該研究提供了證據，表明盡管一些局部損傷是不可避免的，但通過減小離子束電流可以消除遠距離的破壞。這為利用FIB在二維TMDCs中創建納米結構，以及設計和實現晶圓尺度上的光電子器件鋪平了道路。

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這篇開創性的研究論文使用了Teledyne Princeton Instruments(TPI)的推出的PyLoN系列液氮制冷相機，這款高性能科學級CCD相機專為科學研究和實驗室應用而設計。PyLoN相機采用先進的CCD傳感器和數字信號處理技術，能夠實現高分辨率、低噪音和快速的數據采集。其優化的設計使其在各種科學領域中得到廣泛應用，包括光譜學、光電子學、生物醫學和材料科學等。PyLoN系列相機提供了多種型號和配置選項，以滿足不同實驗需求，為用戶提供適配的解決方案。

這篇文章還使用了TPI的SpectroPro 2750系列光譜儀(現已升級為HRS-750系列)。該儀器采用先進且穩定的光學和機械設計，能夠實現出色的光譜分辨率和靈敏度。HRS-750具有極高的光譜分辨率，搭配不同的光柵及鍍膜時，可覆蓋從紫外到近紅外的多個波段。其靈活的配置選項使用戶能夠根據實驗需求選擇不同的入射和出射光路，以實現理想性能。除此之外，HRS-750還具有易于操作的特點，使其成為科學研究人員和工程師們理想的光譜分析工具。

審核編輯 黃宇